其他產(chǎn)品及廠家
經(jīng)濟(jì)型tm630紅外線測溫儀測量范圍：-20~320℃，物距比：12：1，為目前市面上價(jià)格最底的高品質(zhì)低端紅外測溫儀。tm630紅外線測溫儀具有4位背光lcd顯示，激光瞄準(zhǔn)，可自動(dòng)關(guān)機(jī)。tm630紅外線測溫儀由數(shù)十名質(zhì)深的專家根據(jù)人體工程學(xué)原理設(shè)計(jì)，外觀小巧流暢。tm630紅外線測溫儀是現(xiàn)場測量及居家的產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-02-18
小巧的tm-656測量范圍：-50~316℃，物距比：12：1，擁有極簡的操作，您只需使用一只手就可完成全部的操作應(yīng)用。tm-656在您無操作后6秒自動(dòng)關(guān)機(jī)，方便省電。兩種溫度制式轉(zhuǎn)換，背光顯示，鐳射制式，這一切都為您的溫度測量工作帶來的享受。
更新時(shí)間:2025-02-18
經(jīng)濟(jì)型tm643紅外線測溫儀測量范圍：-32~760℃，物距比：12：1，為目前市面上價(jià)格最底的高品質(zhì)低端紅外測溫儀。 tm643紅外線測溫儀具有4位背光lcd顯示，激光瞄準(zhǔn)，可自動(dòng)關(guān)機(jī)。 接觸非接觸兩用。tm-643可連接熱電偶，為您實(shí)現(xiàn)接觸和非接觸雙重測量方式。
更新時(shí)間:2025-02-18
tm-660測量范圍：-50~999℃，物距比：12：1，在您無操作后6秒自動(dòng)關(guān)機(jī)，方便省電。兩種溫度制式轉(zhuǎn)換，背光顯示，鐳射制式，這一切都為您的溫度測量工作帶來的享受。
更新時(shí)間:2025-02-18
tm-672紅外測溫儀測溫范圍：-32 ~ 1300℃，距離系數(shù)：30:1近20年來，非接觸紅外測溫儀在技術(shù)上得到迅速發(fā)展，性能不斷完善，功能不斷增強(qiáng)，品種不斷增多，適用范圍也不斷擴(kuò)大，市場占有率逐年增長。比起接觸式測溫方法，紅外測溫有著響應(yīng)時(shí)間快、非接觸、使用安全及使用壽命長等優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-02-18
人性化操作:uvab-513小巧靈活，可以單手操作，探頭與機(jī)體分離，方便簡捷，更有自動(dòng)記憶功能，可存儲(chǔ)20組數(shù)據(jù)，方便您的數(shù)據(jù)處理工作。
更新時(shí)間:2025-02-18
傳感器使用獨(dú)特的照相二極管和顏色修正濾波器，適用c.i.e.照片頻譜。 傳感器cmos修正因子，滿足標(biāo)準(zhǔn)。 分離的亮度傳感器，允許用戶采取合適位置測量。 精確、方便的讀數(shù)顯示，寬量程。
更新時(shí)間:2025-02-18
測量范圍:30~130db(分貝). 測量頻率范圍:31.5~8000hz. 精確度:±1.5db(94db/1khz)
更新時(shí)間:2025-02-18
使用方便:rm-722是高品質(zhì)高性價(jià)比手持式儀器，體積小巧、結(jié)構(gòu)緊湊，使用及攜帶方便靈活，單手即可操作。即可手持測量也可固定使用。 數(shù)據(jù)存儲(chǔ):rm-722可以為您存儲(chǔ)10組值、10組值、10組平均值及10組測量值，共20組數(shù)據(jù)。方便您的數(shù)據(jù)記錄 省電設(shè)計(jì):rm-722在您無操作后6秒自動(dòng)關(guān)機(jī)，方便省電。
更新時(shí)間:2025-02-18
兩種測量方式:連接探頭，rm-723即可為您實(shí)現(xiàn)接觸式測量，幫助您應(yīng)對更多環(huán)境。 使用方便:rm-72x是高品質(zhì)高性價(jià)比手持式儀器，體積小巧、結(jié)構(gòu)緊湊，使用及攜帶方便靈活，單手即可操作。即可手持測量也可固定使用。
更新時(shí)間:2025-02-18
* 工業(yè)振動(dòng)探測應(yīng)用 (所有的工業(yè)機(jī)器都會(huì)振動(dòng)。振動(dòng)幅度可以反映機(jī)器的情況。平衡性差，定位不準(zhǔn)，零件的松動(dòng)都會(huì)造成振動(dòng)的增加，這就表示機(jī)器需要維修。)
更新時(shí)間:2025-02-18
1.亮度：225000cd/m2 (700000lux)2.可觀察膠片黑度：0.96.電源：交流：輸入50~60hz /100~230v ac 輸出24v/5a 直流：24v7.功耗：120w8.外形尺寸：360*95*195(mm)
更新時(shí)間:2025-02-18
大體積混凝土溫度測試儀，該儀器可實(shí)時(shí)監(jiān)測大體積混凝土凝固過程中因釋放水化熱引起的混凝土內(nèi)部的溫升，從而可及時(shí)做出應(yīng)對策略，避免混凝土因溫升造成的開裂等嚴(yán)重后果。此儀器系統(tǒng)主要適用于鐵路、水利、電力、市政、建筑等領(lǐng)域；可對混凝土內(nèi)部溫度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測,并可通過無線網(wǎng)絡(luò)與計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信，實(shí)現(xiàn)了真正意義上的遠(yuǎn)程監(jiān)控。
更新時(shí)間:2025-02-18
mc-2000d型涂（鍍）層測厚儀 鋼結(jié)構(gòu)防火層測厚儀1、測量范圍： 10~9000um2、測量誤差： <3%±1um3、小示值： 1um4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示
更新時(shí)間:2025-02-18
ray-3000a個(gè)人劑量報(bào)警儀（射線報(bào)警儀）是一款便攜式小型儀器，利用新型單片機(jī)技術(shù)制作而成，可在較惡劣環(huán)境下工作，具有抗干擾力，主要用來檢測χ射線和γ射線，從漢顯液晶屏能直接讀出射線“劑量率”；射線“累積劑量”。
更新時(shí)間:2025-02-18
yyu-25/100電子引伸計(jì)引伸計(jì)結(jié)構(gòu)及工作原理 ：應(yīng)變片、變形傳遞桿、彈性元件、限位標(biāo)距桿、刀刃和夾緊彈簧等。測量變形時(shí), 將引伸計(jì)裝卡于試件上, 刀刃與試件接觸而感受兩
更新時(shí)間:2025-02-17
iia（b）型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種三目觀察儀器，具有較長的工作距離，寬闊的視野，較好的成像質(zhì)量，以及7x-180x連續(xù)改變放大倍率等特點(diǎn)。操作簡單，使用方便，可供電子工業(yè)、臨床手術(shù)、巖礦分析
更新時(shí)間:2025-02-17
ia（b）型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種雙目觀察儀器，具有較長的工作距離，寬闊的視野，較好的成像質(zhì)量，以及7x-225x連續(xù)改變放大倍率等特點(diǎn)。操作簡單，使用方便，可供電子工業(yè)、臨床手術(shù)、巖礦分析、
更新時(shí)間:2025-02-17
德國美翠mi2127精密接地電阻測試儀/土壤電阻率儀（二、三、四線法測量接地電阻和土壤電阻率） 采用傳統(tǒng)的打地樁方式來測量接地電阻，可用二、三、四線法，可測量
更新時(shí)間:2025-02-17
axd610、axd620微壓計(jì)（美國alnor）儀器介紹：axd610和620微壓計(jì)使您在hvac的壓力測試更加簡單。這些結(jié)實(shí)耐用的儀器可以使用皮托管測量風(fēng)管內(nèi)風(fēng)速。axd610手持式數(shù)
更新時(shí)間:2025-02-17
ssgh-1型牛頓環(huán)實(shí)驗(yàn)裝置實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：1、觀測牛頓環(huán)干涉現(xiàn)象2、用牛頓環(huán)測量平凸透鏡曲率半徑基本配置及參數(shù)：編號(hào)名稱規(guī)格件數(shù)1鈉燈低壓鈉燈，功率20w1套2低壓鈉燈電源220v，50hz1套3牛頓環(huán)牛頓環(huán)平凸透鏡
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc 上電時(shí)序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc 控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個(gè)典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2025-02-17
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
更新時(shí)間:2025-02-17
相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試 , emmc5 , 上電時(shí)序測試
更新時(shí)間:2025-02-17
相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時(shí)序測試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號(hào)相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時(shí)間:2025-02-17
相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試
更新時(shí)間:2025-02-17
電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
更新時(shí)間:2025-02-17
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測到該信號(hào)，并開始接收 response。
更新時(shí)間:2025-02-17
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測到該信號(hào)，并開始接收 response。
更新時(shí)間:2025-02-17
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時(shí)間:2025-02-17
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時(shí)間:2025-02-17
復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí)，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時(shí)間:2025-02-17
陰極保護(hù)監(jiān)測儀sd-21用于測量陰極電位溢出，從而預(yù)防埋地燃?xì)夤艿赖母g。輸入阻抗為100 mω，在某些地形（比如花崗巖）上輸入阻抗可以被精確無誤的測量出來。是世界上首款同時(shí)設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-02-17
原裝進(jìn)口產(chǎn)品，觸摸屏操作簡單。由普通電池供電，方便操作現(xiàn)場更換，功能強(qiáng)大，可以測量電能質(zhì)量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時(shí)間和電流，無跳閘時(shí)的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等
更新時(shí)間:2025-02-17
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-02-17
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2025-02-17
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時(shí)，pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2025-02-17
pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時(shí)鐘問題
更新時(shí)間:2025-02-17
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無時(shí)無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2025-02-17
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對差分信號(hào)，其中16對petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
更新時(shí)間:2025-02-17
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號(hào)幅度越來越低，對整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2025-02-17
最新產(chǎn)品
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