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CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀CMI760

CMI760

CMI760測(cè)厚儀專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。

CMI760測(cè)厚儀可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度和精確的測(cè)量。CMI760臺(tái)式測(cè)厚儀具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使這款測(cè)厚儀滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。

同時(shí)CMI760測(cè)厚儀具有的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。

CMI760測(cè)厚儀配置包括：

CMI760測(cè)厚儀主機(jī)
SRP-4探頭
SRP-4探頭替換用探針模塊（1個(gè)）
NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片

CMI760測(cè)厚儀選配配件：

ETP探頭
TRP探頭
SRG軟件

技術(shù)參數(shù)

SRP-4面銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

銅厚測(cè)量范圍：

化學(xué)銅：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm）

電鍍銅：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm）

線形銅可測(cè)試線寬范圍：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）

度：±1% （±0.1 μm）參考標(biāo)準(zhǔn)片

精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %

分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

可測(cè)試最小孔直徑：35 mils （899 μm）

測(cè)量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils （2 – 102 μm）

電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定

度：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm）

精確度：1.2 mil（30μm）時(shí)，達(dá)到1.0% （實(shí)驗(yàn)室情況下）

分辨率：0.01 mils （0.1μm）

TRP-M（微孔）探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

最小可測(cè)試孔直徑范圍：10 – 40 mils （254 – 1016 μm）

孔內(nèi)銅厚測(cè)試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）

最大可測(cè)試板厚：175mil （4445 μm）

最小可測(cè)試板厚：板厚的最小值必須比所對(duì)應(yīng)測(cè)試線路板的最小孔孔徑值高3mils（76.2μm）

度（對(duì)比金相檢測(cè)法）：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm）

±10%≥1mil（25 μm）

精確度：不建議對(duì)同一孔進(jìn)行多次測(cè)試

分辨率：0.01 mil（0.1 μm）

該公司產(chǎn)品分類：紡織儀器工具記錄儀變送器儀器配件電源供應(yīng)器溫度熱電偶空調(diào)檢測(cè)儀器農(nóng)業(yè)檢測(cè)儀器表面測(cè)試儀器家居系列產(chǎn)品安規(guī)檢測(cè)儀器測(cè)繪檢測(cè)儀器建筑檢測(cè)儀器計(jì)量標(biāo)定儀器通用檢測(cè)儀器電子電力工具水質(zhì)分析儀器電力電工儀器警用安檢設(shè)備

CMI700PCBCMI700銅厚測(cè)試儀

CMI-700PCB面銅及孔銅厚度測(cè)量?jī)x

--銅厚測(cè)量范圍：

－－化學(xué)銅：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm）

－－電鍍銅：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm）

－－線形銅可測(cè)試線寬范圍：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）

－－度：±1% （±0.1 μm）參考標(biāo)準(zhǔn)片

－－精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %

－－分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

CMI760 CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀

CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀

CMI760銅厚測(cè)試儀介紹

牛津儀器測(cè)厚儀器CMI760專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。 CMI760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度和精確的測(cè)量。CMI 760臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。同時(shí)CMI760具有的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。

CMI760銅厚測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

SRP-4面銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

銅厚測(cè)量范圍：化學(xué)銅：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm) 電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm) 線形銅可測(cè)試線寬范圍：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm) 度：±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 % 分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

可測(cè)試最小孔直徑：35 mils (899 μm) 測(cè)量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm) 電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) 精確度：1.2 mil（30μm）時(shí)，達(dá)到1.0% （實(shí)驗(yàn)室情況下）分辨率：0.01 mils (0.1μm)

TRP-M（微孔）探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

最小可測(cè)試孔直徑范圍：10 – 40 mils (254 – 1016 μm) 孔內(nèi)銅厚測(cè)試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）最大可測(cè)試板厚：175mil （4445 μm）最小可測(cè)試板厚：板厚的最小值必須比所對(duì)應(yīng)測(cè)試線路板的最小孔孔徑值高3mils(76.2μm) 度（對(duì)比金相檢測(cè)法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) ±10%≥1mil(25 μm) 精確度：不建議對(duì)同一孔進(jìn)行多次測(cè)試分辨率：0.01 mil(0.1 μm)

美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)片

測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片，雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學(xué)鍍層片。如:

單鍍層：Ag/xx, 雙鍍層：Au/Ni/xx , 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層：Sn-Pb/xx, 化學(xué)鍍層：Ni-P/xx.

我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素,鍍層結(jié)構(gòu),鍍層厚度等要求向美國工廠定做標(biāo)準(zhǔn)片,并可出據(jù)標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書.

我公司是一精密測(cè)試儀器代理商，為香港儀高集團(tuán)附屬成員. 我集團(tuán)在中國和香港地區(qū)代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測(cè)厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測(cè)厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量，而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。歡迎隨時(shí)來電咨詢或親臨我司測(cè)試及參觀!!!

多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo)，因?yàn)槲覀儓?jiān)信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！欲了解產(chǎn)品詳情，請(qǐng)與我們聯(lián)系或訪問http://eastco.18show.com.cn

xrf-2000H特價(jià)膜厚測(cè)試儀

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀

Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度.

可測(cè)元素范圍：

鈦（Ti） – 鈾（U）

可測(cè)量厚度范圍：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦

高壓：0-50KV（程控）

準(zhǔn)直器：

固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動(dòng)種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.

統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).

該公司產(chǎn)品分類：精密儀器

偏光片反射率測(cè)試，ITO薄膜反射率測(cè)試，TouchPannel反射率測(cè)試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試，Low-e玻璃反射率測(cè)試，汽車車燈鍍膜膜厚測(cè)試,涂層膜厚測(cè)試儀

儀器簡(jiǎn)介

AS-300反射率測(cè)試儀器是一款高精度反射率測(cè)試儀器，可測(cè)量整體反射率值，反射率光譜。操作方便快捷，適用與偏光片反射率測(cè)試，ITO薄膜反射率測(cè)試，TouchPannel反射率測(cè)試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試，Low-e玻璃反射率測(cè)試，汽車車燈鍍膜膜厚測(cè)試等。

儀器功能：

·光譜測(cè)量在波長范圍內(nèi)進(jìn)行反射度能量的圖譜掃描,并可進(jìn)行各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測(cè)、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算、譜圖運(yùn)算等.·數(shù)據(jù)輸出可進(jìn)行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取,測(cè)量結(jié)果以標(biāo)準(zhǔn)通用的數(shù)據(jù)文件格式輸出

關(guān)鍵字：偏光片反射率測(cè)試，ITO薄膜反射率測(cè)試，TouchPannel反射率測(cè)試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試，Low-e玻璃反射率測(cè)試，汽車車燈鍍膜膜厚測(cè)試

AS-300 反射率測(cè)試儀器

技術(shù)參數(shù)

波長精度：0.2nm

校正線性度：99.8%

測(cè)量誤差：1%以下

單次測(cè)量時(shí)間：最小100ms

功耗：200W

電源：210~245V，60Hz

信號(hào)接口：USB2.0

操作系統(tǒng)：windows

波長范圍：200-1100 nm

數(shù)據(jù)傳輸速率：每4ms 一個(gè)全掃描入存儲(chǔ)器（USB2.0 接口），18ms（USB1.1）

每300ms 一個(gè)全掃描入存儲(chǔ)器（串行口）

探測(cè)器：3648 像素的線型硅CCD 陣列 8um × 20um

光柵：14 種光柵，波長從紫外到近紅外

積分時(shí)間：10um～65min

入射孔徑：寬5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狹縫或光纖（無狹縫）

光纖連接：SMA905 接口，與0.22NA 的單股光纖相連

各類濾波片：長波通或帶通濾波片，安裝在光譜儀內(nèi)

電子控制：8 個(gè)數(shù)字GPIO 接口電子快門控制（最短10um）

焦距：42 mm（輸入）， 68 mm（輸出）

光學(xué)分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇有關(guān)）

動(dòng)態(tài)范圍：2×108（系統(tǒng)），1300:1（單個(gè)掃描信號(hào)）

主要特點(diǎn)：

·設(shè)計(jì)的優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光.

·雙光束測(cè)光系統(tǒng),配合設(shè)計(jì)的電路測(cè)控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和

極低的噪聲.

全自動(dòng)的控制系統(tǒng),的設(shè)計(jì)理念,確保儀器具有高性和高穩(wěn)定性.

·可拆卸結(jié)構(gòu)的樣品室設(shè)計(jì),易于更換不同的附件.以滿足不同的分析需求.

·寬敞型開放式光源室設(shè)計(jì),使燈源更換更加方便.

·所有部件均選用進(jìn)口器件.了儀器性能的高性.

·windows 環(huán)境下開發(fā)的中英文操作軟件,具有多項(xiàng)專利技術(shù).提供了豐富的

獨(dú)具特色的分析功能.

該公司產(chǎn)品分類：其實(shí)電子測(cè)試儀器電子測(cè)試儀系統(tǒng) 儀器儀表

OU3100鍍層膜厚測(cè)試儀廠家,鍍層膜厚測(cè)試儀價(jià)格

一、應(yīng)用：

OU3100F型膜厚儀測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。OU3100N型膜厚儀測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。OU3100FN型膜厚儀采用磁感應(yīng)與電渦流兩種原理集一體式，可以測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層與測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

二、技術(shù)參數(shù)-OU3100型膜厚儀

型號(hào)	OU3100F	OU3100N	OU3100FN
測(cè)定對(duì)象	磁性金屬上非磁性涂鍍層	非磁性金屬上絕緣層	磁性金屬上非磁性涂鍍層及非磁性金屬上絕緣層
測(cè)量方法	F 磁感應(yīng)	NF 渦流	F 磁感應(yīng)/NF 渦流
測(cè)量范圍	0-1250um（更厚涂層請(qǐng)選用OU3500型）
分辨率	1um
準(zhǔn)確度	一點(diǎn)校準(zhǔn)：±：（3%H+1um）二點(diǎn)校準(zhǔn)：±：（1%H+1um）
最小曲面	F: 凸1.5mm/凹25mm N: 凸3mm/凹50mm
最小測(cè)量面積	7mm
最薄基底	0.5mm
自動(dòng)關(guān)機(jī)	自動(dòng)關(guān)機(jī)
使用環(huán)境	溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH
電源	2節(jié)7號(hào)電池
電池電壓指示	低電壓提示
外形尺寸	115×70×30mm
重量	80g（不含電池）

資料來源：滄州歐譜膜厚儀 http://www.mohouyi.com

該公司產(chǎn)品分類：檢測(cè)儀器

美國bowm博曼膜厚測(cè)試儀

美國博曼膜厚測(cè)試儀是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測(cè)量及材料分析設(shè)備。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力，可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。高分辨硅-PIN-探測(cè)器，配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測(cè)限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定.可測(cè)量：?jiǎn)我诲儗樱篫n， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等.二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金.三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金.雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等.雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。此儀器特別適合于小的鍍層測(cè)量，如端子，連接器，細(xì)小的金線，在五金，汽車配件．線路板．衛(wèi)浴，等行業(yè)．也有杰出的表現(xiàn)．可測(cè)量．單層．雙層，合金層等多種鍍層.如果您有什么問題或要求，請(qǐng)您隨時(shí)聯(lián)系我們。您的任何回復(fù)我們都會(huì)高度重視。金東霖祝您工作愉快！聯(lián)系人：舒翠 136 0256 8074 QQ:2735820760

該公司產(chǎn)品分類：膜厚儀

CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀

供應(yīng)CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀

深圳市奔藍(lán)科技有限公司專業(yè)代理銷售牛津儀器測(cè)厚儀器。集銷售、安裝、維護(hù)、維修及培訓(xùn)一體化服務(wù)！

牛津儀器測(cè)厚儀器CMI760專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。

CMI760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。CMI 760臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。

同時(shí)CMI760具有先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。

技術(shù)參數(shù)

SRP-4面銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－- 銅厚測(cè)量范圍：化學(xué)銅：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm）電鍍銅：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm）線形銅可測(cè)試線寬范圍：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）準(zhǔn)確度：±1% （±0.1 μm）參考標(biāo)準(zhǔn)片精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 % 分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm ETP孔銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－- 可測(cè)試最小孔直徑：35 mils （899 μm）測(cè)量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils （2 – 102 μm）電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定準(zhǔn)確度：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm）精確度：1.2 mil（30μm）時(shí)，達(dá)到1.0% （實(shí)驗(yàn)室情況下）分辨率：0.01 mils （0.1μm） TRP-M（微孔）探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－- 最小可測(cè)試孔直徑范圍：10 – 40 mils （254 – 1016 μm）孔內(nèi)銅厚測(cè)試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）最大可測(cè)試板厚：175mil （4445 μm）最小可測(cè)試板厚：板厚的最小值必須比所對(duì)應(yīng)測(cè)試線路板的最小孔孔徑值高3mils（76.2μm）準(zhǔn)確度（對(duì)比金相檢測(cè)法）：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm） ±10%≥1mil（25 μm）精確度：不建議對(duì)同一孔進(jìn)行多次測(cè)試分辨率：0.01 mil（0.1 μm）

十多年來，深圳奔藍(lán)科技一直服務(wù)于PCB 廠商、五金電鍍、連接器、LCD、科研機(jī)構(gòu)、高校、質(zhì)量檢測(cè)中心、半導(dǎo)體、微電子、光電子、光通訊等領(lǐng)域。我們提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和最優(yōu)質(zhì)的服務(wù)都得到客戶最高的獎(jiǎng)勵(lì)，在未來,我們將繼續(xù)履行客戶的期望、要求和需要。

深圳市奔藍(lán)科技有限公司 Shenzhen BenLion Technologies Co., Ltd.

電話：0755-2307 6745 傳真：0755-2307 6746

劉先生13640948714 QQ : 1017646692

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地址：深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道鳳凰崗水庫路香雅閣1607

該公司產(chǎn)品分類：供應(yīng)CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀 CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀

無損膜厚測(cè)試儀

儀器介紹

天瑞儀器92年就開始做光譜儀，經(jīng)過多年的積累，在鍍層厚度檢測(cè)方面，我們直保持內(nèi)：主要原因是我們的性價(jià)比與售后服務(wù)具有很強(qiáng)的競(jìng)爭(zhēng)力，這個(gè)優(yōu)勢(shì)不僅僅體現(xiàn)在購買價(jià)格上，也體現(xiàn)在產(chǎn)品生命周期花費(fèi)的總體成本上。Thick600是天瑞儀器價(jià)格優(yōu)的鍍層測(cè)厚儀；儀器采用下照式結(jié)構(gòu)，適合平面樣品的檢測(cè)，配置的軟件界面簡(jiǎn)潔，測(cè)試樣品用時(shí)40S，售后服務(wù)及時(shí)。

鍍層厚度測(cè)試方法般有以下幾種方法：

1 光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005

2 X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005

3 庫侖法，此法般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

1標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法

2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

應(yīng)用領(lǐng)域

鍍層厚度分析；

RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測(cè)；

合金成分分析；

樣品測(cè)試步驟

1.每天開機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開測(cè)試軟件“FpThick”：

用戶使用“Administrator”，密碼：skyray

2.進(jìn)入測(cè)試軟件后，選擇“測(cè)試條件”

點(diǎn)擊“確定”，即測(cè)試條件確定（儀器已設(shè)置好）

3.選擇“工作曲線”

如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe；其他依次類推

4.放入“Ag片”對(duì)儀器進(jìn)行初始化

初始化完成后，（峰通道為1105，計(jì)數(shù)率達(dá)到定的數(shù)，如300以上）。

5.待測(cè)樣品測(cè)試

放入待測(cè)的樣品，通過攝像頭畫面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況，以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)。可以通過軟件提供的十字坐標(biāo)（也稱十字光標(biāo)）來定位該聚焦點(diǎn)，將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開始”，輸入樣品名稱后“確定”。

6.測(cè)試完成后即可保持報(bào)告，報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告”快捷方式中的“鍍層報(bào)告”中找到。

注意：測(cè)試鍍層樣品時(shí)，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。

技術(shù)參數(shù)

1 分析元素范圍：S-U

2 可分析多達(dá)3層以上鍍層

3 分析厚度檢出限高達(dá)0.02μm

4 多次測(cè)量重復(fù)性高可達(dá)0.05μm

5 定位精度：0.5mm

5 測(cè)量時(shí)間：30s-300s

6 計(jì)數(shù)率：1000-8000cps

7 儀器適合測(cè)試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例，分析的范圍是0.02—30um，在這個(gè)范圍內(nèi)，才能檢測(cè)。0.5-10um的，偏差是5%，就是說真值是1um，用儀器測(cè)試的值是0.95-1.05um。

性能優(yōu)勢(shì)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求

準(zhǔn)直器和濾光片手動(dòng)切換：不同樣品材質(zhì)用不同的準(zhǔn)直器

移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)

高分辨率探測(cè)器：提高分析的性

新代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

儀器硬件配置

1. 探測(cè)器

2. 高、低壓電源

3. X光管

4. MCA多道分析器

5. 高精密攝像頭

6. 移動(dòng)平臺(tái)（自動(dòng)）

7. 準(zhǔn)直器

8. 標(biāo)準(zhǔn)樣品

質(zhì)量、技術(shù)服務(wù)

1.儀器進(jìn)行終身維修；

2.軟件免費(fèi)升級(jí)：如有軟件升級(jí)，乙方將免費(fèi)提供軟件升級(jí)，不再收取升級(jí)費(fèi)用；

3.保修條款

3.1乙方對(duì)本合同銷售儀器設(shè)備自驗(yàn)收合格之日起免費(fèi)保修1年；

3.2保修期結(jié)束后，乙方為甲方提供維修服務(wù)的資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)如下：

交通費(fèi)、住宿費(fèi)由甲方承擔(dān)；

資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：硬件成本費(fèi)用——按乙方時(shí)價(jià)計(jì)算

硬件運(yùn)輸費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷

服務(wù)費(fèi)——300元 / 人 / 天

人員交通費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷

人員住宿費(fèi)用——￥300元/天

4.技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限：提供的技術(shù)服務(wù)，在接到用戶故障信息后，4小時(shí)內(nèi)響應(yīng)；如有

必要，12～72個(gè)小時(shí)內(nèi)派人上門維修和排除故障。

廠家優(yōu)勢(shì)

天瑞公司有完善的質(zhì)量管理體系，從進(jìn)口核心零部件的檢測(cè)開始，到儀器的組裝，數(shù)據(jù)的標(biāo)定及考核，均嚴(yán)格把關(guān)，能夠很好的控制產(chǎn)品的質(zhì)量。公司嚴(yán)格按ISO9001質(zhì)量體系的要求，進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量的管理，每道工序進(jìn)行嚴(yán)格的檢驗(yàn)，絕不允許不合格的流到下到工序；不合格的產(chǎn)品不出廠，堅(jiān)決做到“三不”和“三不放過”，確保產(chǎn)品質(zhì)量，用戶使用放心。

廠家介紹

天瑞儀器是內(nèi)大的分析儀器廠家，公司主營產(chǎn)品X熒光檢測(cè)儀具有快速、、無損的特點(diǎn)。X熒光分析儀可以應(yīng)用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領(lǐng)域，如：電子電器（RoHS檢測(cè)）、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)）、玩具安（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(鋼鐵、有色金屬)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地質(zhì)采礦、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)甚至人體微量元素的檢驗(yàn)等等。

該公司產(chǎn)品分類：波長色散X射線熒光光譜儀WDX4000 氣質(zhì)聯(lián)用儀GC-MS6800 手持式RoHS檢測(cè)儀膜厚儀Thick800A RoHS檢測(cè)儀EDX1800B 鍍層測(cè)厚儀Thick800A ICP3000電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀大氣重金屬在線監(jiān)測(cè)儀電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ICP-MS 液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀原子熒光光譜儀 AAS原子吸收光譜儀水質(zhì)在線分析儀 X熒光測(cè)硫儀食品重金屬檢測(cè)儀高頻紅外碳硫分析儀碳硫分析儀礦石分析儀糧食重金屬快速檢測(cè)儀銅合金分析儀

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CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀CMI760

CMI700PCBCMI700銅厚測(cè)試儀

CMI760 CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀

美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)片

xrf-2000H特價(jià)膜厚測(cè)試儀

偏光片反射率測(cè)試，ITO薄膜反射率測(cè)試，TouchPannel反射率測(cè)試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試，Low-e玻璃反射率測(cè)試，汽車車燈鍍膜膜厚測(cè)試,涂層膜厚測(cè)試儀

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美國bowm博曼膜厚測(cè)試儀

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