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其他產(chǎn)品及廠家

紅外線測溫儀TM-656科電儀器
小巧的tm-656測量范圍:-50~316℃,物距比:12:1,擁有極簡的操作,您只需使用一只手就可完成全部的操作應(yīng)用。tm-656在您無操作后6秒自動關(guān)機,方便省電。兩種溫度制式轉(zhuǎn)換,背光顯示,鐳射制式,這一切都為您的溫度測量工作帶來的享受。
更新時間:2025-02-18
紅外線測溫儀TM-643科電正品
經(jīng)濟型tm643紅外線測溫儀測量范圍:-32~760℃,物距比:12:1,為目前市面上價格最底的高品質(zhì)低端紅外測溫儀。 tm643紅外線測溫儀具有4位背光lcd顯示,激光瞄準,可自動關(guān)機。 接觸非接觸兩用。tm-643可連接熱電偶,為您實現(xiàn)接觸和非接觸雙重測量方式。
更新時間:2025-02-18
紅外線測溫儀TM-660科電正品
tm-660測量范圍:-50~999℃,物距比:12:1,在您無操作后6秒自動關(guān)機,方便省電。兩種溫度制式轉(zhuǎn)換,背光顯示,鐳射制式,這一切都為您的溫度測量工作帶來的享受。
更新時間:2025-02-18
紅外線測溫儀TM-672科電正品
tm-672紅外測溫儀測溫范圍:-32 ~ 1300℃,距離系數(shù):30:1近20年來,非接觸紅外測溫儀在技術(shù)上得到迅速發(fā)展,性能不斷完善,功能不斷增強,品種不斷增多,適用范圍也不斷擴大,市場占有率逐年增長。比起接觸式測溫方法,紅外測溫有著響應(yīng)時間快、非接觸、使用安全及使用壽命長等優(yōu)點。
更新時間:2025-02-18
紫外線照度計UVAB-513科電儀器
人性化操作:uvab-513小巧靈活,可以單手操作,探頭與機體分離,方便簡捷,更有自動記憶功能,可存儲20組數(shù)據(jù),方便您的數(shù)據(jù)處理工作。
更新時間:2025-02-18
照度計白光照度計LX-101科電儀器
傳感器使用獨特的照相二極管和顏色修正濾波器,適用c.i.e.照片頻譜。 傳感器cmos修正因子,滿足標準。 分離的亮度傳感器,允許用戶采取合適位置測量。 精確、方便的讀數(shù)顯示,寬量程。
更新時間:2025-02-18
噪音計(聲級計)SL-4030科電儀器
測量范圍:30~130db(分貝). 測量頻率范圍:31.5~8000hz. 精確度:±1.5db(94db/1khz)
更新時間:2025-02-18
酸堿計PH-206科電正品
可采用自動或手動溫度補償
更新時間:2025-02-18
測速計RM-722科電產(chǎn)品
使用方便:rm-722是高品質(zhì)高性價比手持式儀器,體積小巧、結(jié)構(gòu)緊湊,使用及攜帶方便靈活,單手即可操作。即可手持測量也可固定使用。 數(shù)據(jù)存儲:rm-722可以為您存儲10組值、10組值、10組平均值及10組測量值,共20組數(shù)據(jù)。方便您的數(shù)據(jù)記錄 省電設(shè)計:rm-722在您無操作后6秒自動關(guān)機,方便省電。
更新時間:2025-02-18
轉(zhuǎn)速計RM-723科電儀器
兩種測量方式:連接探頭,rm-723即可為您實現(xiàn)接觸式測量,幫助您應(yīng)對更多環(huán)境。 使用方便:rm-72x是高品質(zhì)高性價比手持式儀器,體積小巧、結(jié)構(gòu)緊湊,使用及攜帶方便靈活,單手即可操作。即可手持測量也可固定使用。
更新時間:2025-02-18
震動計VB-8200科電儀器
* 工業(yè)振動探測應(yīng)用 (所有的工業(yè)機器都會振動。振動幅度可以反映機器的情況。平衡性差,定位不準,零件的松動都會造成振動的增加,這就表示機器需要維修。)
更新時間:2025-02-18
觀片燈GP-2000C科電儀器
1.亮度:225000cd/m2 (700000lux)2.可觀察膠片黑度:0.96.電源:交流:輸入50~60hz /100~230v ac 輸出24v/5a 直流:24v7.功耗:120w8.外形尺寸:360*95*195(mm)
更新時間:2025-02-18
大體積混凝土溫度測試儀
大體積混凝土溫度測試儀,該儀器可實時監(jiān)測大體積混凝土凝固過程中因釋放水化熱引起的混凝土內(nèi)部的溫升,從而可及時做出應(yīng)對策略,避免混凝土因溫升造成的開裂等嚴重后果。此儀器系統(tǒng)主要適用于鐵路、水利、電力、市政、建筑等領(lǐng)域;可對混凝土內(nèi)部溫度進行實時監(jiān)測,并可通過無線網(wǎng)絡(luò)與計算機進行通信,實現(xiàn)了真正意義上的遠程監(jiān)控。
更新時間:2025-02-18
MC-2000D型涂(鍍)層測厚儀  鋼結(jié)構(gòu)防火層測厚儀
mc-2000d型涂(鍍)層測厚儀 鋼結(jié)構(gòu)防火層測厚儀1、測量范圍:  10~9000um2、測量誤差:  <3%±1um3、小示值:  1um4、顯示方式: 4位液晶數(shù)字顯示
更新時間:2025-02-18
RAY-3000A個人劑量報警儀
ray-3000a個人劑量報警儀(射線報警儀)是一款便攜式小型儀器,利用新型單片機技術(shù)制作而成,可在較惡劣環(huán)境下工作,具有抗干擾力,主要用來檢測χ射線和γ射線,從漢顯液晶屏能直接讀出射線“劑量率”;射線“累積劑量”。
更新時間:2025-02-18
電子引伸計
yyu-25/100電子引伸計引伸計結(jié)構(gòu)及工作原理 :應(yīng)變片、變形傳遞桿、彈性元件、限位標距桿、刀刃和夾緊彈簧等。測量變形時, 將引伸計裝卡于試件上, 刀刃與試件接觸而感受兩
更新時間:2025-02-17
顯微鏡
iia(b)型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種三目觀察儀器,具有較長的工作距離,寬闊的視野,較好的成像質(zhì)量,以及7x-180x連續(xù)改變放大倍率等特點。操作簡單,使用方便,可供電子工業(yè)、臨床手術(shù)、巖礦分析
更新時間:2025-02-17
顯微鏡
ia(b)型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種雙目觀察儀器,具有較長的工作距離,寬闊的視野,較好的成像質(zhì)量,以及7x-225x連續(xù)改變放大倍率等特點。操作簡單,使用方便,可供電子工業(yè)、臨床手術(shù)、巖礦分析、
更新時間:2025-02-17
測試儀
德國美翠mi2127精密接地電阻測試儀/土壤電阻率儀(二、三、四線法測量接地電阻和土壤電阻率) 采用傳統(tǒng)的打地樁方式來測量接地電阻,可用二、三、四線法,可測量
更新時間:2025-02-17
微壓計
axd610、axd620微壓計(美國alnor)儀器介紹:axd610和620微壓計使您在hvac的壓力測試更加簡單。這些結(jié)實耐用的儀器可以使用皮托管測量風管內(nèi)風速。axd610手持式數(shù)
更新時間:2025-02-17
實驗裝置
ssgh-1型牛頓環(huán)實驗裝置實驗內(nèi)容:1、觀測牛頓環(huán)干涉現(xiàn)象2、用牛頓環(huán)測量平凸透鏡曲率半徑基本配置及參數(shù):編號名稱規(guī)格件數(shù)1鈉燈低壓鈉燈,功率20w1套2低壓鈉燈電源220v,50hz1套3牛頓環(huán)牛頓環(huán)平凸透鏡
更新時間:2025-02-17
EMMC 上電時序測試 電源紋波測試
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時,焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時間:2025-02-17
EMMC 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線,而且接地點夾在了單板的固定螺釘上,整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-02-17
EMMC 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
emmc 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
更新時間:2025-02-17
EMMC 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時間:2025-02-17
EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開,屏蔽層焊接在被測電路地上,中心導(dǎo)體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本,低衰減比,缺點是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-02-17
Emmc5 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說,emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-02-17
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2025-02-17
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-02-17
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-02-17
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復(fù)位測試
emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-02-17
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-02-17
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號相同,用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-02-17
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2025-02-17
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-02-17
控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試 EMMC 復(fù)位測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時間:2025-02-17
數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時間:2025-02-17
CLK測試 DQS測試  EMMC4 上電時序測試,眼圖測試
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試,眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值,不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-02-17
數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下,data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
更新時間:2025-02-17
復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時,host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測試過程(bus testing procedure),測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-02-17
陰極保護監(jiān)測儀SD-21
陰極保護監(jiān)測儀sd-21用于測量陰極電位溢出,從而預(yù)防埋地燃氣管道的腐蝕。輸入阻抗為100 mω,在某些地形(比如花崗巖)上輸入阻抗可以被精確無誤的測量出來。是世界上首款同時設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。
更新時間:2025-02-17
GSC60CN多功能電氣安全電能質(zhì)量綜合分析儀,安規(guī)儀
原裝進口產(chǎn)品,觸摸屏操作簡單。由普通電池供電,方便操作現(xiàn)場更換,功能強大,可以測量電能質(zhì)量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時間和電流,無跳閘時的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等
更新時間:2025-02-17
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備,這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-02-17
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2025-02-17
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設(shè)備進入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-02-17
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-02-17
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-02-17
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-02-17
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-02-17
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-02-17

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熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑