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AFM-III型MicroNano 原子力顯微鏡

簡 介這款機(jī)型除了擁有AFM-II型原子力顯微鏡的全部功能以外，主要增加了AFM側(cè)向力/輕敲掃描模式(Tapping Mode)，特別適用于檢測生物樣品及其它柔軟、易碎、粘附性較強(qiáng)的樣品。具有STM恒流模式/恒高模式形貌檢測， I-V曲線測量， I-Z曲線測量，針尖修飾功能。AFM接觸/非接觸/側(cè)向力/輕敲掃描模式形貌檢測功能，劃移掃描，F(xiàn)-Z曲線測量功能。并使用了智能針尖連接專利技術(shù)，使各種工作模式之間的轉(zhuǎn)換只需替換相應(yīng)的針尖架，不必替換整個探頭，軟件能夠自動識別當(dāng)前針尖類型，并自動切換到相應(yīng)的工作模式。操作非常方便。用戶還能根據(jù)不同的科研要求，選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器，以及高分辨CCD觀測系統(tǒng)和高精度樣品X-Y移動平臺，使操作更加方便、精確。同我們所有MicroNano 系列產(chǎn)品一樣，這款機(jī)型還可以根據(jù)用戶需要，選購相應(yīng)的功能模塊，將功能擴(kuò)展至磁力顯微鏡模式。技 術(shù) 指 標(biāo)¨掃描模式：STM恒流/恒高模式掃描/ I-V曲線測量/I-Z曲線測量/針尖修飾（脈沖）AFM接觸/非接觸/側(cè)向力/輕敲模式形貌/劃移掃描/F-Z曲線¨樣品尺寸：≤Φ10mm¨樣品厚度：≤5mm¨掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm¨分辨率：STM（X-Y向0.1nm；Z向0.01nm）接觸模式AFM（X-Y向0.2nm；Z向0.03nm）輕敲模式AFM( x,y方向0.2 nm，z方向0.1nm)¨XYZ控制：雙12-bit D/A（相當(dāng)于20位精度）¨數(shù)據(jù)采樣：雙12-bit A/D （相當(dāng)于20位精度）¨最大掃描速率：20000 P/S ¨掃描角度：0~360° ¨圖像采樣點：256×256 / 512×512¨馬達(dá)控制：線動螺紋+自動馬達(dá)，行程〈10mm，精度〈0.1μm ¨計算機(jī)接口：標(biāo)準(zhǔn)并行口¨配套功能強(qiáng)大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)可 選 配 件 及 功 能 模 塊¨3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm規(guī)格掃描器¨高分辨CCD觀測系統(tǒng)¨高精度樣品X-Y移動平臺¨MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊

AFM NanoFirst-2000原子力顯微鏡

儀器特點： 計算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡捷直觀。 步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖－－樣品逼近，實驗圓滿成功。 深度陡度測量，三維顯示。 納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計。 Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域． 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計算機(jī)卡 樣品觀測范圍從0.001um-20000um。 掃描速度達(dá)40000點/秒 可選配納米刻蝕功能模塊。  技術(shù)指標(biāo) ：

AFM探頭 樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。 XY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米 0.25nm 0.03nm(云母定標(biāo)) XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米 掃描器、針尖座智能識別 44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配) AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配） 全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購）  電子學(xué)控制器： XTZ控制 18-Bit D/A 數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣 Z向反饋 DSP數(shù)字反饋 反饋采樣速率 64.0KHz 高壓放大器 集成高壓運算放大器，最大電壓范圍+/-150V 頻率范圍 --- 幅度范圍 --- 掃描速率 21Hz 掃描角度 0-360度 掃描偏移 任意 圖像采樣點 256X256或512X512 步進(jìn)馬達(dá)控制 手動和自動進(jìn)退 計算機(jī)接口 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB

Dimension Icon。原子力顯微鏡 布魯克（原veeco）

 Dimension Icon 系列作為布魯克公司（Bruker AXS） 原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品，凝聚了多項的專利技術(shù)，是二十多年技術(shù)創(chuàng)新、客戶反饋和行業(yè)應(yīng)用的結(jié)晶。 Dimension Icon 的出現(xiàn)為科學(xué)和工業(yè)界在納米尺度的研究帶來了革命性的之作。Dimension Icon 可以實現(xiàn)所有主要的掃描探針成像技術(shù)，其測試樣品尺寸可達(dá)：直徑210mm，厚度15mm。溫度補(bǔ)償位置傳感器使Z-軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現(xiàn)出前所未有的高分辨率。對于大樣品、90微米掃描范圍的系統(tǒng)來說，這種噪音水平超越了所有的開環(huán)掃描高分辨率的原子力顯微鏡。的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大提高了掃描速度。探針和樣品臺的開放式設(shè)計使 Icon 可勝任各種標(biāo)準(zhǔn)和非標(biāo)準(zhǔn)的實驗。

Dimension Icon的硬件和軟件的利用了的布魯克AFM的模式和技術(shù)，如高次諧波共振模式等。并且，獨有的不失真高溫成像技術(shù)采用對針尖和樣品同時加熱的方法，減少針尖和樣品之間的溫差，避免造成成像失真。
Dimension Icon 可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)，物理，化學(xué)，微電子，生命科學(xué)等領(lǐng)域和學(xué)科。
仿真應(yīng)用解決方案 電動運動控制系統(tǒng) 通用均勻光源系統(tǒng) X ray檢測設(shè)備

法國CSI原子力顯微鏡超高精度一體式掃描器

 低噪音的激光器和電子系統(tǒng)、無干擾、純偏轉(zhuǎn)信號，更好的分辨率（圖像和力曲線）。

  XY驅(qū)動分辨率：24位控制，0.06Am；

  Z驅(qū)動分辨率：24位控制，0.006Am；

  微弱的相干激光器：658nm波長，功率小于1mw。

升縮臺的結(jié)構(gòu)（專利技術(shù)）

有專利的伸縮放大臺階且低噪音的，三軸獨立，原子臺階及分子分辨率，直到100µm掃描，

掃描分辨率X-Y：0.06nm，Z：0.006nm， 不像壓電陶瓷管那樣易碎而且伸縮有弓效果。

智能化AFM

a.  低噪聲低功耗相干激光器

b.低噪音控制器（低電壓驅(qū)動壓電掃描器）

c.24位DAC控制（精密控制

d.最大100µm掃描（Z方向9µM ）

e.高分辨率的大范圍掃描器

低噪音激光器和控制器+24位控制+伸縮臺階（專利技術(shù)）=完整的低噪音回路=一體式掃描器。大范圍掃描，高分辨率，且無需更換掃描器。

 

自動設(shè)置和自動開關(guān)

1.自動調(diào)諧集成鎖相（AC和單通KFM模式）

2.自動設(shè)置電子系統(tǒng)（無需使用者連接電纜或模塊）

3.頂部和側(cè)面視圖（探針-樣品趨近簡單- >不會撞針）

4.直觀的軟件和預(yù)先配置的AFM模式

配置齊全AFM

易于使用（頂部和側(cè)面的視圖，直觀的軟件，觸摸屏控制）

高達(dá)100µm范圍掃描（Z方向9µM）

高分辨率

集成鎖相（高靈敏度）

24位控制

多模式

接觸/摩擦&振蕩模式/相位

Conductive AFM（導(dǎo)電AFM）

PFM (壓電響應(yīng))

MFM/EFM（磁力/靜電力）

力調(diào)制

適用于不同環(huán)境的真實設(shè)計

EZ溫度 : 溫度控制，可達(dá)200°

對于壓電器件可以進(jìn)行更穩(wěn)定的加熱分離（不漂移）

 與大氣控制、液體模式和所有電模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容

大氣控制（氣體和濕度）

光電探測器和激光器在箱體外部（濕度控制不會造成電子件損害）

光電探測器和激光器可以正常對齊（不在一個盒子里解決- >沒有盒子）

容易和快速設(shè)置

與電氣測量模式是最佳的兼容(KFM, ResiScope…)

EZ液體：液體測量

壓電保護(hù)

激光容易對準(zhǔn)（可以利用頂部視頻在空氣中對準(zhǔn)激光）

非常穩(wěn)定的“振蕩模式”的決方案

   易于使用且更成功的原子力顯微鏡測量！

熱測量

局部加熱（探針）

或熱測量

最佳的電氣模塊

HD-KFM :

在市場上有最好的分辨率和靈敏度（更好的算法，根據(jù)不同樣品有兩種模式，更好的鎖相靈敏度…）

易用使用（自動調(diào)用智能算法，無需經(jīng)驗）

ResiScope :

10個數(shù)量級-從100Ω~1TΩ之間（競爭者最多只覆蓋了7個數(shù)量級）

較低的電流流經(jīng)探針/樣品（不會局部氧化，不會因為高電流損害探針/樣品）

     同時兼容AC模式成像和EFM/MFM 模式或者HD-KFM 模式，且不會任何變動或丟失樣品的位置！

 Soft-ResiScope :

跟ResiScope一樣，仍然有10個數(shù)量級，允許軟性樣品成像成像和電阻/電流測量。

CSI原子力顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域

物理實驗室：材料，高分子聚合物，電氣特性，磁場，壓電領(lǐng)域…

化學(xué)實驗室：分子電子或組織。太陽能電池，電池，聚合物，電化學(xué)

半導(dǎo)體：研究和研發(fā)

多用途用戶如：化學(xué)實驗室+生物實驗室

該公司產(chǎn)品分類： 水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀 金相顯微鏡 輪廓儀 攝像機(jī) 激光產(chǎn)品 CCD相機(jī)/影像CCD 掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM） 激光共聚焦顯微鏡 三坐標(biāo) 三坐標(biāo)測量機(jī) 原子力顯微鏡 CSI原子力顯微鏡 表面三維形貌輪廓儀 三維形貌輪廓儀 高速相機(jī) 高速攝像機(jī) 影像儀 共聚焦顯微鏡 自動影像儀 NanoFocus

RTESPA-300 F 300 kHz K 40 N/m 輕敲探針原子力顯微鏡AFM探針

更多產(chǎn)品 www.labandmore.com

探針品牌

www.nanoworld.com

產(chǎn)品描述

全世界使用最廣泛的、口碑最好的SPM、AFM探針，可適用于所有的市售SPM和AFM設(shè)備。 本包裝為單組10個的高品質(zhì)濕法刻蝕的硅探針，可用于輕敲模式™ ，動態(tài)模式和其他非接觸模式檢測。 所有的探針均為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的硅SPM和AFM探針，可用于高靈敏度和高分辨率成像適用于各種樣品類型的輕敲模式、動態(tài)模式或空氣中的非接觸模式檢測。

Pointprobe®系列的所有SPM和AFM探針都是由高摻雜的硅片制成 。這種探針材料可以消散靜電，并具有化學(xué)惰性，還可提供高靈敏 度的高機(jī)械Q因子。

該探針提供了以下特性：- 針尖曲率半徑 < 8 nm- 高摻雜消散靜電荷- 懸臂背面鍍鋁- 高機(jī)械品質(zhì)因數(shù)確保高靈敏度

探針鍍層

懸臂背面鍍鋁

探針參數(shù) 

針尖:

  • shape:Rotated(symmetric)   height:10 - 15 µm   radius:8nm

懸臂梁:

  • shape:rectangular

  • length:125 µm (115 - 135 µm)*

  • width:28 µm (30 - 42 µm)*

  • thickness:4 µm (3.5 - 4.5 µm)*

  • force constant:40 N/m (20 - 80 N/m)*

  • resonance frequency:300 kHz (200 - 400 kHz)*

該公司產(chǎn)品分類： 原子力顯微鏡 原子力顯微鏡AFM探針

AFM原子力顯微鏡

原子力顯微鏡

晶體掃描儀(Crystal Scanner TM)是美國PNI公司開發(fā)的一種新穎的掃描儀。使用該掃描儀，無需知道更多掃描探針顯微學(xué)(SPM)知識的人士便可獲得納米范圍的形貌像。晶體掃描儀的核心是一種新型的無需復(fù)雜光路調(diào)整(Alignment)過程的力傳感器。它能夠進(jìn)行納米結(jié)構(gòu)的成像和分析。 使用裝有晶體掃描儀的Nano-R TM原子力顯微鏡(AFM)，工程師和科學(xué)工作者無需等候獲得掃描的納米結(jié)構(gòu)圖像，而是直接測量物體的形貌像。公司和研究機(jī)構(gòu)也不用雇傭AFM專家，這樣可為納米技術(shù)的研究、發(fā)展和工藝控制節(jié)省大量的成本。 晶體掃描儀在納米牛頓力測量領(lǐng)域內(nèi)注入了新的設(shè)計理念。將該掃描儀與Nano-R TM型AFM的測試臺和軟件相結(jié)合，便可以得到一個新的用戶友好接口的納米成像儀器。尤其是，當(dāng)配合點和掃描(Point & Scan TM)技術(shù)，將大大簡化儀器的操作過程。

原子力顯微鏡

點和掃描技術(shù) 點和掃描技術(shù)大大減少了傳統(tǒng)系統(tǒng)軟件的復(fù)雜性，只要按照屏幕上的操作提示便可完成測試。幾步操作后，實驗人員便可以在計算機(jī)屏幕上看到圖像。 點和掃描技術(shù)使用標(biāo)準(zhǔn)的納米成像操作步驟。步驟如下：

  • 選擇樣品類型；

  • 將樣品放置于顯微鏡下；

  • 如有必要，更換晶體傳感器(只需幾分鐘)；

  • 選擇要掃描的樣品區(qū)域；

  • 成像操作。

上述的納米成像過程同樣可以分析DVD和半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)以及對納米管、納米粒子和納米晶體進(jìn)行高分辨的納米成像。 點和掃描技術(shù)包括3個方面的創(chuàng)新性：晶體傳感器，測試臺的自動化和軟件。

  • 晶體傳感器

晶體掃描儀里的力傳感器是一種非常小的晶體振蕩器，在其晶體的末端裝有針尖，如圖1和2所示。當(dāng)探針靠近樣品表面時，其振蕩的振幅將衰減。衰減的幅度取決于探針和樣品之間的作用力。掃描時，使用軟件可以優(yōu)化振蕩頻率和力的大小。使用時，晶體傳感器無需任何力的調(diào)整。 1 2

圖1晶體掃描儀中的石英交叉晶體 圖2晶體傳感器安裝在零插入力模塊上

  • 測試臺自動化

的測試臺自動化大大簡化了裝有晶體傳感器的Nano-R TM型AFM的操作過程。結(jié)合馬達(dá)驅(qū)動的光學(xué)系統(tǒng)、樣品定位和探針-樣品控制，無需任何手動調(diào)整。因此，便可以實現(xiàn)“放置樣品-設(shè)定掃描區(qū)域-開始掃描”的簡單操作過程。

  • 晶體掃描軟件

晶體掃描軟件(CSS)大大簡化了晶體掃描儀的操作。安裝CSS后，實驗人員便可以從窗口菜單上選擇需要成像的樣品類型。有關(guān)樣品類型的信息可存儲在計算機(jī)內(nèi)，需要時可調(diào)用。例如，CSS可以使用設(shè)置的掃描參數(shù)。CSS與測試臺自動化的相結(jié)合是一個強(qiáng)有力的工具。舉例來說，當(dāng)運行CSS時，樣品臺會自動移動到樣品適于成像的位置。CSS也可以將樣品進(jìn)一步設(shè)置成適于視頻光學(xué)記錄的位置。 實驗人員必須更換樣品和探針。為了簡化操作過程，幾個視頻系統(tǒng)集成于CSS中。這些配置有利于示意如何更換探針以及放置樣品到成像的位置。軟件接口如圖3所示。 3圖3軟件接口

CSS軟件的算法可用來判斷探針的成像質(zhì)量和優(yōu)化掃描參數(shù)。對某些特殊的樣品，這些算法的運用可設(shè)計成樣品信息文件。

的掃描儀設(shè)計 使用移動探針的彎曲壓電掃描儀設(shè)計可確保精確測量。這樣，在x-y-z軸和圖像間可測量最小的色度亮度干擾，以表明沒有背底彎曲。 外置的x、y、z軸校準(zhǔn)傳感器可監(jiān)視彎曲掃描儀的動作。這種傳感器在x、y、z軸線性化和校準(zhǔn)掃描儀顯得非常必要。這些傳感器對于點和位置測量也很有必要，對于圖像中某個特殊形貌的放大應(yīng)用也顯得非常必要。晶體掃描儀的技術(shù)參數(shù)如表1。 表1? 晶體掃描儀的技術(shù)參數(shù)

范圍

線性度

干擾

噪聲

X-Y

65 微米

X-Y-Z

< 1%

XY

< 1%

Vertical < 0.1 nm

Z

8 微米

ZX

< 2%

ZY

< 2%

與光杠桿傳感器的切換 常規(guī)的AFM使用光杠桿(Light Lever)來測量探針與樣品之間的作用力。盡管光杠桿機(jī)構(gòu)較為復(fù)雜且需要調(diào)光路，但也有一些優(yōu)點。其主要優(yōu)點是：可以進(jìn)行材料敏感模式的測量，如側(cè)向力或摩擦力像和相位移成像；另外，還可進(jìn)行磁力和靜電力成像。 Nano-R TM型AFM測試臺可與光杠桿傳感器兼容。只需幾分鐘便可切換光杠桿傳感器和晶體傳感器。切換安裝后，光杠桿式AFM便可以進(jìn)行接觸或振蕩模式的形貌像測量。

應(yīng)用 使用晶體掃描儀的Nano-R TM型AFM可測量各種樣品如工業(yè)樣品和需要高分辨成像的納米結(jié)構(gòu)的形貌像。工業(yè)樣品包括DVD、顯微鏡頭、紙張、光柵和圖形化的芯片。高分辨成像的納米結(jié)構(gòu)包括晶粒、納米粒子、納米晶體和納米管。圖4示出了一些使用晶體掃描儀的AFM形貌像。 4567

AFM原子力顯微鏡

原子力顯微鏡

晶體掃描儀(Crystal Scanner TM)是美國PNI公司開發(fā)的一種新穎的掃描儀。使用該掃描儀，無需知道更多掃描探針顯微學(xué)(SPM)知識的人士便可獲得納米范圍的形貌像。晶體掃描儀的核心是一種新型的無需復(fù)雜光路調(diào)整(Alignment)過程的力傳感器。它能夠進(jìn)行納米結(jié)構(gòu)的成像和分析。 使用裝有晶體掃描儀的Nano-R TM原子力顯微鏡(AFM)，工程師和科學(xué)工作者無需等候獲得掃描的納米結(jié)構(gòu)圖像，而是直接測量物體的形貌像。公司和研究機(jī)構(gòu)也不用雇傭AFM專家，這樣可為納米技術(shù)的研究、發(fā)展和工藝控制節(jié)省大量的成本。 晶體掃描儀在納米牛頓力測量領(lǐng)域內(nèi)注入了新的設(shè)計理念。將該掃描儀與Nano-R TM型AFM的測試臺和軟件相結(jié)合，便可以得到一個新的用戶友好接口的納米成像儀器。尤其是，當(dāng)配合點和掃描(Point & Scan TM)技術(shù)，將大大簡化儀器的操作過程。

原子力顯微鏡

點和掃描技術(shù) 點和掃描技術(shù)大大減少了傳統(tǒng)系統(tǒng)軟件的復(fù)雜性，只要按照屏幕上的操作提示便可完成測試。幾步操作后，實驗人員便可以在計算機(jī)屏幕上看到圖像。 點和掃描技術(shù)使用標(biāo)準(zhǔn)的納米成像操作步驟。步驟如下：

  • 選擇樣品類型；

  • 將樣品放置于顯微鏡下；

  • 如有必要，更換晶體傳感器(只需幾分鐘)；

  • 選擇要掃描的樣品區(qū)域；

  • 成像操作。

上述的納米成像過程同樣可以分析DVD和半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)以及對納米管、納米粒子和納米晶體進(jìn)行高分辨的納米成像。 點和掃描技術(shù)包括3個方面的創(chuàng)新性：晶體傳感器，測試臺的自動化和軟件。

  • 晶體傳感器

晶體掃描儀里的力傳感器是一種非常小的晶體振蕩器，在其晶體的末端裝有針尖，如圖1和2所示。當(dāng)探針靠近樣品表面時，其振蕩的振幅將衰減。衰減的幅度取決于探針和樣品之間的作用力。掃描時，使用軟件可以優(yōu)化振蕩頻率和力的大小。使用時，晶體傳感器無需任何力的調(diào)整。 1 2

圖1晶體掃描儀中的石英交叉晶體 圖2晶體傳感器安裝在零插入力模塊上

  • 測試臺自動化

的測試臺自動化大大簡化了裝有晶體傳感器的Nano-R TM型AFM的操作過程。結(jié)合馬達(dá)驅(qū)動的光學(xué)系統(tǒng)、樣品定位和探針-樣品控制，無需任何手動調(diào)整。因此，便可以實現(xiàn)“放置樣品-設(shè)定掃描區(qū)域-開始掃描”的簡單操作過程。

  • 晶體掃描軟件

晶體掃描軟件(CSS)大大簡化了晶體掃描儀的操作。安裝CSS后，實驗人員便可以從窗口菜單上選擇需要成像的樣品類型。有關(guān)樣品類型的信息可存儲在計算機(jī)內(nèi)，需要時可調(diào)用。例如，CSS可以使用設(shè)置的掃描參數(shù)。CSS與測試臺自動化的相結(jié)合是一個強(qiáng)有力的工具。舉例來說，當(dāng)運行CSS時，樣品臺會自動移動到樣品適于成像的位置。CSS也可以將樣品進(jìn)一步設(shè)置成適于視頻光學(xué)記錄的位置。 實驗人員必須更換樣品和探針。為了簡化操作過程，幾個視頻系統(tǒng)集成于CSS中。這些配置有利于示意如何更換探針以及放置樣品到成像的位置。軟件接口如圖3所示。 3圖3軟件接口

CSS軟件的算法可用來判斷探針的成像質(zhì)量和優(yōu)化掃描參數(shù)。對某些特殊的樣品，這些算法的運用可設(shè)計成樣品信息文件。

的掃描儀設(shè)計 使用移動探針的彎曲壓電掃描儀設(shè)計可確保精確測量。這樣，在x-y-z軸和圖像間可測量最小的色度亮度干擾，以表明沒有背底彎曲。 外置的x、y、z軸校準(zhǔn)傳感器可監(jiān)視彎曲掃描儀的動作。這種傳感器在x、y、z軸線性化和校準(zhǔn)掃描儀顯得非常必要。這些傳感器對于點和位置測量也很有必要，對于圖像中某個特殊形貌的放大應(yīng)用也顯得非常必要。晶體掃描儀的技術(shù)參數(shù)如表1。 表1? 晶體掃描儀的技術(shù)參數(shù)

范圍

線性度

干擾

噪聲

X-Y

65 微米

X-Y-Z

< 1%

XY

< 1%

Vertical < 0.1 nm

Z

8 微米

ZX

< 2%

ZY

< 2%

與光杠桿傳感器的切換 常規(guī)的AFM使用光杠桿(Light Lever)來測量探針與樣品之間的作用力。盡管光杠桿機(jī)構(gòu)較為復(fù)雜且需要調(diào)光路，但也有一些優(yōu)點。其主要優(yōu)點是：可以進(jìn)行材料敏感模式的測量，如側(cè)向力或摩擦力像和相位移成像；另外，還可進(jìn)行磁力和靜電力成像。 Nano-R TM型AFM測試臺可與光杠桿傳感器兼容。只需幾分鐘便可切換光杠桿傳感器和晶體傳感器。切換安裝后，光杠桿式AFM便可以進(jìn)行接觸或振蕩模式的形貌像測量。

應(yīng)用 使用晶體掃描儀的Nano-R TM型AFM可測量各種樣品如工業(yè)樣品和需要高分辨成像的納米結(jié)構(gòu)的形貌像。工業(yè)樣品包括DVD、顯微鏡頭、紙張、光柵和圖形化的芯片。高分辨成像的納米結(jié)構(gòu)包括晶粒、納米粒子、納米晶體和納米管。圖4示出了一些使用晶體掃描儀的AFM形貌像。 4567

NanoFirst-3000型輕敲式原子力顯微鏡

特點 激光反射式檢測工作模式輕敲式軟樣品成像能力，生物大分子及粉體納米材料檢測，超高分辨率輕敲模式、相位模式AFM接觸式形貌測量，原子力曲線采集顯示STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲線測量功能特殊設(shè)計液體池，具備液體中輕敲式AFM成像能力深度陡度測量，三維顯示納米材料粗糙度測量，顆粒粒徑度量及分布統(tǒng)計實時觀測比照的形貌圖、摩擦力圖、相位圖、靜電力圖、磁力圖實時多通道剖面圖顯示專為科研和工業(yè)應(yīng)用設(shè)計，結(jié)構(gòu)小巧美觀可 選配單分子操縱、局域電性能測量、納米刻蝕和加工功能DSP全數(shù)字化控制，操作簡潔直觀控制主機(jī)可以采用筆記本電腦，適合課堂現(xiàn)場演示XY二維樣品移動平臺，快速搜索感興趣的樣品區(qū)域步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖-樣品逼近(STM自動保護(hù)針尖)Windows全中文控制軟件，面 向?qū)ο笤O(shè)計提供實驗標(biāo)準(zhǔn)光柵、云母和HOPG樣品組合光學(xué)連續(xù)變倍顯微鏡，獨特的雙光路照明，樣品觀測范圍從1nm到20mm 360°彩色CCD成像系統(tǒng)，方便系統(tǒng)調(diào)整，可實時樣品錄像 RS232/USB接口，無需任何計算機(jī)卡，安裝簡單迅速 　 技術(shù)指標(biāo) 探頭：樣品尺寸：≤Φ30mm樣品厚度：≤15mmXY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm，可選3μm×3μm， 10μm×10μm，20μm×20μm，50μm×50μm,100μm×100μmXY向分辨力：0.4nm(輕敲式)，0.25nm(AFM)，0.1nm(STM)Z向分辨力：0.05nm(輕敲式,DNA定標(biāo))，0.03nm(AFM,云母定標(biāo))，0.01nm(STM,HOPG定標(biāo))XY二維樣品移動平臺范圍：0~5mm步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖-樣品逼近(STM自動保護(hù)針尖)僅需更換探針架，即可切換STM、接觸式AFM、輕敲模式電化學(xué)針尖塊，液體池，液體輕敲式AFM成像功能(選配)44～283X連續(xù)變倍彩色CCD觀察顯微系統(tǒng)全金屬屏蔽防震隔音箱(選配)精密隔震平臺(選配) 電子學(xué)控制器：XYZ控制：18-bit D/A數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D 、雙16-bit A/D多路同步采樣Z向反饋：DSP數(shù)字反饋反饋采樣速率：64.0kHz高壓放大器：集成高壓運算放大器，最大電壓范圍±170V正弦波頻率掃描范圍：0~1000000Hz正弦波幅度范圍：0~10.0V最大掃描率：〉40000點/秒掃描角度：0~360° 掃描偏移：任意 圖像采樣點：256×256或512×512步進(jìn)馬達(dá)控制：手動和自動進(jìn)退計算機(jī)接口：RS232/USB口 計算機(jī)軟件： 運行于中文Windows 98/2000/XP操作系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)視窗工作界面AFM輕敲模式、相位模式AFM接觸模式（Contact Mode AFM）、摩擦力模式（LFM）功能STM恒流模式、恒高模式功能(STM)多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖智能識別和控制系統(tǒng)狀態(tài)、儀器類型、掃描器和探針架參數(shù)DSP全數(shù)字控制的參數(shù)設(shè)置和采集AFM激光檢測系統(tǒng)的實時調(diào)整功能針尖共振峰自動搜索功能頻率-RMS（f-RMS）曲線測量功能RMS-間隙（RMS-Z）曲線測量功能原子力-間距（F-Z）曲線測量功能(AFM)電流-電壓隧道譜（I-V曲線）測量功能(STM)隧道電流-間隙（I-Z曲線）測量功能(STM)靜電力成像模式功能（選配）磁力成像模式功能（選配）支持步進(jìn)馬達(dá)自動驅(qū)進(jìn)到掃描器中心支持壓電掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動校正樣品傾斜度線平均、偏置實時校正功能實時調(diào)整本底及比例定點實時測試I-V、I-Z(STM)、F-Z(AFM)、RMS-Z功能鼠標(biāo)控制掃描區(qū)域平移、剪切功能用戶任意定義調(diào)色板功能圖像獲取文件連續(xù)存盤和自定義文件名,當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存功能圖像在線瀏覽，連續(xù)圖像獲取文件動態(tài)重現(xiàn)，納米電影功能圖形刻蝕模式、矢量掃描模式、納米操縱和加工模式（選配）完備的在線式智能提示及全程幫助樣品粒度、粗糙度分析標(biāo)準(zhǔn)離線分析和處理功能 增加第二顯示器（選配）

原子力顯微鏡——極高性價比

掃描范圍: XY方向70um、Z方向5um，另外有10um掃描器選配； 掃描步進(jìn)：70um掃描器＜1nm，10um掃描器＜0.1nm； 最大樣品尺寸：15mm×15mm； 反饋機(jī)制：光束偏轉(zhuǎn)； 操作模式：接觸式，非接觸式，敲擊式； 探針：可以使用通用的afm探針，也可以使用Nanonics專利的玻璃探針、電學(xué)熱學(xué)探針、Nanopen等；

Innova SPM 掃描探針顯微鏡原子力顯微鏡

 

Innova掃描探針顯微鏡以其高分辨率和的品質(zhì)，廣泛應(yīng)用于物理、生命科學(xué)和材料科學(xué)等諸多領(lǐng)域。Innova具有非常強(qiáng)的靈活性，高性價比地滿足各項科研的要求。的閉環(huán)掃描線性化系統(tǒng)、的設(shè)計及工藝確保測量精度以及接近于開環(huán)運行時的噪音水平。Innova可以輕松地在90微米掃描管上實現(xiàn)原子級分辨率。集成的高分辨率彩色光學(xué)系統(tǒng)，及可編程的電動Z軸工作臺等特性，使得被測區(qū)域的尋找及對準(zhǔn)、探針或樣品的更換等工作更快速及便捷。
 
主要特點：
·    獨有的閉環(huán)掃描控制，在開環(huán)噪聲水平上提供三維精確測
·    高分辨光學(xué)系統(tǒng)輔助精確探針定位
·    快速更換探針, 開放的樣品臺設(shè)計使得使用更方便，更容易
·    擁有所有SPM操作模式，為科學(xué)研究提供更高的應(yīng)用靈活性

·    的信號讀錄與輸入功能便于用戶自己設(shè)計研究方法

該公司產(chǎn)品分類： Pace金相加工設(shè)備 太陽能電池測試儀器 無損檢測儀器 實驗室耗材，配件等 德國BMT 汽車零部件檢測儀器 德國天頂天底儀 X射線熒光光譜儀 三坐標(biāo)測量儀 原子力顯微鏡AFM探針 臺階儀探針 原子力顯微鏡 光學(xué)輪廓儀 臺階儀

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