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GB/T 6672臺式薄膜測厚儀包裝薄膜厚度測定儀Labthink

GB/T 6672臺式薄膜測厚儀包裝薄膜厚度測定儀LabthinkPARAM博每 CHY-C2A測厚儀產(chǎn)地：濟南蘭光機電技術(shù)有限公司品牌：Labthink蘭光咨詢熱線：0531-85068566、15764121171

CHY-C2A測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

技術(shù)特征：

嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制

測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇

實時顯示測量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進行判斷

配置標準量塊用于系統(tǒng)標定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性

系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果

系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數(shù)據(jù)查看

標準的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸

支持LystemTM實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗結(jié)果和試驗報告

執(zhí)行標準：

ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

CHY-C2A測厚儀技術(shù)指標：

負荷量程：0～2mm（常規(guī)）；0～6mm；12mm（可選）

分辨率：0.1μm

測量速度：10 次/min（可調(diào)）

測量壓力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（紙張）

接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）

注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制

電源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz

外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)

凈重：32kg

儀器配置：

標準配置：主機、標準量塊一件

選購件：業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、微型打印機

該公司產(chǎn)品分類：智能型反壓高溫蒸煮鍋鋰電池隔膜透氣性測試儀透濕儀、透濕性測試儀蒸發(fā)殘渣恒重儀、蒸發(fā)殘渣儀透氣儀、透氣性能測試儀透氧儀、透氧性測試儀熱粘拉力試驗儀透氣性測試標準膜片膠粘帶壓滾機圓盤剝離試驗機光澤度測定儀、光澤度計鋁箔針孔檢測儀智能耐破度測試儀、耐破強度儀安瓿瓶折斷力測試儀 RGT-01真空包裝殘氧儀抗穿刺性能測試儀、穿刺力試驗機摩擦系數(shù)/剝離試驗儀醬料包抗壓試驗儀真空衰減法無損密封儀瓶蓋扭力測試儀、瓶蓋扭矩儀

F20薄膜厚度測量儀

薄膜厚度測量范圍： 3nm～450um，精度為0.1nm。光源及探測器的波長從紫外220nm至近紅外1700nm。

產(chǎn)品特性：

1、操作簡單、使用方便；

2、測量快速、；

3、體積小、重量輕；

4、價格便宜；

產(chǎn)品應用：

1、半導體行業(yè):光刻膠、氧化物、氮化物；

2、LCD行業(yè):液晶盒間隙厚度、ITO、Polyimides；

3、光電鍍膜應用:硬化膜、抗反射膜、濾波片；

ST2000薄膜厚度測量儀

ST2000薄膜厚度測量儀特點1）因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2）可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3）測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4）可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5）根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6）產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設計產(chǎn)品

7）可測量 PDP 上的膜厚度（Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用）

ST2000薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號

Stage Size	~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement
Measurement Range	100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
Spot size	40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
Measurement Speed	1~2sec/site Typically
Application Areas	Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
Option	Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function	Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

該公司產(chǎn)品分類：水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀其它基礎(chǔ)儀表其它測量/計量儀器生物顯微鏡激光拉曼光譜(RAMAN) 表面阻抗蠕動泵電化學工作站、恒電位儀液體處理工作站(移液工作站) 在線測厚儀生物芯片、芯片掃描儀、芯片點樣儀、芯片檢測儀微波、電、磁學量的測量儀表微流控芯片等離子體表面處理儀橢偏儀鎖相放大器其它動物實驗儀器白光干涉測厚儀掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM）紫外、紫外分光光度計、紫外可見分光光度計、UV

光學薄膜厚度測量儀在傳統(tǒng)薄膜測厚儀的基礎(chǔ)上添加了加熱/制冷的溫度控制單元，使用白光反射光譜技術(shù)（WLRS），實時測量薄膜厚度和折射率，并通過專業(yè)軟件記錄下這些數(shù)據(jù)。這款薄膜測厚儀,光學薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀用于測量聚合物薄膜和光致抗蝕劑薄膜在加熱或制冷情況下薄膜厚度和光學常量（n, k）的變化。為了這種特色的測量，我們特意研發(fā)了專業(yè)的軟件和算法，使得該聚合物薄膜測厚儀能夠給出薄膜的物理化學指標：例如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度 glass transition temperature （Tg）, ，熱分解溫度thermal degradation temperature （Td），薄膜的厚度測量范圍也高達10nm－－100微米。

詳情瀏覽： http://www.f-lab.cn/surface-residue/coating-mapping.html這套薄膜測厚儀,光學薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀能夠快速實時給出薄膜厚度和薄膜光學常量等物理化學性能數(shù)據(jù)，并且能夠控制薄膜加熱和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。所使用的軟件也適合薄膜的其他熱性能研究，例如：薄膜的熱消融/熱剝蝕thermal ablation研究，薄膜光學性質(zhì)隨溫度的變化，薄膜預烘烤Post Apply Bake，光刻過程后烘烤 Post Exposure Bake對薄膜厚度的損失等諸多研究。對于薄膜測厚儀,光學薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀要求薄膜襯底是透明的，背面是不反射的。它能夠處理最高4層薄膜的膜堆layer stacks，給出兩個參數(shù)：例如兩個薄膜的厚度或一個薄膜的厚度和光學常量。這套薄膜測厚儀,光學薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀已經(jīng)成功應用于測量不同聚合物薄膜的熱性能，光刻薄膜的熱處理影響分析，Si晶圓wafer上的光致抗蝕劑薄膜分析等。標準參數(shù)可測膜厚： 5nm-150微米；波長范圍：200-1100nm精度：0.5%分辨率：0.02nm測量點光斑大�。�0.5mm可測樣品大小：10-100mm計算機要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg電力要求：110/230VAC薄膜測厚儀,光學薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀應用聚合物薄膜測量光致抗蝕劑薄膜測量化學和生物薄膜測量，傳感測量光電子薄膜結(jié)構(gòu)測量半導體制造在線測量光學鍍膜測量中國最大的進口精密光學器件和科學儀器供應商�。�

Email: info@felles.cn 或 felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn （激光光學精密儀器網(wǎng)） www.felles.cc （綜合性尖端測試儀器網(wǎng)） www.f-lab.cn （綜合性實驗室儀器網(wǎng)）

該公司產(chǎn)品分類：成像光譜儀 X射線衍射儀激光晶體和器件翹曲度形貌儀

CHY-10塑料薄膜厚度測量儀（千分或百分測量）

商品描述：

一、設備名稱：塑料薄膜厚度測量儀（千分或百分測量）型號：CHY-10

二、設備用途: 本儀器是采用高精度數(shù)顯千分表測量塑料薄膜及薄片的專用儀器。具有測量精度高、數(shù)據(jù)穩(wěn)定等特點，同時還可進行英吋和毫米之間變換。

三、主要技術(shù)指標: 1測量精度： 0.001mm/0.0005″ 2測量范圍： 0―10mm/0.2″

四、安裝方法: 1將底座從包裝中拿出,放于平穩(wěn)平面上. 2調(diào)整調(diào)整螺釘,使其處于水平位置. 3將千分表取出安裝在千分表支架上,并調(diào)整好上下測量塊,使其間隙為零. 4將千分表支架安裝在底座上的固定槽內(nèi),并用鎖緊手柄鎖緊.

五、使用方法：用鋼絲軸將千分表測量頭抬起幾次后,將千分表值清零（按千分表上的”0”鈕）.然后將測量頭抬起,把被測試樣放在下測量面上，將測量頭放下，這時千分表上的值即為被測試樣厚度值.（如果沒有試樣時,表上仍有讀數(shù),則看測量面上是否有臟東西,如有則用柔軟干凈的布將其擦掉,如果沒有則直接按千分表”0”鈕清零即可。

該公司產(chǎn)品分類：智能鞋覆膜機XT-46A 智能鞋覆膜機XT-46B 智能鞋覆膜機XT-46B(I) 智能鞋覆膜機XT-46B(II) 智能鞋覆膜機(鞋套機)XT-46C 坤昱智能鞋底覆膜機(鞋套機) 聯(lián)系林先生05925508263 昆山舒美超聲波清洗器系列福建總代中科美菱低溫保存箱/低溫冰箱昆山舒美超聲波清洗器系列海爾超低溫冰箱系列上海美譜達紫外/可見分光光度計福建總代理鼓風干燥箱系列實驗室通用儀器奧豪斯電子天平/臺稱/快速水分儀系列芬蘭百得移液器系列/總代理

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