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探針臺(tái)產(chǎn)品及廠家

氣氛型高溫探針臺(tái)真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測(cè)試
氣氛型高溫探針臺(tái)真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測(cè)試控溫精度：±0.1k；真空度：10e-3pa；
更新時(shí)間:2025-02-05
定制探針臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)
定制探針臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-02-05
高溫磁場(chǎng)加熱系統(tǒng)
主要技術(shù)指標(biāo)：※ 溫度范圍：室溫—350℃（硅片上邊溫度）※ 控溫精度：±1℃※ 溫度分辨率：0.1℃※ 樣品尺寸：8英寸（需要有固定夾具，還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨(dú)固定）
更新時(shí)間:2025-02-05
錦正茂科技低溫三維磁場(chǎng)探針臺(tái)
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測(cè)試（10k~325k）。磁場(chǎng)強(qiáng)度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。
更新時(shí)間:2025-02-05
高低溫探針臺(tái) 用于傳感器 半導(dǎo)體 光電測(cè)試
1、真空腔體約直徑260mm，2、帶有4英寸高透射觀察窗，材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺(tái)直徑：50mm 樣品載臺(tái)平整度<5微米
更新時(shí)間:2025-02-05
高？蒲袑(shí)驗(yàn)室高低溫探針臺(tái)
可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線等參數(shù)檢測(cè)，用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-02-05
實(shí)驗(yàn)室高低溫真空環(huán)境高精度探針臺(tái)防輻射實(shí)驗(yàn)臺(tái)
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-02-05
JZM-D30室溫探針臺(tái)磁場(chǎng)、電源、樣品臺(tái)均可定制
該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場(chǎng)的高穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2025-02-05
氣氛型高溫探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器
氣氛型高溫探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器此款探針臺(tái)可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-02-05
材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái)
材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái)錦正茂高低溫真空探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-02-05
半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)
半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái) 錦正茂高低溫真空探針臺(tái)可進(jìn)行真空環(huán)境下的高低溫測(cè)試（4.2k~500k）。
更新時(shí)間:2025-02-05
半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái)
半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái) 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時(shí)間:2025-02-05
半導(dǎo)體材料測(cè)量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)
半導(dǎo)體材料測(cè)量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-02-05
JZM-D30室溫探針臺(tái)材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備儀器
jzm-d30室溫探針臺(tái)材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺(tái)的諸多設(shè)計(jì)都是﹡用的，探針臺(tái)的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-02-05
氣氛型高溫探針臺(tái)半導(dǎo)體材料測(cè)量
氣氛型高溫探針臺(tái)半導(dǎo)體材料測(cè)量快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試，測(cè)試中也可實(shí)現(xiàn)惰性氣體的快速充放。
更新時(shí)間:2025-02-05
錦正茂科技 定制高低溫探針臺(tái)
高低溫探針臺(tái)t8-ly100能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)80k-420k高低溫測(cè)試環(huán)境，
更新時(shí)間:2025-02-05
三維磁場(chǎng)探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備
三維磁場(chǎng)探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備通過真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場(chǎng)合成。
更新時(shí)間:2025-02-05
高低溫真空探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)鍍金無氧銅樣品臺(tái)
高低溫真空探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)鍍金無氧銅樣品臺(tái)可升加載磁場(chǎng)，低溫防輻射屏設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-02-05
三維磁場(chǎng)探針臺(tái)多維磁場(chǎng)實(shí)驗(yàn)裝置半導(dǎo)體材料測(cè)試
三維探針臺(tái)和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場(chǎng)合成。
更新時(shí)間:2025-02-05
定制實(shí)驗(yàn)室探針臺(tái)高低溫真空探針測(cè)試系統(tǒng)材料測(cè)試儀器
錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-02-05
氣氛型高溫探針臺(tái) 樣品材料電學(xué) 光學(xué)測(cè)試實(shí)驗(yàn)臺(tái)
快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-02-05
真空探針臺(tái)高低溫測(cè)試實(shí)驗(yàn)臺(tái)材料測(cè)試霍爾測(cè)試
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-02-05
室溫探針臺(tái)實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)試儀器光學(xué)平臺(tái)
該類型的探針臺(tái)主要依據(jù)客戶的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。
更新時(shí)間:2025-02-05
多維磁場(chǎng)探針臺(tái)半導(dǎo)體材料光學(xué)測(cè)量實(shí)驗(yàn)室儀器
錦正茂三維磁場(chǎng)探針臺(tái) 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時(shí)間:2025-02-05
定制氣氛型高溫探針臺(tái)光學(xué)電學(xué)測(cè)試儀器
根據(jù)樣品材料，形狀不同可選擇探針，插拔等多種安裝測(cè)試方式。
更新時(shí)間:2025-02-05
高低溫真空探針臺(tái)材料測(cè)試電磁測(cè)試儀器
錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-02-05
多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等部分組成。 主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率adc、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類功能，大分類10類。
更新時(shí)間:2025-01-27
全自動(dòng)四探針測(cè)試系統(tǒng)
可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測(cè)試； 屏蔽測(cè)試，完全消除光線對(duì)樣品測(cè)試的影響，保證測(cè)量的準(zhǔn)確性； 吸附測(cè)試，完全消除全自動(dòng)測(cè)試過程中樣品移動(dòng)對(duì)測(cè)試的影響；
更新時(shí)間:2025-01-27
全自動(dòng)四探針測(cè)試系統(tǒng)
可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測(cè)試；
更新時(shí)間:2025-01-27
二探針測(cè)試儀
二探針測(cè)試儀是運(yùn)用二探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的儀器。
更新時(shí)間:2025-01-27
成套兩探針測(cè)試儀
按照我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)gb/t1551-1995及美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（astm）推薦的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法“兩探針法”設(shè)計(jì)。配套測(cè)試架適合于測(cè)量硅芯電阻率。兩探針法的測(cè)量精度一般優(yōu)于四探針法。
更新時(shí)間:2025-01-27
手持式檢針機(jī) 檢針機(jī)
可檢測(cè)小件服裝、手套、皮革、拉鏈等，也可以協(xié)助輸送帶機(jī)找出斷針小件服裝、絲襪、手套、皮革、拉鏈等物體
更新時(shí)間:2025-01-27
二探針排重?fù)綔y(cè)試筆 探針排重?fù)綔y(cè)試筆 排重?fù)綔y(cè)試筆
1、儀器供電：本儀器適用于220v電源，也可直接使用兩節(jié)12v電池供電。（好使用12v堿性電池），方便安全。判別準(zhǔn)確！ 2、電阻率測(cè)量范圍：0.1歐姆/厘米以下會(huì)自動(dòng)報(bào)警。 3、測(cè)試方法：打開筆套，將測(cè)試筆針接觸被測(cè)原料，電阻率小于0.1歐姆/厘米時(shí)會(huì)自動(dòng)報(bào)警，電阻率大于0.1歐姆/厘米不報(bào)警。
更新時(shí)間:2025-01-27
防爆云臺(tái) 隔爆云臺(tái) 礦用云臺(tái)
xf807-kba123型防爆云臺(tái)是隔爆型電器設(shè)備，適用于石油、化工等企業(yè)含有易燃、易爆氣體及可燃性混合物的場(chǎng)所。
更新時(shí)間:2025-01-27
擴(kuò)音呼叫電話機(jī) 終端機(jī) 礦用擴(kuò)音電話機(jī)
xf807-czh-9型擴(kuò)音電話終端機(jī)分為xf807-czh-9a型（適用于普通安全場(chǎng)所,在交流220v斷電后相當(dāng)于普通電話機(jī)照使用）和xf807-czh-9b型。
更新時(shí)間:2025-01-27
手動(dòng)檢針器 檢針器
手動(dòng)檢針器 檢針器可手動(dòng)檢測(cè)鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類金屬可手動(dòng)檢測(cè)鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類金屬。。
更新時(shí)間:2025-01-27
HYPERTAC插針0151081-20-1G
hypertac插針0151081-20-1g技術(shù)參數(shù)
更新時(shí)間:2025-01-23
CODA SYSTEMS探針PA1AX
coda system有彈簧加載的組件，用于板對(duì)板互連以及各種數(shù)據(jù)，電源和電池充電應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-01-23
CODA SYSTEMS探針PA2AX
coda system有彈簧加載的組件，用于板對(duì)板互連以及各種數(shù)據(jù)，電源和電池充電應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-01-23
上海祥樹供應(yīng)FGC濾芯
上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽(yù)度，公司與國(guó)際機(jī)電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個(gè)穩(wěn)定而高效的全球化國(guó)際供應(yīng)鏈體系，竭真探頭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時(shí)間:2025-01-20
東莞模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)
東莞模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)東莞模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)儀器特點(diǎn)：1. 模擬運(yùn)輸振動(dòng)：該振動(dòng)臺(tái)能夠精準(zhǔn)地模擬汽車在道路上運(yùn)輸時(shí)的振動(dòng)情況，確保產(chǎn)品在運(yùn)輸過程中的質(zhì)量和穩(wěn)定性。2. 高精度控制系統(tǒng)：配備高精度控制系統(tǒng)，可精
更新時(shí)間:2025-01-17
YIDA16P 磁性開關(guān)
yida16p 磁性開關(guān) yida-09p.yida-09p-qd，yida-11r，yida-11r-qd，yida-11n，yida-11n-qd，yida-11p，yida-11p-qd，yida-12r，yida-12r-qd，yida-12n，yida-12n-qd
更新時(shí)間:2025-01-15
MPI探針臺(tái)
mpi vega 探針系列已準(zhǔn)備好滿足激光二管（vcsel、eel）和光學(xué)模塊市場(chǎng)的各種測(cè)試和材料處理要求。
更新時(shí)間:2025-01-14
MPI探針臺(tái)
mpi avior 系列為光通信市場(chǎng)提供了廣泛的高性能探針系統(tǒng)陣容。我們的探針系統(tǒng)提供頂部發(fā)射 （tp）、倒裝芯片 （fp） 發(fā)射和裸片/封裝 （dp） 配置，以滿足您的特定測(cè)試要求。無論是研發(fā)還是大規(guī)模生產(chǎn)，mpi的解決方案都能滿足您對(duì)準(zhǔn)確可靠測(cè)量的需求，同時(shí)降低測(cè)試成本。
更新時(shí)間:2025-01-14
MPI探針臺(tái)
micro led（μled）是顯示行業(yè)的顛覆性光學(xué)技術(shù)突破。micro led顯示器為消費(fèi)/顯示器/汽車應(yīng)用提供了巨大的潛力，因?yàn)榕c其他發(fā)射設(shè)備相比，它們更亮、更快、使用壽命更長(zhǎng)。憑借在光電器件測(cè)試方面積累的多年經(jīng)驗(yàn)和客戶互動(dòng)，mpi 推出了 gemini 系列晶圓探針臺(tái)，可提供快速、高效和精確的測(cè)量，幫助您應(yīng)對(duì) micro led 測(cè)試和測(cè)量挑戰(zhàn)。
更新時(shí)間:2025-01-14
MPI探針臺(tái)
capella系列探針臺(tái)支持從晶圓到封裝芯片的所有l(wèi)ed產(chǎn)品類型（垂直芯片、橫向芯片、倒裝芯片）的電氣和光學(xué)表征。無論您是需要高性能、高性價(jià)比還是業(yè)探針系統(tǒng)，mpi pa 都能提供全面的 led 晶圓/芯片探針機(jī)系列，以滿足您的嚴(yán)格要求。
更新時(shí)間:2025-01-14
探針臺(tái)
formfactor為其一流的150 mm探針臺(tái)引入了新的模塊化概念。這將使您更容易以令人難以置信的價(jià)格配置個(gè)性化探頭解決方案，以滿足當(dāng)和未來的需求。只需選擇一個(gè)基站，并根據(jù)需要添加任意數(shù)量的特定應(yīng)用入門套件。這款手動(dòng)探針臺(tái)是一款為初學(xué)者和小型實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)的入門設(shè)備。它可以用于對(duì)各種半導(dǎo)體器件進(jìn)行電流-電壓(iv)和電容-電壓(cv)特性的測(cè)試與分析。
更新時(shí)間:2025-01-14
探針臺(tái)
cm300xi 探針臺(tái)可應(yīng)對(duì)其復(fù)雜的環(huán)境帶來的測(cè)量挑戰(zhàn)，例如在長(zhǎng)時(shí)間和多種溫度下在小焊盤上進(jìn)行無人值守的測(cè)試。在 emi 屏蔽、光密和無濕氣的測(cè)試環(huán)境中，為各種應(yīng)用實(shí)現(xiàn)了一流的測(cè)量性能。熱管理增強(qiáng)功能和實(shí)驗(yàn)室自動(dòng)化功能可提高產(chǎn)量并縮短數(shù)據(jù)獲取時(shí)間。對(duì)于低溫測(cè)試，formfactor的開放式iceshield™環(huán)境也可用于cm300xi。
更新時(shí)間:2025-01-14
探針臺(tái)
入門手動(dòng)探針臺(tái)，用于表面耦合和水平邊緣耦合formfactor推出了一種具有成本效益的硅光子學(xué)測(cè)量解決方案，以支持新興應(yīng)用的基礎(chǔ)研究工作。該系統(tǒng)的設(shè)計(jì)是formfactor多年開發(fā)自動(dòng)光子測(cè)量系統(tǒng)的經(jīng)驗(yàn) - 現(xiàn)在根據(jù)大學(xué)和其他入門用戶的需求量身定制。mps150-siph 可確保光纖可以精確對(duì)準(zhǔn)，從而在不發(fā)生物理接觸的情況下將光耦合進(jìn)出設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-01-14
探針臺(tái)
summit200探針臺(tái)為研發(fā)、設(shè)備表征/建；蚶a(chǎn)應(yīng)用而設(shè)計(jì)，可在超低噪聲、直流、射頻、毫米波和太赫茲應(yīng)用中進(jìn)行溫度范圍內(nèi)的精確電氣測(cè)量，具有半自動(dòng)和現(xiàn)在的全自動(dòng)操作，可盡快獲得準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-01-14

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑