探針臺產(chǎn)品及廠家
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測試（10k~325k）。磁場強度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。
更新時間:2025-02-05
1、真空腔體約直徑260mm，2、帶有4英寸高透射觀察窗，材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺直徑：50mm 樣品載臺平整度<5微米
更新時間:2025-02-05
可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線等參數(shù)檢測，用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測試。
更新時間:2025-02-05
氣氛型高溫探針臺測試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器此款探針臺可在真空環(huán)境下對樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測試。
更新時間:2025-02-05
材料實驗室半導(dǎo)體測量高低溫真空磁場環(huán)境探針臺錦正茂高低溫真空探針臺高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
更新時間:2025-02-05
半導(dǎo)體材料測量高精度實驗臺高低溫真空環(huán)境探針臺 錦正茂高低溫真空探針臺可進(jìn)行真空環(huán)境下的高低溫測試（4.2k~500k）。
更新時間:2025-02-05
半導(dǎo)體材料測量高精度實驗臺高低溫真空磁場環(huán)境探針臺 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時間:2025-02-05
半導(dǎo)體材料測量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
更新時間:2025-02-05
jzm-d30室溫探針臺材料實驗室半導(dǎo)體測量設(shè)備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺的諸多設(shè)計都是﹡用的，探針臺的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計。
更新時間:2025-02-05
氣氛型高溫探針臺半導(dǎo)體材料測量快速實現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測試，測試中也可實現(xiàn)惰性氣體的快速充放。
更新時間:2025-02-05
高低溫探針臺t8-ly100能夠為半導(dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測試提供一個80k-420k高低溫測試環(huán)境，
更新時間:2025-02-05
三維磁場探針臺測試系統(tǒng)實驗室測試設(shè)備通過真正的雙性電源輸出，實現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時間:2025-02-05
三維探針臺和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時間:2025-02-05
錦正茂高低溫真空探針臺應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
更新時間:2025-02-05
快速實現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測試。
更新時間:2025-02-05
錦正茂三維磁場探針臺 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時間:2025-02-05
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。 主機主要由精密恒流源、高分辨率adc、嵌入式單片機系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀特贈設(shè)測試結(jié)果分類功能，大分類10類。
更新時間:2025-01-27
可對樣品進(jìn)行單點、五點、九點、多點、直徑掃描、面掃描等模式的全自動測試； 屏蔽測試，完全消除光線對樣品測試的影響，保證測量的準(zhǔn)確性； 吸附測試，完全消除全自動測試過程中樣品移動對測試的影響；
更新時間:2025-01-27
二探針測試儀是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的儀器。
更新時間:2025-01-27
按照我國標(biāo)準(zhǔn)gb/t1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會（astm）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設(shè)計。配套測試架適合于測量硅芯電阻率。兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。
更新時間:2025-01-27
1、儀器供電：本儀器適用于220v電源，也可直接使用兩節(jié)12v電池供電。（好使用12v堿性電池），方便安全。判別準(zhǔn)確！ 2、電阻率測量范圍：0.1歐姆/厘米以下會自動報警。 3、測試方法：打開筆套，將測試筆針接觸被測原料，電阻率小于0.1歐姆/厘米時會自動報警，電阻率大于0.1歐姆/厘米不報警。
更新時間:2025-01-27
xf807-kba123型防爆云臺是隔爆型電器設(shè)備，適用于石油、化工等企業(yè)含有易燃、易爆氣體及可燃性混合物的場所。
更新時間:2025-01-27
xf807-czh-9型擴音電話終端機分為xf807-czh-9a型（適用于普通安全場所,在交流220v斷電后相當(dāng)于普通電話機照使用）和xf807-czh-9b型。
更新時間:2025-01-27
手動檢針器 檢針器可手動檢測鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類金屬可手動檢測鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類金屬。。
更新時間:2025-01-27
coda system有彈簧加載的組件，用于板對板互連以及各種數(shù)據(jù)，電源和電池充電應(yīng)用。
更新時間:2025-01-23
coda system有彈簧加載的組件，用于板對板互連以及各種數(shù)據(jù)，電源和電池充電應(yīng)用。
更新時間:2025-01-23
上海祥樹歐茂機電設(shè)備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應(yīng)鏈體系，竭真探頭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時間:2025-01-20
東莞模擬運輸振動臺東莞模擬運輸振動臺儀器特點：1. 模擬運輸振動：該振動臺能夠精準(zhǔn)地模擬汽車在道路上運輸時的振動情況，確保產(chǎn)品在運輸過程中的質(zhì)量和穩(wěn)定性。2. 高精度控制系統(tǒng)：配備高精度控制系統(tǒng)，可精
更新時間:2025-01-17
yida16p 磁性開關(guān) yida-09p.yida-09p-qd，yida-11r，yida-11r-qd，yida-11n，yida-11n-qd，yida-11p，yida-11p-qd，yida-12r，yida-12r-qd，yida-12n，yida-12n-qd
更新時間:2025-01-15
mpi avior 系列為光通信市場提供了廣泛的高性能探針系統(tǒng)陣容。我們的探針系統(tǒng)提供頂部發(fā)射 （tp）、倒裝芯片 （fp） 發(fā)射和裸片/封裝 （dp） 配置，以滿足您的特定測試要求。無論是研發(fā)還是大規(guī)模生產(chǎn)，mpi的解決方案都能滿足您對準(zhǔn)確可靠測量的需求，同時降低測試成本。
更新時間:2025-01-14
micro led（μled）是顯示行業(yè)的顛覆性光學(xué)技術(shù)突破。micro led顯示器為消費/顯示器/汽車應(yīng)用提供了巨大的潛力，因為與其他發(fā)射設(shè)備相比，它們更亮、更快、使用壽命更長。憑借在光電器件測試方面積累的多年經(jīng)驗和客戶互動，mpi 推出了 gemini 系列晶圓探針臺，可提供快速、高效和精確的測量，幫助您應(yīng)對 micro led 測試和測量挑戰(zhàn)。
更新時間:2025-01-14
capella系列探針臺支持從晶圓到封裝芯片的所有l(wèi)ed產(chǎn)品類型（垂直芯片、橫向芯片、倒裝芯片）的電氣和光學(xué)表征。無論您是需要高性能、高性價比還是業(yè)探針系統(tǒng)，mpi pa 都能提供全面的 led 晶圓/芯片探針機系列，以滿足您的嚴(yán)格要求。
更新時間:2025-01-14
formfactor為其一流的150 mm探針臺引入了新的模塊化概念。這將使您更容易以令人難以置信的價格配置個性化探頭解決方案，以滿足當(dāng)和未來的需求。只需選擇一個基站，并根據(jù)需要添加任意數(shù)量的特定應(yīng)用入門套件。這款手動探針臺是一款為初學(xué)者和小型實驗室設(shè)計的入門設(shè)備。它可以用于對各種半導(dǎo)體器件進(jìn)行電流-電壓(iv)和電容-電壓(cv)特性的測試與分析。
更新時間:2025-01-14
cm300xi 探針臺可應(yīng)對其復(fù)雜的環(huán)境帶來的測量挑戰(zhàn)，例如在長時間和多種溫度下在小焊盤上進(jìn)行無人值守的測試。在 emi 屏蔽、光密和無濕氣的測試環(huán)境中，為各種應(yīng)用實現(xiàn)了一流的測量性能。熱管理增強功能和實驗室自動化功能可提高產(chǎn)量并縮短數(shù)據(jù)獲取時間。對于低溫測試，formfactor的開放式iceshield™環(huán)境也可用于cm300xi。
更新時間:2025-01-14
入門手動探針臺，用于表面耦合和水平邊緣耦合formfactor推出了一種具有成本效益的硅光子學(xué)測量解決方案，以支持新興應(yīng)用的基礎(chǔ)研究工作。該系統(tǒng)的設(shè)計是formfactor多年開發(fā)自動光子測量系統(tǒng)的經(jīng)驗 - 現(xiàn)在根據(jù)大學(xué)和其他入門用戶的需求量身定制。mps150-siph 可確保光纖可以精確對準(zhǔn)，從而在不發(fā)生物理接觸的情況下將光耦合進(jìn)出設(shè)備。
更新時間:2025-01-14
summit200探針臺為研發(fā)、設(shè)備表征/建；蚶a(chǎn)應(yīng)用而設(shè)計，可在超低噪聲、直流、射頻、毫米波和太赫茲應(yīng)用中進(jìn)行溫度范圍內(nèi)的精確電氣測量，具有半自動和現(xiàn)在的全自動操作，可盡快獲得準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-01-14
數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國a.s.t.m標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。
更新時間:2025-01-14
德國總部直接采購diatest測針，原裝產(chǎn)品，貨期好，支持選型，為您提供對好的解決方案：赫爾納大連公司在中國設(shè)有10個辦事處，可為您提供好的維修服務(wù)。
更新時間:2025-01-14
赫爾納-供應(yīng)德國diatest測針德國總部直接采購diatest測針，原裝產(chǎn)品，貨期好，支持選型，為您提供一對一好的解決方案：赫爾納大連公司在中國設(shè)有10個辦事處，可為您提供好的維修服務(wù)。
更新時間:2025-01-14
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