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ED2000能量色散X射線熒光光譜儀

ED2000能量色散X射線熒光光譜儀

ED2000采用全數(shù)字化電子線路設(shè)計(jì)，其緊密耦合的X射線光學(xué)系統(tǒng)和Pentafet探測(cè)器專利技術(shù)實(shí)現(xiàn)了的計(jì)數(shù)率、的分辨率和的檢出下限。如分析土壤中的有害重金屬元素Cd時(shí)，檢出下限可達(dá)0.5ppm。

Pentafet專利技術(shù)克服了能量色散技術(shù)中，元素分辨能力隨計(jì)數(shù)率增高而下降的缺點(diǎn)，即使在較高計(jì)數(shù)情況下，仍可以得到優(yōu)良的元素分辨率。ED2000數(shù)字化電路技術(shù)提高了信號(hào)處理速度，縮短了分析時(shí)間。ED2000的最大計(jì)數(shù)率高于50,000cps；在17,000cps計(jì)數(shù)率的情況下，分辨率優(yōu)于140eV。請(qǐng)點(diǎn)擊左邊相關(guān)標(biāo)題，下載關(guān)于該產(chǎn)品的PDF格式文件。

能量色散X射線熒光光譜儀XR-306

 

技術(shù)規(guī)格

檢測(cè)塑膠類樣品和輕質(zhì)金屬材料中的Pb、Cd、Hg、總Br和總Cr檢出限可以達(dá)到5ppm。

 檢測(cè)Fe、Ni、Cu、Zn及其合金以及焊錫中的Pb、Cr等成份檢出限可以達(dá)到100ppm, Cd的檢出限可以達(dá)到20ppm。

 
儀器配置

 

產(chǎn)品參數(shù)：

儀器型號(hào)
XR-306
分析原理
能量色散X射線熒光分析法
分析元素范圍
Na（11）-U（92）任意元素
檢出下限
Cd/Hg/Br/Cr/≤2 ppm Pb/≤5 ppm
樣品形狀
任意大小，任何不規(guī)則形狀
樣品類型
塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等
X射線管
靶材
鉬（Mo）靶
管電壓
5─50KV
管電流
1─1000ｕA
樣品照射直徑
2、5、8mm
探測(cè)器
美國(guó)進(jìn)口Si-PIN探測(cè)器，高速脈沖高度分析系統(tǒng)
高壓發(fā)生器
美國(guó)SPELLMAN高壓發(fā)生器
前置放大器
美國(guó)進(jìn)口前置放大器，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好
主放大器
美國(guó)進(jìn)口主放大器，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好
AD轉(zhuǎn)換模塊
美國(guó)進(jìn)口AD轉(zhuǎn)換模塊，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好
ADC
2048道
濾光片
6種濾光片自動(dòng)選擇并自動(dòng)轉(zhuǎn)換
樣品定位
微動(dòng)載物平臺(tái)（選配件）
樣品觀察
200萬(wàn)彩色CCD攝像機(jī)
微區(qū)分析
X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配件）
分析軟件
專利軟件產(chǎn)品 BX-V1.5版本，終身免費(fèi)升級(jí)
分析方法
理論α系數(shù)法、基本參數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法
操作系統(tǒng)軟件
WINDOWS XP（正版）
數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
主機(jī)
PC商務(wù)機(jī)型
CPU
≥2.8G
內(nèi)存
≥512MB
光驅(qū)
8xDVD
硬盤
≥80G
顯示器
17寸液晶顯示器
工作環(huán)境
溫度10－35С，濕度30－70％RH
重量
60Kg（主機(jī)部分）
外形尺寸
550（W）×450（D）×450（H）mm
外部供電電源要求
AC220±10%、50/60Hz
測(cè)定條件
大氣環(huán)境
測(cè)試樣品時(shí)間
100－300秒可調(diào)

 XR-306系列特點(diǎn)

Ø 國(guó)家“七.五”與“九.五”熒光分析儀科技攻關(guān)的成果；
Ø 無(wú)與倫比的理論α系數(shù)法分析方法，國(guó)內(nèi)首創(chuàng)；
Ø 直接生成人性化分析報(bào)告，也可在分析軟件中定制各種風(fēng)格的分析報(bào)告；
Ø 全封閉鉛板雙迷宮防輻射措施，符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)；
Ø 可以分析Na-U的所有元素（需相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)樣品）；
Ø 無(wú)需制樣，快速無(wú)損分析；
Ø 進(jìn)口主要部件，穩(wěn)定性好、分析精度高、故障率低；
Ø 國(guó)產(chǎn)側(cè)窗型X光管，性能穩(wěn)定，壽命長(zhǎng)（5年）更換成本低；
Ø 全中文操作分析軟件，對(duì)操作人員要求不高；
Ø 功能強(qiáng)大的分析管理軟件，方便查詢歷史數(shù)據(jù)；
Ø 自動(dòng)轉(zhuǎn)換濾光片系統(tǒng)，國(guó)內(nèi)首創(chuàng)；
Ø 分析不同類型樣品參數(shù)自動(dòng)設(shè)定，無(wú)需人員操作；
Ø 130倍彩色CCD攝像機(jī)可隨時(shí)監(jiān)控樣品測(cè)量位置；
Ø 的微動(dòng)載物平臺(tái)可以微調(diào)樣品測(cè)量點(diǎn)（選配）；
Ø 的X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)可以分析電子元器件微小部位（選配）；
Ø 美國(guó)進(jìn)口電制冷探測(cè)器，無(wú)需添加液氮，操作維護(hù)簡(jiǎn)單。
Ø 可測(cè)量涂鍍層厚度。

² 儀器核心部件采用美國(guó)Amptek公司生產(chǎn)的X-123系統(tǒng)，集成了Si-PIN高分辨率半導(dǎo)體X射線探測(cè)器、高性能放大和整形電路、數(shù)字脈沖處理器以及脈沖高度分析器即MCA，最大限度地發(fā)揮探測(cè)器的性能。
²  X射線管高壓發(fā)生器采用美國(guó)Spellman公司生產(chǎn)的50W高壓電源，性能指標(biāo)，為儀器的運(yùn)行提供了保障。
² 采用專業(yè)廠家生產(chǎn)的薄鈹窗X射線管，功率達(dá)50W，專業(yè)化封裝，輻射安全和各項(xiàng)性能指標(biāo)滿足應(yīng)用要求。
² 配置多種經(jīng)過(guò)精心設(shè)計(jì)的濾光片，使得XR-306型X射線熒光能譜儀不僅分析塑膠材料中的有害物質(zhì)時(shí)可以達(dá)到非常高的精度，同時(shí)，分析金屬材料中的Pb和Cd等有害物質(zhì)也可以達(dá)到很好的精度。
² 濾光片自動(dòng)轉(zhuǎn)換讓操作人員無(wú)需掌握深入的理論即可進(jìn)行的測(cè)量。
² 推拉式開(kāi)蓋方式結(jié)合開(kāi)放式樣品腔設(shè)計(jì)地解決了超大樣品的檢測(cè)問(wèn)題，做到小樣品測(cè)試安全方便，大樣品測(cè)試只要按系統(tǒng)提示操作同樣能操作人員安全。
² 精心設(shè)計(jì)的應(yīng)用程序不僅可以使用戶方便的檢測(cè)，還提供非常漂亮的檢測(cè)報(bào)告，對(duì)用戶開(kāi)放報(bào)告格式定制功能，無(wú)論何種格式的報(bào)告都可以定制。此外還提供了數(shù)據(jù)輸出到Excel表格的功能，方便用戶進(jìn)行 統(tǒng)計(jì)分析。
² 高清晰度攝像頭的設(shè)置不僅使檢測(cè)報(bào)告圖文并茂，結(jié)合所配備的多孔經(jīng)準(zhǔn)直器還可以對(duì)不均勻樣品進(jìn)行定點(diǎn)檢測(cè)。
Ø 開(kāi)放式的軟件設(shè)計(jì)，出廠前已配置了常用材料的分析方法，用戶經(jīng)過(guò)培訓(xùn)以后也可以建立自己的分析方法，拓展儀器的使用范圍，如其他微量元素的分析和鍍層測(cè)厚。

Lab-X3500X湖北武漢十堰宜昌襄陽(yáng)黃石臺(tái)式能量色散X射線熒光光譜儀

 

2000年8月，在Lab-X3000取得巨大成功的基礎(chǔ)上，牛津儀器公司推出最新型的臺(tái)式能量色散X射線熒光光譜儀Lab-X3500。它把牛津儀器多年來(lái)設(shè)計(jì)生產(chǎn)X射線熒光光譜儀的經(jīng)驗(yàn)和最新的硬件、軟件技術(shù)的進(jìn)展結(jié)合起來(lái)，是一種獨(dú)特的、高性能的多元素臺(tái)式X射線熒光光譜儀。

Lab-X3500中采用了牛津獨(dú)特的FOCUS 5專利技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)目標(biāo)元素的最佳激發(fā)和目標(biāo)元素的選擇性檢測(cè)；因而，與同類型儀器相比，Lab-X3500具有更低的檢出下限和更高的分析精度，同時(shí)具有樣品處理簡(jiǎn)化、容易操作等優(yōu)點(diǎn)。Lab-X3500 即可獨(dú)立操作使用，又能與電腦相聯(lián)。新的軟件可以顯示光譜，可以顯示質(zhì)控檢查的曲線圖并能保存校準(zhǔn)資料。

Lab-X3500 在許多工業(yè)過(guò)程中，為質(zhì)量管理提供了最經(jīng)濟(jì)實(shí)用的元素分析手段。目前有幾千臺(tái)Lab-X3000光譜儀應(yīng)用于水泥、石油、塑料、化工、纖維和造紙等工業(yè)領(lǐng)域，承擔(dān)著重要的日常質(zhì)量控制工作。它能快速分析多種原料，包括固體、液體、潤(rùn)滑油、薄膜、涂層以及糊劑等。Lab-X3500 滿足現(xiàn)行的有關(guān)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分析方法的要求，如ASTM D4294、IP336、ISO8754、IP352等。
牛津儀器新推出的高精度臺(tái)式X射線熒光分析儀，無(wú)需氦氣即可分析油品中的硫（S）、氯（Cl）。
 
Lab-X3500SCl利用新技術(shù)測(cè)量油品中的硫下限低至3ppm （mg/kg），主要特點(diǎn)有：
  • 容易檢測(cè)低含量硫、氯
  • 出廠前校準(zhǔn)，用戶使用前無(wú)需再校準(zhǔn)
  • 無(wú)需氦氣
  • 安裝簡(jiǎn)單，只需系統(tǒng)供電
  • 操作不受周圍環(huán)境變化影響
  • 樣品溫度不會(huì)影響檢測(cè)結(jié)果
Lab-X3500SCl符合下列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格：
ISO 20847, ISO 8754, ASTM D4294和IP336
 
日常操作簡(jiǎn)便：只需放入樣品，啟動(dòng)按鈕，結(jié)果幾秒種內(nèi)顯示。

該公司產(chǎn)品分類： 德國(guó)馬爾Mahr 粗糙度儀 材料試驗(yàn) 無(wú)損測(cè)量 光譜儀光度計(jì) 圓度儀、粗糙度儀 影像測(cè)量?jī)x、投影儀 顯微鏡 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 分析儀器 長(zhǎng)度計(jì)量 光學(xué)儀器

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