AFM-III型MicroNano 原子力顯微鏡
AFM NanoFirst-2000原子力顯微鏡
儀器特點(diǎn)： 計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡(jiǎn)捷直觀。 步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖－－樣品逼近，實(shí)驗(yàn)圓滿(mǎn)成功。 深度陡度測(cè)量，三維顯示。 納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。 Ｘ、Ｙ二維樣品移動(dòng)平臺(tái)，快速搜索樣品區(qū)域． 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無(wú)需任何計(jì)算機(jī)卡 樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。 掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒 可選配納米刻蝕功能模塊。 技術(shù)指標(biāo) ：
AFM探頭 樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。 XY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米 0.25nm 0.03nm(云母定標(biāo)) XY二維樣品移動(dòng)范圍：５mm；精度0.5微米 掃描器、針尖座智能識(shí)別 44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配) AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配） 全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)（選購(gòu)） 電子學(xué)控制器： XTZ控制 18-Bit D/A 數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣 Z向反饋 DSP數(shù)字反饋 反饋采樣速率 64.0KHz 高壓放大器 集成高壓運(yùn)算放大器，最大電壓范圍+/-150V 頻率范圍 --- 幅度范圍 --- 掃描速率 21Hz 掃描角度 0-360度 掃描偏移 任意 圖像采樣點(diǎn) 256X256或512X512 步進(jìn)馬達(dá)控制 手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退 計(jì)算機(jī)接口 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB
Dimension Icon。原子力顯微鏡 布魯克（原veeco）
Dimension Icon 系列作為布魯克公司（Bruker AXS） 原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品，凝聚了多項(xiàng)的專(zhuān)利技術(shù)，是二十多年技術(shù)創(chuàng)新、客戶(hù)反饋和行業(yè)應(yīng)用的結(jié)晶。 Dimension Icon 的出現(xiàn)為科學(xué)和工業(yè)界在納米尺度的研究帶來(lái)了革命性的之作。Dimension Icon 可以實(shí)現(xiàn)所有主要的掃描探針成像技術(shù)，其測(cè)試樣品尺寸可達(dá)：直徑210mm，厚度15mm。溫度補(bǔ)償位置傳感器使Z-軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級(jí)和埃級(jí)水平，并呈現(xiàn)出前所未有的高分辨率。對(duì)于大樣品、90微米掃描范圍的系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，這種噪音水平超越了所有的開(kāi)環(huán)掃描高分辨率的原子力顯微鏡。的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大提高了掃描速度。探針和樣品臺(tái)的開(kāi)放式設(shè)計(jì)使 Icon 可勝任各種標(biāo)準(zhǔn)和非標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)。
法國(guó)CSI原子力顯微鏡超高精度一體式掃描器
XY驅(qū)動(dòng)分辨率：24位控制，0.06Am；
Z驅(qū)動(dòng)分辨率：24位控制，0.006Am；
微弱的相干激光器：658nm波長(zhǎng)，功率小于1mw。
升縮臺(tái)的結(jié)構(gòu)（專(zhuān)利技術(shù)）
有專(zhuān)利的伸縮放大臺(tái)階且低噪音的，三軸獨(dú)立，原子臺(tái)階及分子分辨率，直到100µm掃描，
掃描分辨率X-Y：0.06nm，Z：0.006nm， 不像壓電陶瓷管那樣易碎而且伸縮有弓效果。
智能化AFM
a. 低噪聲低功耗相干激光器
b.低噪音控制器（低電壓驅(qū)動(dòng)壓電掃描器）
c.24位DAC控制（精密控制
d.最大100µm掃描（Z方向9µM ）
e.高分辨率的大范圍掃描器
低噪音激光器和控制器+24位控制+伸縮臺(tái)階（專(zhuān)利技術(shù)）=完整的低噪音回路=一體式掃描器。大范圍掃描，高分辨率，且無(wú)需更換掃描器。
自動(dòng)設(shè)置和自動(dòng)開(kāi)關(guān)
1.自動(dòng)調(diào)諧集成鎖相（AC和單通KFM模式）
2.自動(dòng)設(shè)置電子系統(tǒng)（無(wú)需使用者連接電纜或模塊）
3.頂部和側(cè)面視圖（探針-樣品趨近簡(jiǎn)單- >不會(huì)撞針）
4.直觀的軟件和預(yù)先配置的AFM模式
配置齊全AFM
易于使用（頂部和側(cè)面的視圖，直觀的軟件，觸摸屏控制）
高達(dá)100µm范圍掃描（Z方向9µM）
高分辨率
集成鎖相（高靈敏度）
24位控制
多模式
接觸/摩擦&振蕩模式/相位
Conductive AFM（導(dǎo)電AFM）
PFM (壓電響應(yīng))
MFM/EFM（磁力/靜電力）
力調(diào)制
適用于不同環(huán)境的真實(shí)設(shè)計(jì)
EZ溫度 : 溫度控制，可達(dá)200°
對(duì)于壓電器件可以進(jìn)行更穩(wěn)定的加熱分離（不漂移）
與大氣控制、液體模式和所有電模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容
大氣控制（氣體和濕度）
光電探測(cè)器和激光器在箱體外部（濕度控制不會(huì)造成電子件損害）
光電探測(cè)器和激光器可以正常對(duì)齊（不在一個(gè)盒子里解決- >沒(méi)有盒子）
容易和快速設(shè)置
與電氣測(cè)量模式是最佳的兼容(KFM, ResiScope…)
EZ液體：液體測(cè)量
壓電保護(hù)
激光容易對(duì)準(zhǔn)（可以利用頂部視頻在空氣中對(duì)準(zhǔn)激光）
非常穩(wěn)定的“振蕩模式”的決方案
易于使用且更成功的原子力顯微鏡測(cè)量！
熱測(cè)量
局部加熱（探針）
或熱測(cè)量
最佳的電氣模塊
HD-KFM :
在市場(chǎng)上有最好的分辨率和靈敏度（更好的算法，根據(jù)不同樣品有兩種模式，更好的鎖相靈敏度…）
易用使用（自動(dòng)調(diào)用智能算法，無(wú)需經(jīng)驗(yàn)）
ResiScope :
10個(gè)數(shù)量級(jí)-從100Ω~1TΩ之間（競(jìng)爭(zhēng)者最多只覆蓋了7個(gè)數(shù)量級(jí)）
較低的電流流經(jīng)探針/樣品（不會(huì)局部氧化，不會(huì)因?yàn)楦唠娏鲹p害探針/樣品）
同時(shí)兼容AC模式成像和EFM/MFM 模式或者HD-KFM 模式，且不會(huì)任何變動(dòng)或丟失樣品的位置！
Soft-ResiScope :
跟ResiScope一樣，仍然有10個(gè)數(shù)量級(jí)，允許軟性樣品成像成像和電阻/電流測(cè)量。
CSI原子力顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域
物理實(shí)驗(yàn)室：材料，高分子聚合物，電氣特性，磁場(chǎng)，壓電領(lǐng)域…
化學(xué)實(shí)驗(yàn)室：分子電子或組織。太陽(yáng)能電池，電池，聚合物，電化學(xué)
半導(dǎo)體：研究和研發(fā)
多用途用戶(hù)如：化學(xué)實(shí)驗(yàn)室+生物實(shí)驗(yàn)室
RTESPA-300 F 300 kHz K 40 N/m 輕敲探針原子力顯微鏡AFM探針
更多產(chǎn)品 www.labandmore.com
探針品牌
www.nanoworld.com
產(chǎn)品描述
全世界使用最廣泛的、口碑最好的SPM、AFM探針，可適用于所有的市售SPM和AFM設(shè)備。 本包裝為單組10個(gè)的高品質(zhì)濕法刻蝕的硅探針，可用于輕敲模式™ ，動(dòng)態(tài)模式和其他非接觸模式檢測(cè)。 所有的探針均為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的硅SPM和AFM探針，可用于高靈敏度和高分辨率成像適用于各種樣品類(lèi)型的輕敲模式、動(dòng)態(tài)模式或空氣中的非接觸模式檢測(cè)。
Pointprobe®系列的所有SPM和AFM探針都是由高摻雜的硅片制成 。這種探針材料可以消散靜電，并具有化學(xué)惰性，還可提供高靈敏 度的高機(jī)械Q因子。
該探針提供了以下特性：- 針尖曲率半徑 < 8 nm- 高摻雜消散靜電荷- 懸臂背面鍍鋁- 高機(jī)械品質(zhì)因數(shù)確保高靈敏度
探針鍍層
懸臂背面鍍鋁
探針參數(shù)
針尖:
-
shape:Rotated(symmetric) height:10 - 15 µm radius:8nm
懸臂梁:
-
shape:rectangular
-
length:125 µm (115 - 135 µm)*
-
width:28 µm (30 - 42 µm)*
-
thickness:4 µm (3.5 - 4.5 µm)*
-
force constant:40 N/m (20 - 80 N/m)*
-
resonance frequency:300 kHz (200 - 400 kHz)*
AFM原子力顯微鏡
原子力顯微鏡
晶體掃描儀(Crystal Scanner TM)是美國(guó)PNI公司開(kāi)發(fā)的一種新穎的掃描儀。使用該掃描儀，無(wú)需知道更多掃描探針顯微學(xué)(SPM)知識(shí)的人士便可獲得納米范圍的形貌像。晶體掃描儀的核心是一種新型的無(wú)需復(fù)雜光路調(diào)整(Alignment)過(guò)程的力傳感器。它能夠進(jìn)行納米結(jié)構(gòu)的成像和分析。 使用裝有晶體掃描儀的Nano-R TM原子力顯微鏡(AFM)，工程師和科學(xué)工作者無(wú)需等候獲得掃描的納米結(jié)構(gòu)圖像，而是直接測(cè)量物體的形貌像。公司和研究機(jī)構(gòu)也不用雇傭AFM專(zhuān)家，這樣可為納米技術(shù)的研究、發(fā)展和工藝控制節(jié)省大量的成本。 晶體掃描儀在納米牛頓力測(cè)量領(lǐng)域內(nèi)注入了新的設(shè)計(jì)理念。將該掃描儀與Nano-R TM型AFM的測(cè)試臺(tái)和軟件相結(jié)合，便可以得到一個(gè)新的用戶(hù)友好接口的納米成像儀器。尤其是，當(dāng)配合點(diǎn)和掃描(Point & Scan TM)技術(shù)，將大大簡(jiǎn)化儀器的操作過(guò)程。
原子力顯微鏡
點(diǎn)和掃描技術(shù) 點(diǎn)和掃描技術(shù)大大減少了傳統(tǒng)系統(tǒng)軟件的復(fù)雜性，只要按照屏幕上的操作提示便可完成測(cè)試。幾步操作后，實(shí)驗(yàn)人員便可以在計(jì)算機(jī)屏幕上看到圖像。 點(diǎn)和掃描技術(shù)使用標(biāo)準(zhǔn)的納米成像操作步驟。步驟如下：
選擇樣品類(lèi)型；
將樣品放置于顯微鏡下；
如有必要，更換晶體傳感器(只需幾分鐘)；
選擇要掃描的樣品區(qū)域；
成像操作。
上述的納米成像過(guò)程同樣可以分析DVD和半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)以及對(duì)納米管、納米粒子和納米晶體進(jìn)行高分辨的納米成像。 點(diǎn)和掃描技術(shù)包括3個(gè)方面的創(chuàng)新性：晶體傳感器，測(cè)試臺(tái)的自動(dòng)化和軟件。
晶體傳感器
晶體掃描儀里的力傳感器是一種非常小的晶體振蕩器，在其晶體的末端裝有針尖，如圖1和2所示。當(dāng)探針靠近樣品表面時(shí)，其振蕩的振幅將衰減。衰減的幅度取決于探針和樣品之間的作用力。掃描時(shí)，使用軟件可以?xún)?yōu)化振蕩頻率和力的大小。使用時(shí)，晶體傳感器無(wú)需任何力的調(diào)整。 
圖1晶體掃描儀中的石英交叉晶體 圖2晶體傳感器安裝在零插入力模塊上
- 測(cè)試臺(tái)自動(dòng)化
的測(cè)試臺(tái)自動(dòng)化大大簡(jiǎn)化了裝有晶體傳感器的Nano-R TM型AFM的操作過(guò)程。結(jié)合馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的光學(xué)系統(tǒng)、樣品定位和探針-樣品控制，無(wú)需任何手動(dòng)調(diào)整。因此，便可以實(shí)現(xiàn)“放置樣品-設(shè)定掃描區(qū)域-開(kāi)始掃描”的簡(jiǎn)單操作過(guò)程。
晶體掃描軟件
晶體掃描軟件(CSS)大大簡(jiǎn)化了晶體掃描儀的操作。安裝CSS后，實(shí)驗(yàn)人員便可以從窗口菜單上選擇需要成像的樣品類(lèi)型。有關(guān)樣品類(lèi)型的信息可存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)內(nèi)，需要時(shí)可調(diào)用。例如，CSS可以使用設(shè)置的掃描參數(shù)。CSS與測(cè)試臺(tái)自動(dòng)化的相結(jié)合是一個(gè)強(qiáng)有力的工具。舉例來(lái)說(shuō)，當(dāng)運(yùn)行CSS時(shí)，樣品臺(tái)會(huì)自動(dòng)移動(dòng)到樣品適于成像的位置。CSS也可以將樣品進(jìn)一步設(shè)置成適于視頻光學(xué)記錄的位置。 實(shí)驗(yàn)人員必須更換樣品和探針。為了簡(jiǎn)化操作過(guò)程，幾個(gè)視頻系統(tǒng)集成于CSS中。這些配置有利于示意如何更換探針以及放置樣品到成像的位置。軟件接口如圖3所示。 
圖3軟件接口
CSS軟件的算法可用來(lái)判斷探針的成像質(zhì)量和優(yōu)化掃描參數(shù)。對(duì)某些特殊的樣品，這些算法的運(yùn)用可設(shè)計(jì)成樣品信息文件。
的掃描儀設(shè)計(jì) 使用移動(dòng)探針的彎曲壓電掃描儀設(shè)計(jì)可確保精確測(cè)量。這樣，在x-y-z軸和圖像間可測(cè)量最小的色度亮度干擾，以表明沒(méi)有背底彎曲。 外置的x、y、z軸校準(zhǔn)傳感器可監(jiān)視彎曲掃描儀的動(dòng)作。這種傳感器在x、y、z軸線(xiàn)性化和校準(zhǔn)掃描儀顯得非常必要。這些傳感器對(duì)于點(diǎn)和位置測(cè)量也很有必要，對(duì)于圖像中某個(gè)特殊形貌的放大應(yīng)用也顯得非常必要。晶體掃描儀的技術(shù)參數(shù)如表1。 表1? 晶體掃描儀的技術(shù)參數(shù)
| 范圍 | 線(xiàn)性度 | 干擾 | 噪聲 | |||
X-Y | 65 微米 | X-Y-Z | < 1% | XY | < 1% | Vertical < 0.1 nm |
Z | 8 微米 | ZX | < 2% | |||
ZY | < 2% | |||||
與光杠桿傳感器的切換 常規(guī)的AFM使用光杠桿(Light Lever)來(lái)測(cè)量探針與樣品之間的作用力。盡管光杠桿機(jī)構(gòu)較為復(fù)雜且需要調(diào)光路，但也有一些優(yōu)點(diǎn)。其主要優(yōu)點(diǎn)是：可以進(jìn)行材料敏感模式的測(cè)量，如側(cè)向力或摩擦力像和相位移成像；另外，還可進(jìn)行磁力和靜電力成像。 Nano-R TM型AFM測(cè)試臺(tái)可與光杠桿傳感器兼容。只需幾分鐘便可切換光杠桿傳感器和晶體傳感器。切換安裝后，光杠桿式AFM便可以進(jìn)行接觸或振蕩模式的形貌像測(cè)量。
應(yīng)用 使用晶體掃描儀的Nano-R TM型AFM可測(cè)量各種樣品如工業(yè)樣品和需要高分辨成像的納米結(jié)構(gòu)的形貌像。工業(yè)樣品包括DVD、顯微鏡頭、紙張、光柵和圖形化的芯片。高分辨成像的納米結(jié)構(gòu)包括晶粒、納米粒子、納米晶體和納米管。圖4示出了一些使用晶體掃描儀的AFM形貌像。 
AFM原子力顯微鏡
原子力顯微鏡
晶體掃描儀(Crystal Scanner TM)是美國(guó)PNI公司開(kāi)發(fā)的一種新穎的掃描儀。使用該掃描儀，無(wú)需知道更多掃描探針顯微學(xué)(SPM)知識(shí)的人士便可獲得納米范圍的形貌像。晶體掃描儀的核心是一種新型的無(wú)需復(fù)雜光路調(diào)整(Alignment)過(guò)程的力傳感器。它能夠進(jìn)行納米結(jié)構(gòu)的成像和分析。 使用裝有晶體掃描儀的Nano-R TM原子力顯微鏡(AFM)，工程師和科學(xué)工作者無(wú)需等候獲得掃描的納米結(jié)構(gòu)圖像，而是直接測(cè)量物體的形貌像。公司和研究機(jī)構(gòu)也不用雇傭AFM專(zhuān)家，這樣可為納米技術(shù)的研究、發(fā)展和工藝控制節(jié)省大量的成本。 晶體掃描儀在納米牛頓力測(cè)量領(lǐng)域內(nèi)注入了新的設(shè)計(jì)理念。將該掃描儀與Nano-R TM型AFM的測(cè)試臺(tái)和軟件相結(jié)合，便可以得到一個(gè)新的用戶(hù)友好接口的納米成像儀器。尤其是，當(dāng)配合點(diǎn)和掃描(Point & Scan TM)技術(shù)，將大大簡(jiǎn)化儀器的操作過(guò)程。
原子力顯微鏡
點(diǎn)和掃描技術(shù) 點(diǎn)和掃描技術(shù)大大減少了傳統(tǒng)系統(tǒng)軟件的復(fù)雜性，只要按照屏幕上的操作提示便可完成測(cè)試。幾步操作后，實(shí)驗(yàn)人員便可以在計(jì)算機(jī)屏幕上看到圖像。 點(diǎn)和掃描技術(shù)使用標(biāo)準(zhǔn)的納米成像操作步驟。步驟如下：
選擇樣品類(lèi)型；
將樣品放置于顯微鏡下；
如有必要，更換晶體傳感器(只需幾分鐘)；
選擇要掃描的樣品區(qū)域；
成像操作。
上述的納米成像過(guò)程同樣可以分析DVD和半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)以及對(duì)納米管、納米粒子和納米晶體進(jìn)行高分辨的納米成像。 點(diǎn)和掃描技術(shù)包括3個(gè)方面的創(chuàng)新性：晶體傳感器，測(cè)試臺(tái)的自動(dòng)化和軟件。
晶體傳感器
晶體掃描儀里的力傳感器是一種非常小的晶體振蕩器，在其晶體的末端裝有針尖，如圖1和2所示。當(dāng)探針靠近樣品表面時(shí)，其振蕩的振幅將衰減。衰減的幅度取決于探針和樣品之間的作用力。掃描時(shí)，使用軟件可以?xún)?yōu)化振蕩頻率和力的大小。使用時(shí)，晶體傳感器無(wú)需任何力的調(diào)整。
圖1晶體掃描儀中的石英交叉晶體 圖2晶體傳感器安裝在零插入力模塊上
- 測(cè)試臺(tái)自動(dòng)化
的測(cè)試臺(tái)自動(dòng)化大大簡(jiǎn)化了裝有晶體傳感器的Nano-R TM型AFM的操作過(guò)程。結(jié)合馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的光學(xué)系統(tǒng)、樣品定位和探針-樣品控制，無(wú)需任何手動(dòng)調(diào)整。因此，便可以實(shí)現(xiàn)“放置樣品-設(shè)定掃描區(qū)域-開(kāi)始掃描”的簡(jiǎn)單操作過(guò)程。
晶體掃描軟件
晶體掃描軟件(CSS)大大簡(jiǎn)化了晶體掃描儀的操作。安裝CSS后，實(shí)驗(yàn)人員便可以從窗口菜單上選擇需要成像的樣品類(lèi)型。有關(guān)樣品類(lèi)型的信息可存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)內(nèi)，需要時(shí)可調(diào)用。例如，CSS可以使用設(shè)置的掃描參數(shù)。CSS與測(cè)試臺(tái)自動(dòng)化的相結(jié)合是一個(gè)強(qiáng)有力的工具。舉例來(lái)說(shuō)，當(dāng)運(yùn)行CSS時(shí)，樣品臺(tái)會(huì)自動(dòng)移動(dòng)到樣品適于成像的位置。CSS也可以將樣品進(jìn)一步設(shè)置成適于視頻光學(xué)記錄的位置。 實(shí)驗(yàn)人員必須更換樣品和探針。為了簡(jiǎn)化操作過(guò)程，幾個(gè)視頻系統(tǒng)集成于CSS中。這些配置有利于示意如何更換探針以及放置樣品到成像的位置。軟件接口如圖3所示。 圖3軟件接口
CSS軟件的算法可用來(lái)判斷探針的成像質(zhì)量和優(yōu)化掃描參數(shù)。對(duì)某些特殊的樣品，這些算法的運(yùn)用可設(shè)計(jì)成樣品信息文件。
的掃描儀設(shè)計(jì) 使用移動(dòng)探針的彎曲壓電掃描儀設(shè)計(jì)可確保精確測(cè)量。這樣，在x-y-z軸和圖像間可測(cè)量最小的色度亮度干擾，以表明沒(méi)有背底彎曲。 外置的x、y、z軸校準(zhǔn)傳感器可監(jiān)視彎曲掃描儀的動(dòng)作。這種傳感器在x、y、z軸線(xiàn)性化和校準(zhǔn)掃描儀顯得非常必要。這些傳感器對(duì)于點(diǎn)和位置測(cè)量也很有必要，對(duì)于圖像中某個(gè)特殊形貌的放大應(yīng)用也顯得非常必要。晶體掃描儀的技術(shù)參數(shù)如表1。 表1? 晶體掃描儀的技術(shù)參數(shù)
| 范圍 | 線(xiàn)性度 | 干擾 | 噪聲 | |||
X-Y | 65 微米 | X-Y-Z | < 1% | XY | < 1% | Vertical < 0.1 nm |
Z | 8 微米 | ZX | < 2% | |||
ZY | < 2% | |||||
與光杠桿傳感器的切換 常規(guī)的AFM使用光杠桿(Light Lever)來(lái)測(cè)量探針與樣品之間的作用力。盡管光杠桿機(jī)構(gòu)較為復(fù)雜且需要調(diào)光路，但也有一些優(yōu)點(diǎn)。其主要優(yōu)點(diǎn)是：可以進(jìn)行材料敏感模式的測(cè)量，如側(cè)向力或摩擦力像和相位移成像；另外，還可進(jìn)行磁力和靜電力成像。 Nano-R TM型AFM測(cè)試臺(tái)可與光杠桿傳感器兼容。只需幾分鐘便可切換光杠桿傳感器和晶體傳感器。切換安裝后，光杠桿式AFM便可以進(jìn)行接觸或振蕩模式的形貌像測(cè)量。
應(yīng)用 使用晶體掃描儀的Nano-R TM型AFM可測(cè)量各種樣品如工業(yè)樣品和需要高分辨成像的納米結(jié)構(gòu)的形貌像。工業(yè)樣品包括DVD、顯微鏡頭、紙張、光柵和圖形化的芯片。高分辨成像的納米結(jié)構(gòu)包括晶粒、納米粒子、納米晶體和納米管。圖4示出了一些使用晶體掃描儀的AFM形貌像。
NanoFirst-3000型輕敲式原子力顯微鏡
原子力顯微鏡——極高性?xún)r(jià)比
Innova SPM 掃描探針顯微鏡原子力顯微鏡
· 的信號(hào)讀錄與輸入功能便于用戶(hù)自己設(shè)計(jì)研究方法
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