其他產(chǎn)品及廠(chǎng)家
yd-1000c型里氏硬度計(jì)是一種新型的手持式、多功能動(dòng)態(tài)硬度測(cè)試儀器，它采用了進(jìn)的微處理器技術(shù)設(shè)計(jì)而成。 yd-1000c型里氏硬度計(jì)具有測(cè)試精度高、性能穩(wěn)定、體積小、操作容易、攜帶方便、測(cè)量范圍寬等特點(diǎn)，適用于金屬材料的快速硬度測(cè)試，特別適宜對(duì)大
更新時(shí)間:2025-02-18
經(jīng)濟(jì)型tm630紅外線(xiàn)測(cè)溫儀測(cè)量范圍：-20~320℃，物距比：12：1，為目前市面上價(jià)格最底的高品質(zhì)低端紅外測(cè)溫儀。tm630紅外線(xiàn)測(cè)溫儀具有4位背光lcd顯示，激光瞄準(zhǔn)，可自動(dòng)關(guān)機(jī)。tm630紅外線(xiàn)測(cè)溫儀由數(shù)十名質(zhì)深的專(zhuān)家根據(jù)人體工程學(xué)原理設(shè)計(jì)，外觀(guān)小巧流暢。tm630紅外線(xiàn)測(cè)溫儀是現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量及居家的產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-02-18
小巧的tm-656測(cè)量范圍：-50~316℃，物距比：12：1，擁有極簡(jiǎn)的操作，您只需使用一只手就可完成全部的操作應(yīng)用。tm-656在您無(wú)操作后6秒自動(dòng)關(guān)機(jī)，方便省電。兩種溫度制式轉(zhuǎn)換，背光顯示，鐳射制式，這一切都為您的溫度測(cè)量工作帶來(lái)的享受。
更新時(shí)間:2025-02-18
經(jīng)濟(jì)型tm643紅外線(xiàn)測(cè)溫儀測(cè)量范圍：-32~760℃，物距比：12：1，為目前市面上價(jià)格最底的高品質(zhì)低端紅外測(cè)溫儀。 tm643紅外線(xiàn)測(cè)溫儀具有4位背光lcd顯示，激光瞄準(zhǔn)，可自動(dòng)關(guān)機(jī)。 接觸非接觸兩用。tm-643可連接熱電偶，為您實(shí)現(xiàn)接觸和非接觸雙重測(cè)量方式。
更新時(shí)間:2025-02-18
tm-660測(cè)量范圍：-50~999℃，物距比：12：1，在您無(wú)操作后6秒自動(dòng)關(guān)機(jī)，方便省電。兩種溫度制式轉(zhuǎn)換，背光顯示，鐳射制式，這一切都為您的溫度測(cè)量工作帶來(lái)的享受。
更新時(shí)間:2025-02-18
tm-672紅外測(cè)溫儀測(cè)溫范圍：-32 ~ 1300℃，距離系數(shù)：30:1近20年來(lái)，非接觸紅外測(cè)溫儀在技術(shù)上得到迅速發(fā)展，性能不斷完善，功能不斷增強(qiáng)，品種不斷增多，適用范圍也不斷擴(kuò)大，市場(chǎng)占有率逐年增長(zhǎng)。比起接觸式測(cè)溫方法，紅外測(cè)溫有著響應(yīng)時(shí)間快、非接觸、使用安全及使用壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-02-18
人性化操作:uvab-513小巧靈活，可以單手操作，探頭與機(jī)體分離，方便簡(jiǎn)捷，更有自動(dòng)記憶功能，可存儲(chǔ)20組數(shù)據(jù)，方便您的數(shù)據(jù)處理工作。
更新時(shí)間:2025-02-18
傳感器使用獨(dú)特的照相二極管和顏色修正濾波器，適用c.i.e.照片頻譜。 傳感器cmos修正因子，滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)。 分離的亮度傳感器，允許用戶(hù)采取合適位置測(cè)量。 精確、方便的讀數(shù)顯示，寬量程。
更新時(shí)間:2025-02-18
測(cè)量范圍:30~130db(分貝). 測(cè)量頻率范圍:31.5~8000hz. 精確度:±1.5db(94db/1khz)
更新時(shí)間:2025-02-18
使用方便:rm-722是高品質(zhì)高性?xún)r(jià)比手持式儀器，體積小巧、結(jié)構(gòu)緊湊，使用及攜帶方便靈活，單手即可操作。即可手持測(cè)量也可固定使用。 數(shù)據(jù)存儲(chǔ):rm-722可以為您存儲(chǔ)10組值、10組值、10組平均值及10組測(cè)量值，共20組數(shù)據(jù)。方便您的數(shù)據(jù)記錄 省電設(shè)計(jì):rm-722在您無(wú)操作后6秒自動(dòng)關(guān)機(jī)，方便省電。
更新時(shí)間:2025-02-18
兩種測(cè)量方式:連接探頭，rm-723即可為您實(shí)現(xiàn)接觸式測(cè)量，幫助您應(yīng)對(duì)更多環(huán)境。 使用方便:rm-72x是高品質(zhì)高性?xún)r(jià)比手持式儀器，體積小巧、結(jié)構(gòu)緊湊，使用及攜帶方便靈活，單手即可操作。即可手持測(cè)量也可固定使用。
更新時(shí)間:2025-02-18
* 工業(yè)振動(dòng)探測(cè)應(yīng)用 (所有的工業(yè)機(jī)器都會(huì)振動(dòng)。振動(dòng)幅度可以反映機(jī)器的情況。平衡性差，定位不準(zhǔn)，零件的松動(dòng)都會(huì)造成振動(dòng)的增加，這就表示機(jī)器需要維修。)
更新時(shí)間:2025-02-18
1.亮度：225000cd/m2 (700000lux)2.可觀(guān)察膠片黑度：0.96.電源：交流：輸入50~60hz /100~230v ac 輸出24v/5a 直流：24v7.功耗：120w8.外形尺寸：360*95*195(mm)
更新時(shí)間:2025-02-18
大體積混凝土溫度測(cè)試儀，該儀器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)大體積混凝土凝固過(guò)程中因釋放水化熱引起的混凝土內(nèi)部的溫升，從而可及時(shí)做出應(yīng)對(duì)策略，避免混凝土因溫升造成的開(kāi)裂等嚴(yán)重后果。此儀器系統(tǒng)主要適用于鐵路、水利、電力、市政、建筑等領(lǐng)域；可對(duì)混凝土內(nèi)部溫度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),并可通過(guò)無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)與計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信，實(shí)現(xiàn)了真正意義上的遠(yuǎn)程監(jiān)控。
更新時(shí)間:2025-02-18
mc-2000d型涂（鍍）層測(cè)厚儀 鋼結(jié)構(gòu)防火層測(cè)厚儀1、測(cè)量范圍： 10~9000um2、測(cè)量誤差： <3%±1um3、小示值： 1um4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示
更新時(shí)間:2025-02-18
ray-3000a個(gè)人劑量報(bào)警儀（射線(xiàn)報(bào)警儀）是一款便攜式小型儀器，利用新型單片機(jī)技術(shù)制作而成，可在較惡劣環(huán)境下工作，具有抗干擾力，主要用來(lái)檢測(cè)χ射線(xiàn)和γ射線(xiàn)，從漢顯液晶屏能直接讀出射線(xiàn)“劑量率”；射線(xiàn)“累積劑量”。
更新時(shí)間:2025-02-18
yyu-25/100電子引伸計(jì)引伸計(jì)結(jié)構(gòu)及工作原理 ：應(yīng)變片、變形傳遞桿、彈性元件、限位標(biāo)距桿、刀刃和夾緊彈簧等。測(cè)量變形時(shí), 將引伸計(jì)裝卡于試件上, 刀刃與試件接觸而感受兩
更新時(shí)間:2025-02-17
iia（b）型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種三目觀(guān)察儀器，具有較長(zhǎng)的工作距離，寬闊的視野，較好的成像質(zhì)量，以及7x-180x連續(xù)改變放大倍率等特點(diǎn)。操作簡(jiǎn)單，使用方便，可供電子工業(yè)、臨床手術(shù)、巖礦分析
更新時(shí)間:2025-02-17
ia（b）型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種雙目觀(guān)察儀器，具有較長(zhǎng)的工作距離，寬闊的視野，較好的成像質(zhì)量，以及7x-225x連續(xù)改變放大倍率等特點(diǎn)。操作簡(jiǎn)單，使用方便，可供電子工業(yè)、臨床手術(shù)、巖礦分析、
更新時(shí)間:2025-02-17
德國(guó)美翠mi2127精密接地電阻測(cè)試儀/土壤電阻率儀（二、三、四線(xiàn)法測(cè)量接地電阻和土壤電阻率） 采用傳統(tǒng)的打地樁方式來(lái)測(cè)量接地電阻，可用二、三、四線(xiàn)法，可測(cè)量
更新時(shí)間:2025-02-17
axd610、axd620微壓計(jì)（美國(guó)alnor）儀器介紹：axd610和620微壓計(jì)使您在hvac的壓力測(cè)試更加簡(jiǎn)單。這些結(jié)實(shí)耐用的儀器可以使用皮托管測(cè)量風(fēng)管內(nèi)風(fēng)速。axd610手持式數(shù)
更新時(shí)間:2025-02-17
ssgh-1型牛頓環(huán)實(shí)驗(yàn)裝置實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：1、觀(guān)測(cè)牛頓環(huán)干涉現(xiàn)象2、用牛頓環(huán)測(cè)量平凸透鏡曲率半徑基本配置及參數(shù)：編號(hào)名稱(chēng)規(guī)格件數(shù)1鈉燈低壓鈉燈，功率20w1套2低壓鈉燈電源220v，50hz1套3牛頓環(huán)牛頓環(huán)平凸透鏡
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤(pán)部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過(guò)大的問(wèn)題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶(hù)探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚(yú)夾地線(xiàn)，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開(kāi)關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問(wèn)題。我們通過(guò)使用短的地線(xiàn)連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開(kāi)，屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上，中心導(dǎo)體通過(guò)個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2025-02-17
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來(lái)說(shuō)，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫(xiě)均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線(xiàn)接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試mmc通過(guò)發(fā)cmd的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪(fǎng)問(wèn)。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2025-02-17
emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc5 復(fù)位測(cè)試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
更新時(shí)間:2025-02-17
相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 , emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試
更新時(shí)間:2025-02-17
相關(guān)產(chǎn)品：clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號(hào)相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線(xiàn) tuning 過(guò)程。
更新時(shí)間:2025-02-17
相關(guān)產(chǎn)品：clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試
更新時(shí)間:2025-02-17
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試
更新時(shí)間:2025-02-17
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線(xiàn)上時(shí)，host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào)，并開(kāi)始接收 response。
更新時(shí)間:2025-02-17
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線(xiàn)上時(shí)，host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào)，并開(kāi)始接收 response。
更新時(shí)間:2025-02-17
clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試，眼圖測(cè)試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時(shí)間:2025-02-17
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試在 ddr 模式下，data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時(shí)間:2025-02-17
復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí)，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線(xiàn)測(cè)試過(guò)程（bus testing procedure），測(cè)試總線(xiàn)硬件上的連通性。
更新時(shí)間:2025-02-17
陰極保護(hù)監(jiān)測(cè)儀sd-21用于測(cè)量陰極電位溢出，從而預(yù)防埋地燃?xì)夤艿赖母g。輸入阻抗為100 mω，在某些地形（比如花崗巖）上輸入阻抗可以被精確無(wú)誤的測(cè)量出來(lái)。是世界上首款同時(shí)設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-02-17
原裝進(jìn)口產(chǎn)品，觸摸屏操作簡(jiǎn)單。由普通電池供電，方便操作現(xiàn)場(chǎng)更換，功能強(qiáng)大，可以測(cè)量電能質(zhì)量、連續(xù)性、絕緣電阻、線(xiàn)路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時(shí)間和電流，無(wú)跳閘時(shí)的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等
更新時(shí)間:2025-02-17
cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線(xiàn)與pci總線(xiàn)不同，pcie總線(xiàn)使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-02-17
pcie總線(xiàn)的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類(lèi)似之處，但是pcie總線(xiàn)的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過(guò)該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2025-02-17
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測(cè)試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時(shí)，pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請(qǐng)求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2025-02-17
pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見(jiàn)pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題- serdes電源問(wèn)題- 時(shí)鐘問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-02-17
pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試集成電路的發(fā)明是人類(lèi)歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動(dòng)了人類(lèi)的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無(wú)時(shí)無(wú)刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來(lái)，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來(lái)說(shuō)遇到的挑戰(zhàn)和問(wèn)題也就越來(lái)越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2025-02-17
pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線(xiàn)組成32對(duì)差分信號(hào)，其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線(xiàn)還使用了下列輔助信號(hào)。
更新時(shí)間:2025-02-17
最新產(chǎn)品
- 博萊特濾芯 490G/S 490C/D 490 V 2025/2/19 7:35:00
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