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NanoFirst-1000型掃描隧道顯微鏡

特點(diǎn) 為教學(xué)設(shè)計(jì),國(guó)內(nèi)小型化結(jié)構(gòu),攜帶十分方便DSP全數(shù)字化控制,可選線性和對(duì)數(shù)反饋模式STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲線測(cè)量功能控制主機(jī)可以采用筆記本電腦,適合課堂現(xiàn)場(chǎng)演示深度陡度測(cè)量,三維顯示納米材料粗糙度測(cè)量,顆粒粒徑度量及分布統(tǒng)計(jì)實(shí)時(shí)觀測(cè)比照的形貌圖、隧道電流圖實(shí)時(shí)多通道剖面圖顯示步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近(STM自動(dòng)保護(hù)針尖)XY二維樣品移動(dòng)平臺(tái),快速搜索感興趣的樣品區(qū)域標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計(jì)算機(jī)卡,安裝簡(jiǎn)單迅速Windows全中文控制軟件,重在展示工作原理提供實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)光柵 和HOPG樣品配有詳盡的實(shí)驗(yàn)教學(xué)指導(dǎo)教程 可選配納米刻蝕功能模塊 技術(shù)指標(biāo) (一)STM探頭:樣品尺寸:≤Φ30mm樣品厚度:≤15mmXY最大掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm,可選3μm×3μm, 10μm×10μm,20μm×20μm,50μm×50μmXY向分辨力:0.1nmZ向分辨力:0.01nm(HOPG定標(biāo))樣品-針尖白光照明XY二維樣品移動(dòng)平臺(tái)范圍:0~5mm步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近(STM自動(dòng)保護(hù)針尖)全金屬屏蔽防震隔音箱(選配)精密隔震平臺(tái)(選配)(二)電子學(xué)控制器:XYZ控制:18-bit D/A數(shù)據(jù)采樣:14-bit A/D Z向反饋:DSP數(shù)字反饋(可選線性和對(duì)數(shù)反饋模式)反饋采樣速率:64.0kHz高壓放大器:集成高壓運(yùn)算放大器,最大電壓范圍±150V最大掃描速率:21Hz掃描角度:0~360° 掃描偏移:任意 圖像采樣點(diǎn):256×256或512×512步進(jìn)馬達(dá)控制:手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退計(jì)算機(jī)接口:標(biāo)準(zhǔn)RS232串行口 (三)計(jì)算機(jī)軟件: 運(yùn)行于中文Windows 98/2000/XP操作系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)視窗工作界面STM恒流模式、恒高模式功能單和雙通道圖像同步采集顯示,實(shí)時(shí)查看剖面圖DSP全數(shù)字控制的參數(shù)設(shè)置和采集電流-電壓隧道譜(I-V曲線)測(cè)量功能隧道電流-間隙(I-Z曲線)測(cè)量功能支持壓電掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正樣品傾斜度線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能實(shí)時(shí)調(diào)整本底及比例定點(diǎn)實(shí)時(shí)測(cè)試I-V、I-Z曲線鼠標(biāo)控制掃描區(qū)域平移、剪切功能用戶任意定義調(diào)色板功能圖像獲取文件連續(xù)存盤和自定義文件名,當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存功能圖像在線瀏覽功能連續(xù)圖像獲取文件動(dòng)態(tài)重現(xiàn),納米電影功能(選配)圖形刻蝕模式、矢量掃描模式、納米操縱和加工模式(選配)完備的在線式智能提示及全程幫助樣品粒度、粗糙度分析標(biāo)準(zhǔn)離線分析和處理功能 增加第二顯示器(選配)

STM-II型MicroNano掃描隧道顯微鏡

簡(jiǎn) 介這款機(jī)型在2000年世行中標(biāo)儀器的基礎(chǔ)上做了大量的改進(jìn)工作。功能更強(qiáng),使用更方便。具有恒流模式/恒高模式形貌檢測(cè)功能,隧道電流-針尖偏壓(I-V)曲線測(cè)量功能,隧道電流-間隙(I-Z)曲線測(cè)量功能和針尖修飾功能。用戶還能根據(jù)對(duì)教學(xué)/科研不同的要求,選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器,以及高分辨CCD觀測(cè)系統(tǒng)和高精度樣品X-Y移動(dòng)平臺(tái),使操作更加方便、精確。同我們所有MicroNano 系列產(chǎn)品一樣,這款機(jī)型還可以根據(jù)用戶需要,選購(gòu)相應(yīng)的功能模塊,將功能擴(kuò)展至原子力顯微鏡模式、磁力顯微鏡模式。技 術(shù) 指 標(biāo) ¨掃描模式:STM恒流/恒高模式掃描;隧道電流-針尖偏壓(I-V)曲線測(cè)量;隧道電流-間隙(I-Z)曲線測(cè)量;針尖修飾(脈沖)¨樣品尺寸:≤Φ10mm¨樣品厚度:≤5mm¨掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm¨分辨率:X-Y向0.1nm;Z向0.01nm¨XYZ控制:雙12-bit D/A(相當(dāng)于20位精度)¨數(shù)據(jù)采樣:雙12-bit A/D (相當(dāng)于20位精度)¨最大掃描速率:20000 P/S ¨掃描角度:0~360° ¨圖像采樣點(diǎn):256×256 / 512×512¨馬達(dá)控制:線動(dòng)螺紋+自動(dòng)馬達(dá),行程〈10mm,精度〈0.1μm ¨計(jì)算機(jī)接口:標(biāo)準(zhǔn)并行口¨配套功能強(qiáng)大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)可 選 配 件 及功 能 模 塊¨3μm×3μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm規(guī)格掃描器¨高分辨CCD觀測(cè)系統(tǒng)¨高精度樣品X-Y移動(dòng)平臺(tái)¨MicroNano AFM-II型原子力顯微鏡功能模塊¨MicroNano AFM-III型輕敲模式原子力顯微鏡功能模塊¨MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊

STM NanoFirst-1000掃描隧道顯微鏡

儀器特點(diǎn) :

計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制,操作簡(jiǎn)捷直觀。 步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖--樣品逼近,實(shí)驗(yàn)圓滿成功。 深度陡度測(cè)量,三維顯示。 納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。 X、Y二維樣品移動(dòng)平臺(tái),快速搜索樣品區(qū)域. 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計(jì)算機(jī)卡 樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。 掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒 可選配納米刻蝕功能模塊。  技術(shù)指標(biāo) :

STM探頭 樣品尺寸:厚度小等于15mm。 XY最大掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)6X6微米 可選3μm×3μm,10μm×10μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm Z向分辨率:0.01nm(HOPG定標(biāo)) XY二維樣品移動(dòng)范圍:5mm 樣品-針尖白光照明 步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近(自動(dòng)保護(hù)針尖) 全金屬屏蔽防震隔音箱(選配) 精密隔震平臺(tái)(選配)   電子學(xué)控制器 :

XTZ控制 18-Bit D/A 數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣 Z向反饋 DSP數(shù)字反饋 反饋采樣速率 64.0KHz 高壓放大器 集成高壓運(yùn)算放大器,最大電壓范圍+/-150V 頻率范圍 --- 幅度范圍 --- 掃描速率 21Hz 掃描角度 0-360度連續(xù)可調(diào) 掃描偏移 任意 圖像采樣點(diǎn) 256X256或512X512 步進(jìn)馬達(dá)控制 手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退 計(jì)算機(jī)接口 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB

pA-STM 掃描隧道顯微鏡

使用AFM工具的選項(xiàng),pA-STM也可以用來進(jìn)行AFM測(cè)試。

pA-STM的掃描鏡臺(tái)
掃描鏡臺(tái)具有壓電管
掃描技術(shù)資料:
X-Y壓電管:
高電壓模式的掃描范圍:10*10微米;
低電壓模式下的掃描范圍:650*650納米;
高電壓模式的分辨率:1.5埃米;
低電壓模式下的分辨率:0.1埃米;
Z壓電管:
高電壓模式掃描范圍:1.2微米;
高電壓模式的分辨率:0.2埃米;
轉(zhuǎn)換鏡臺(tái)數(shù)據(jù):
X-Y范圍:5*5毫米;
Z范圍:13毫米(4毫米伺服輔助)
STM 頭部
STM頭部具有末端保持器
該頭部具有低電流的前置放大器,可以實(shí)現(xiàn)的1億倍V/A增益,這使得獲得2p
A 到2nA 的圖像成為可能,根據(jù)需要還可以選擇其他的不同增益的前置放大器。
SPM控制單元
SPM控制單元和計(jì)算機(jī)(配別有多輸入輸出主板)驅(qū)動(dòng)掃描器,數(shù)據(jù)采集和采樣運(yùn)動(dòng)
采樣距離的末端由超低噪聲的模擬反饋控制,該模擬反饋由計(jì)算機(jī)數(shù)字化驅(qū)動(dòng)。
掃描發(fā)生器由軟件控制,XYZ軸由符合的DAC驅(qū)動(dòng),該DAC的分辨率多于20位。
HVA3-T單元
高電壓放大器
HVA是一個(gè)電壓放大模塊用來驅(qū)動(dòng)A-100頭部
 
計(jì)算機(jī)和數(shù)據(jù)采集板
WindowsXP、Vista 操作系統(tǒng);奔騰處理器或酷睿2,1G/2GDDR2 SDRAM內(nèi)存,160G硬盤,DVD光驅(qū),鍵盤和鼠標(biāo),19寸液晶顯示器,采集板和接口。
 
采集軟件
軟件運(yùn)行是基于窗口的,為了儀器控制和數(shù)據(jù)采集,還支持多窗口操作。軟件具有簡(jiǎn)易的濾波器可以實(shí)時(shí)分析并獲取圖像。軟件控制了儀器的所有參數(shù)。
輔助
AFM工具
AFM Head(頭部) 適用于接觸模式,非接觸模式,半接觸模式和側(cè)力模式
AFM Head 具有工業(yè)級(jí)的懸臂支架保持器,該保持器可以移動(dòng)(很容易在懸臂上安裝和拆卸),也很容易固定在懸臂上。Head頭部還具有裝備了激光和光電二極管傳感器的前置放大器。
隔音箱
桌臺(tái)
其它可用的輔助配件

E-STM教學(xué)型掃描隧道顯微鏡

1.樣品尺寸:φ≤25mm 2.掃描范圍:XY方向3μm×3μm、6μm×6μm(其他范圍可選) 3.分辨率:XY方向:0.1nm,      Z方向:0.01nm 能夠常規(guī)得到高序石墨(HOPG)表面原子圖像 4.針尖逼近行程及精度:行程≥10nm,精度≤0.1μm,納米級(jí)步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)保護(hù) 驅(qū)近 ; 5.掃描模式:恒流模式、恒高模式,I-V曲線、I-Z曲線; 6.掃描方式:連續(xù)掃描,可任意改變掃描方向;采樣數(shù):256點(diǎn)/線 7.懸吊式抗震裝置 ; 8.掃描速度:0.1~20Hz ;標(biāo)準(zhǔn)串行接口(可以接手提電腦); 9.采用DSP數(shù)字控制系統(tǒng),全部采用16位DAC,高壓±100V輸出。 主要特點(diǎn):• 定點(diǎn)納米刻蝕功能 • 掃描方式:光柵式掃描 • 恒流、恒高兩種工作模式 • I-Z 曲線, I-V 曲線 • 樣品剖面高度曲線 • 曲線和圖形兩種顯示模式 • 可任意改變顯示中心點(diǎn)、顯示范圍,移動(dòng)掃描區(qū)域 • 馬達(dá)自動(dòng)進(jìn) / 退針功能,保護(hù)針尖 • 針尖狀態(tài)顯示及修飾功能 • 懸吊式抗震系統(tǒng)(小于 1Hz ) • 所有控制參數(shù)據(jù)均可實(shí)時(shí)修正,數(shù)據(jù)變化立即反映到圖像曲線顯示面板 • 圖像掃描具有回掃能力,數(shù)據(jù)能自動(dòng)連續(xù)存盤 • 基于 Windows 系統(tǒng)的在線操作軟件, 具有標(biāo)準(zhǔn)菜單和工具欄 • 功能強(qiáng)大的離線圖像分析軟件為方便教學(xué),我們專門設(shè)計(jì)了掃描隧道顯微鏡(STM)的教學(xué)方案。實(shí)驗(yàn)教材:《納米科技基礎(chǔ)》 上海緊缺人才培訓(xùn)工程專用教材 《分子手術(shù)與納米診療》《掃描隧道顯微鏡快速操作手冊(cè)》《掃描探針顯微鏡實(shí)驗(yàn)手冊(cè)》(包括20多個(gè)教學(xué)實(shí)驗(yàn))《改變?nèi)祟惿畹募{米科技》實(shí)驗(yàn)材料:50厘米鉑銥合金絲,樣品基片10個(gè),導(dǎo)電膠和金相砂紙等此外,我們還可提供包括高序石墨和二維光柵在內(nèi)的多種教學(xué)實(shí)驗(yàn)樣品

E-STM教學(xué)型掃描隧道顯微鏡

1.樣品尺寸:φ≤25mm 2.掃描范圍:XY方向3μm×3μm、6μm×6μm(其他范圍可選) 3.分辨率:XY方向:0.1nm,      Z方向:0.01nm 能夠常規(guī)得到高序石墨(HOPG)表面原子圖像 4.針尖逼近行程及精度:行程≥10nm,精度≤0.1μm,納米級(jí)步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)保護(hù) 驅(qū)近 ; 5.掃描模式:恒流模式、恒高模式,I-V曲線、I-Z曲線; 6.掃描方式:連續(xù)掃描,可任意改變掃描方向;采樣數(shù):256點(diǎn)/線 7.懸吊式抗震裝置 ; 8.掃描速度:0.1~20Hz ;標(biāo)準(zhǔn)串行接口(可以接手提電腦); 9.采用DSP數(shù)字控制系統(tǒng),全部采用16位DAC,高壓±100V輸出。 主要特點(diǎn):• 定點(diǎn)納米刻蝕功能 • 掃描方式:光柵式掃描 • 恒流、恒高兩種工作模式 • I-Z 曲線, I-V 曲線 • 樣品剖面高度曲線 • 曲線和圖形兩種顯示模式 • 可任意改變顯示中心點(diǎn)、顯示范圍,移動(dòng)掃描區(qū)域 • 馬達(dá)自動(dòng)進(jìn) / 退針功能,保護(hù)針尖 • 針尖狀態(tài)顯示及修飾功能 • 懸吊式抗震系統(tǒng)(小于 1Hz ) • 所有控制參數(shù)據(jù)均可實(shí)時(shí)修正,數(shù)據(jù)變化立即反映到圖像曲線顯示面板 • 圖像掃描具有回掃能力,數(shù)據(jù)能自動(dòng)連續(xù)存盤 • 基于 Windows 系統(tǒng)的在線操作軟件, 具有標(biāo)準(zhǔn)菜單和工具欄 • 功能強(qiáng)大的離線圖像分析軟件為方便教學(xué),我們專門設(shè)計(jì)了掃描隧道顯微鏡(STM)的教學(xué)方案。實(shí)驗(yàn)教材:《納米科技基礎(chǔ)》 上海緊缺人才培訓(xùn)工程專用教材 《分子手術(shù)與納米診療》《掃描隧道顯微鏡快速操作手冊(cè)》《掃描探針顯微鏡實(shí)驗(yàn)手冊(cè)》(包括20多個(gè)教學(xué)實(shí)驗(yàn))《改變?nèi)祟惿畹募{米科技》實(shí)驗(yàn)材料:50厘米鉑銥合金絲,樣品基片10個(gè),導(dǎo)電膠和金相砂紙等此外,我們還可提供包括高序石墨和二維光柵在內(nèi)的多種教學(xué)實(shí)驗(yàn)樣品

easyScan STM掃描隧道顯微鏡

易于操作的樣品平臺(tái)和掃描探針 的性能-價(jià)格比 在常規(guī)的實(shí)驗(yàn)室可獲得原子分辨率 測(cè)量結(jié)果多樣顯示 低振動(dòng)敏感性

Nano Visual教學(xué)型掃描隧道顯微鏡

教學(xué)型掃描隧道顯微鏡可對(duì)樣品進(jìn)行恒高模式和恒流模式測(cè)試,易于學(xué)生掌握獲得掃描隧道譜的正確方法。數(shù)據(jù)后處理軟件具備在線智能幫助,逐步引導(dǎo)學(xué)生對(duì) 掃描隧道顯微鏡獲得的圖像進(jìn)行除噪、校正、傅立葉變換、表面粗糙度分析和伏安特性分析等基本操作。 教學(xué)型掃描隧道顯微鏡具有一定程度的可擴(kuò)充性,可以根據(jù)需要增加某些部件,使其具有從事部分科學(xué)研究的能力。  NanoVisual 教學(xué)型系列掃描隧道顯微鏡主要性能介紹 簡(jiǎn)約化的掃描隧道顯微鏡探頭,初學(xué)者只需經(jīng)簡(jiǎn)單的培訓(xùn)即可掌握掃描隧道顯微鏡操作方法 具有掃描隧道顯微鏡I-V曲線測(cè)量演示及分析功能 全數(shù)字控制參數(shù)設(shè)置和采集 系統(tǒng)狀態(tài)及掃描器參數(shù)智能識(shí)別,掃描隧道顯微鏡全數(shù)字反饋控制 基于Windows 9X/ME/2000/XP的在線控制軟件和后處理分析軟件 計(jì)算機(jī)操作接口全程在線式幫助及智能提示 入門級(jí)儀器操作向?qū),逐步揭示掃描隧道顯微鏡的原理 掃描BMP/TIFF全兼容文件格式,掃描隧道顯微鏡當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存 后處理軟件具有強(qiáng)大的結(jié)果分析和圖像處理功能   性能指標(biāo) 分辨率(以石墨定標(biāo)): 橫向 0.13nm 垂直 0.01nm 電流檢測(cè)靈敏度:≤10pA   NanoVisual 教學(xué)型系列包括如下標(biāo)配或選配件 結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)約的掃描隧道顯微鏡STM探頭 在線控制/后處理軟件和教學(xué)課件 主流配置微機(jī),預(yù)裝Windows操作系統(tǒng) 1μm ×1μm Scanner 20μm×20μm Scanner(選配)

easyScan STM掃描隧道顯微鏡

易于操作的樣品平臺(tái)和掃描探針 的性能-價(jià)格比 在常規(guī)的實(shí)驗(yàn)室可獲得原子分辨率 測(cè)量結(jié)果多樣顯示 低振動(dòng)敏感性

STM-II型MicroNano掃描隧道顯微鏡

簡(jiǎn) 介這款機(jī)型在2000年世行中標(biāo)儀器的基礎(chǔ)上做了大量的改進(jìn)工作。功能更強(qiáng),使用更方便。具有恒流模式/恒高模式形貌檢測(cè)功能,隧道電流-針尖偏壓(I-V)曲線測(cè)量功能,隧道電流-間隙(I-Z)曲線測(cè)量功能和針尖修飾功能。用戶還能根據(jù)對(duì)教學(xué)/科研不同的要求,選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器,以及高分辨CCD觀測(cè)系統(tǒng)和高精度樣品X-Y移動(dòng)平臺(tái),使操作更加方便、精確。同我們所有MicroNano 系列產(chǎn)品一樣,這款機(jī)型還可以根據(jù)用戶需要,選購(gòu)相應(yīng)的功能模塊,將功能擴(kuò)展至原子力顯微鏡模式、磁力顯微鏡模式。技 術(shù) 指 標(biāo) ¨掃描模式:STM恒流/恒高模式掃描;隧道電流-針尖偏壓(I-V)曲線測(cè)量;隧道電流-間隙(I-Z)曲線測(cè)量;針尖修飾(脈沖)¨樣品尺寸:≤Φ10mm¨樣品厚度:≤5mm¨掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm¨分辨率:X-Y向0.1nm;Z向0.01nm¨XYZ控制:雙12-bit D/A(相當(dāng)于20位精度)¨數(shù)據(jù)采樣:雙12-bit A/D (相當(dāng)于20位精度)¨最大掃描速率:20000 P/S ¨掃描角度:0~360° ¨圖像采樣點(diǎn):256×256 / 512×512¨馬達(dá)控制:線動(dòng)螺紋+自動(dòng)馬達(dá),行程〈10mm,精度〈0.1μm ¨計(jì)算機(jī)接口:標(biāo)準(zhǔn)并行口¨配套功能強(qiáng)大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)可 選 配 件 及功 能 模 塊¨3μm×3μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm規(guī)格掃描器¨高分辨CCD觀測(cè)系統(tǒng)¨高精度樣品X-Y移動(dòng)平臺(tái)¨MicroNano AFM-II型原子力顯微鏡功能模塊¨MicroNano AFM-III型輕敲模式原子力顯微鏡功能模塊¨MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊

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