ASE光源 光纖放大器 光發(fā)射機(jī) 光通信激光器
軟件在Windows9x/ME或者NT/2000/XP操作系統(tǒng)上運(yùn)行 測(cè)量數(shù)據(jù)可以實(shí)現(xiàn)可視化 不同的窗體的掃描數(shù)據(jù)可以被同時(shí)顯示 線觀察，點(diǎn)觀察，三維觀察 在線數(shù)學(xué)計(jì)算功能（減，平均值等等） 類似于粗糙度（Ra，Rq）、頂點(diǎn)剖面、http://www.jtliangyou2011.com 防爆應(yīng)急燈 防爆泛光燈 防爆無(wú)極燈 防爆投光燈 厚度、距離和幾何分析的數(shù)據(jù)分析 可以實(shí)現(xiàn)多數(shù)據(jù)輸出 定制顯示器、工作場(chǎng)所 安裝非常簡(jiǎn)便 所有的功能都可以通過的模板獲得，http://www.meifukeji.com玉米打捆機(jī) 玉米秸稈打捆機(jī) 打捆機(jī)價(jià)格 捆草機(jī)的模板包括：步驟、顯示配制、掃描、反饋回路等信息。在掃描期間（距離，角，通過截面）也可以獲得幾個(gè)測(cè)量功能。為了運(yùn)行easyScanDFM掃描軟件，計(jì)算機(jī)的系統(tǒng)要求如下： 586/133MHz處理器 32Mb內(nèi)存 1024*768圖形適配器，256色 自由的串行端口 主要特點(diǎn) easyScan2AFM的關(guān)鍵特點(diǎn)： 允許快速的、在原位無(wú)破壞性的、http://www.sqbaler.com 數(shù)字電橋 數(shù)字示波器 直流電子負(fù)載 函數(shù)信號(hào)發(fā)生器高分辨率的處理控制！ ≡O(shè)計(jì)小巧、緊湊；使用簡(jiǎn)便、舒適 所有的功能可以在一臺(tái)計(jì)算機(jī)上進(jìn)行 獨(dú)立的；適合大、小形狀各異的樣品 樣品自動(dòng)進(jìn)場(chǎng) 與標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算機(jī)串行端口連接（不需要接口卡） 特殊的掃描儀設(shè)計(jì)，確保低震動(dòng)靈敏度小型開煉機(jī) 雙輥機(jī) HunterLab 滾齒機(jī) IC卡電表價(jià)格 磁卡電表 純凈水生產(chǎn)線 BOSCH電磁閥 石油低溫儀器 Brookfield 耐寒電纜 多功能血液溶漿機(jī) 輻射報(bào)警儀 裝配熱電偶 拉力機(jī)生產(chǎn)廠家 射線探傷機(jī) 標(biāo)準(zhǔn)COD消解器 賀德克濾芯 膠囊充填機(jī) 土肥儀 自動(dòng)化車床 專用設(shè)備 FESTO傳感器 無(wú)線膠裝機(jī) 高低溫測(cè)試箱 SMC減壓閥 西門子電動(dòng)調(diào)節(jié)閥 西藥壓片機(jī) 去結(jié)皮高壓水槍 旋轉(zhuǎn)壓片機(jī) EP標(biāo)準(zhǔn)品
美國(guó)Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力顯微功能，具有強(qiáng)大的分析能力，使得AFM不僅僅是一個(gè)普通的成像工具，還可以進(jìn)行材料納米級(jí)尺度的成分分析，熱性能和機(jī)械性能的分析。
AFM+的主要特點(diǎn)：
簡(jiǎn)潔的安裝與操作
□ AFM+為最便利的使用而設(shè)計(jì)制造。預(yù)裝的懸臂能夠快速簡(jiǎn)易的完成對(duì)齊
□ 儀器集幾十年AFM設(shè)計(jì)大師的經(jīng)驗(yàn)之大成，即使初次使用也能快速獲取結(jié)果
完整的AFM工作模式
□ 包含所有常規(guī)成像模式
□ 獨(dú)有高分辨率低噪音的閉環(huán)成像
強(qiáng)大的納米級(jí)定位分析技術(shù)
□ 熱學(xué)性能：獨(dú)有的熱探針技術(shù)，提供納米級(jí)紅外分析
□ 機(jī)械性能：洛倫茲接觸共振模式能夠提供寬頻納米機(jī)械分析
□ 化學(xué)性能：可升級(jí)具有納米紅外光譜技術(shù)實(shí)現(xiàn)局部化學(xué)組分分析技術(shù)參數(shù)：
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原子力顯微鏡
FM-Nanoview 6800AFM
一、主要功能特點(diǎn)
硬件系統(tǒng)
1、光機(jī)電一體化設(shè)計(jì)，外形結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單；
2、掃描探頭和樣品臺(tái)集成一體，抗干擾能力強(qiáng)；
3、精密激光檢測(cè)及探針定位裝置，光斑調(diào)節(jié)簡(jiǎn)單，操作方便；
4、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；
5、伺服馬達(dá)手動(dòng)或自動(dòng)脈沖控制，驅(qū)動(dòng)樣品垂直接近探針，實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位；
6、高精度大范圍的樣品移動(dòng)裝置，可自由移動(dòng)感興趣的樣品掃描區(qū)域；
7、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇；
8、帶光學(xué)定位的CCD觀測(cè)系統(tǒng)，實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針掃描樣品區(qū)域；
9、采用伺服馬達(dá)控制CCD自動(dòng)對(duì)焦功能；
10、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)，便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù)；
11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用。
12、帶溫度、濕度顯示。
13、彈簧懸掛式防震方式，簡(jiǎn)單實(shí)用，抗干擾能力強(qiáng)
14、帶光學(xué)定位功能
軟件系統(tǒng)
1、可觀測(cè)樣品掃描時(shí)的表面形貌像、振幅像和相位像；
2、具備接觸、輕敲兩種模式,可選配（相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式）；
3、可自由選擇圖像采樣點(diǎn)為256×256或512×512；
4、多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖；
5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測(cè)量功能；
6、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；
7、可任意選擇樣品起始掃描角度；
8、激光光斑檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能；
9、針尖共振峰自動(dòng)和手動(dòng)搜索功能；
10、可任意定義掃描圖像的色板功能；
11、支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能；
12、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正；
13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。
二、主要技術(shù)指標(biāo)
1、工作模式：接觸、輕敲、可擴(kuò)展相位、摩擦力、磁力或靜電力
2、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
3、最大掃描范圍：橫向50um，縱向5um
4、掃描分辨率：橫向0.2nm，縱向0.05nm
5、掃描速率：0.6Hz~4.34Hz
6、掃描角度：任意
7、樣品移動(dòng)范圍：0～50mm
8、馬達(dá)趨近脈沖寬度：10±2ms
9、光學(xué)放大倍數(shù)：10X
10、光學(xué)分辨率：1um
11、圖像采樣點(diǎn)：256×256，512×512
12、掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
13、數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
14、反饋方式：DSP數(shù)字反饋
15、反饋采樣速率：64.0KHz
16、計(jì)算機(jī)接口：USB2.0
17、運(yùn)行環(huán)境：運(yùn)行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)
原子力顯微鏡
FM-Nanoview 1000AFM
一． 主要功能特點(diǎn)
硬件系統(tǒng)
1、主機(jī)與控制箱分開，外形結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單；
2、掃描探頭和樣品臺(tái)集成一體，抗干擾能力強(qiáng)；
3、精密激光定位裝置，使用時(shí)無(wú)需調(diào)節(jié)光斑位置；
4、采用精密探針定位模塊，更換探針簡(jiǎn)單方便；
5、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；
6、伺服馬達(dá)手動(dòng)或自動(dòng)脈沖控制，驅(qū)動(dòng)樣品垂直接近探針，實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位；
7、高精度大范圍的樣品移動(dòng)裝置，可自由移動(dòng)感興趣的樣品掃描區(qū)域；
8、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇；
9、帶光學(xué)定位的CCD觀測(cè)系統(tǒng)，實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針掃描樣品區(qū)域；
10、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)，便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù)；
11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用；
12、彈簧懸掛式防震方式，簡(jiǎn)單實(shí)用，抗干擾能力強(qiáng)。
13、帶溫控、濕控功能
軟件系統(tǒng)
13、可自由選擇圖像采樣點(diǎn)為256×256或512×512；
14、多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖；
15、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；
16、可任意選擇樣品起始掃描角度；
17、激光光斑檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能；
18、可任意定義掃描圖像的色板功能；
19、支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能；
20、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正；
21、支持樣品圖片離線分析與處理功能。
二． 主要技術(shù)指標(biāo)
22、工作模式：接觸、輕敲，可擴(kuò)展相位、摩擦力、磁力或靜電力
23、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
24、最大掃描范圍：橫向20um，縱向2um
25、掃描分辨率：橫向0.2nm，縱向0.05nm
26、掃描速率：0.6Hz~4.34Hz
27、掃描角度：任意
28、樣品移動(dòng)范圍：0～20mm
29、馬達(dá)趨近脈沖寬度：10±2ms
30、光學(xué)放大倍數(shù)： 4X
31、光學(xué)分辨率：2.5um
32、圖像采樣點(diǎn)：256×256，512×512
33、掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
34、數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
35、反饋方式：DSP數(shù)字反饋
36、反饋采樣速率：64.0KHz
37、計(jì)算機(jī)接口：USB2.0
38、運(yùn)行環(huán)境：運(yùn)行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)
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Nano-I (型號(hào)：S-030-0000-1)是一個(gè)在晶片和磁盤成像方面優(yōu)化的高性能的原子力顯微鏡系統(tǒng)。Nano-I 原子力顯微鏡的應(yīng)用包括研究、發(fā)展、工藝過程開發(fā)和控制過程。 整個(gè)系統(tǒng)包括主計(jì)算機(jī)，軟件，電子控制器和原子力顯微鏡臺(tái)。自動(dòng)的X-Y 臺(tái)可承載大到直徑為8英寸、厚為0.5英寸的晶片。用這個(gè)獨(dú)特的臺(tái)子，可以在計(jì)算機(jī)的控制下調(diào)節(jié)探針和樣品的角度。Nano-I軟件在工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的Windows XP? 操作系統(tǒng)下運(yùn)行。Nano-I 系統(tǒng)中有三個(gè)軟件模塊可用來獲得和分析AFM圖像。
主要特點(diǎn):Nano-I 臺(tái)非常容易安裝在桌面上，可以在一般的實(shí)驗(yàn)環(huán)境中獲得高分辨的圖像。臺(tái)子是為了最大地適應(yīng)所提供樣品的類型而設(shè)計(jì)的，同樣可以使AFM探頭的設(shè)置和準(zhǔn)直盡可能地簡(jiǎn)易。臺(tái)子包括：
AFM 探頭樣品臺(tái)X-Y-Z 樣品臺(tái)的平移器高分辨錄像顯微鏡
又稱:原子力顯微鏡 采購(gòu)原子力顯微鏡 原子力顯微鏡報(bào)價(jià) 原子力顯微鏡介紹 原子力顯微鏡采購(gòu) 原子力顯微鏡 采購(gòu)掃描探針顯微鏡 掃描探針顯微鏡報(bào)價(jià) 掃描探針顯微鏡介紹 掃描探針顯微鏡采購(gòu)
實(shí)密科技股份有限公司北京市朝陽(yáng)區(qū)北四環(huán)東路108號(hào)千鶴家園7號(hào)樓TEL：021-64697665FAX：021-64699320E-MAIL：http://www.schmidt.com.twWeb: www.schmidt.com.tw
| 德國(guó)BMT AFM 2000/3000/4000 原子力顯微鏡 | ||||||||||||||||||||||||
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| 德國(guó)BMT AFM原子力顯微鏡 在當(dāng)今工業(yè)生產(chǎn)中對(duì)納米級(jí)表面結(jié)構(gòu)的了解日益重要。這些應(yīng)用包含了從內(nèi)燃機(jī)磨損到新型潤(rùn)滑涂層和防腐蝕保護(hù)層，以及現(xiàn)代車用噴漆，從半導(dǎo)體工業(yè)到醫(yī)用技術(shù)。傳統(tǒng)方法已經(jīng)無(wú)法處理上述的長(zhǎng)度空間。但同時(shí)可以看到，對(duì)表面、涂層和功能材料表面盡可能全面地就性能進(jìn)行描述日益成為工業(yè)界和科研機(jī)構(gòu)的迫切需求，例如在局部極小的尺寸內(nèi)對(duì)化學(xué)反應(yīng)過程，腐蝕和磨損進(jìn)行觀察等等。原子力顯微鏡作為極其靈活的圖像檢測(cè)方法尤其適合這些應(yīng)用，它的測(cè)量范圍覆蓋了從0.2毫米到微米納米直至原子晶體結(jié)構(gòu)。而這樣大的測(cè)量范圍只需使用同一臺(tái)設(shè)備。隨著BMT多用掃描儀AFM 3000的研制成功，市場(chǎng)上終于出現(xiàn)了一臺(tái)掃描原子力顯微鏡，它的突出特點(diǎn)是模塊化結(jié)構(gòu)、高度靈活性而且操作極其簡(jiǎn)便。它獨(dú)特的測(cè)量模塊運(yùn)用了化學(xué)對(duì)比度成像（Chemical Contrast Imaging （CCI-AFM） ，這種新技術(shù)可以檢測(cè)到表面極其微量的化學(xué)變化，這樣就可以跟蹤腐蝕、磨損、氧化等等物理和化學(xué)反應(yīng)實(shí)際發(fā)生的位置，這些反應(yīng)通常正是在微米和納米尺度上。用多用成像軟件包可以在多個(gè)采集點(diǎn)上同時(shí)采集圖像信息：從采樣點(diǎn)表面形貌到摩擦，磨損和接觸剛性，一直到化學(xué)對(duì)比度。 主要特點(diǎn)： · 操作極其簡(jiǎn)便，用戶控制，模塊化構(gòu)造 · 多用掃描 測(cè)量頭，就極高的穩(wěn)定性作了優(yōu)化 · 多測(cè)量模式選擇：接觸模式，非接觸模式，震蕩接觸模式，力調(diào)制顯微鏡，摩擦顯微鏡和粘合顯微鏡，力譜儀，相位對(duì)比度。使用同一個(gè)測(cè)量頭可達(dá)到的掃描范圍從納米級(jí)到面積為 200 µm x 200µm · 包括化學(xué)對(duì)比度成像 （CCI-AFM） 模式 · 包括保護(hù)氣體選項(xiàng) · 可直接在樣品實(shí)地的溫度和濕度條件下測(cè)量 · 包括可在液體中測(cè)量的工作方式 · 極有用途的附加模塊包括：納米電鍍（GalvanoScan）、納米摩擦和磨損檢測(cè) （TriboScan） 以及腐蝕 （CorroScan） 和納米構(gòu)造 （LithoScan） · 可按用戶需要提供相匹配的軟件模塊，根據(jù)特殊要求可提供應(yīng)用實(shí)例
技術(shù)數(shù)據(jù)：
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原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針原子力顯微鏡
型號(hào)：HG13- NanoFirst-2000