儀器特點(diǎn) :
計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制,操作簡(jiǎn)捷直觀。 步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖--樣品逼近,實(shí)驗(yàn)圓滿成功。 深度陡度測(cè)量,三維顯示。 納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。 X、Y二維樣品移動(dòng)平臺(tái),快速搜索樣品區(qū)域. 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計(jì)算機(jī)卡 樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。 掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒 可選配納米刻蝕功能模塊。 技術(shù)指標(biāo) :
STM探頭 樣品尺寸:厚度小等于15mm。 XY最大掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)6X6微米 可選3μm×3μm,10μm×10μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm Z向分辨率:0.01nm(HOPG定標(biāo)) XY二維樣品移動(dòng)范圍:5mm 樣品-針尖白光照明 步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近(自動(dòng)保護(hù)針尖) 全金屬屏蔽防震隔音箱(選配) 精密隔震平臺(tái)(選配) 電子學(xué)控制器 :
XTZ控制 18-Bit D/A 數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣 Z向反饋 DSP數(shù)字反饋 反饋采樣速率 64.0KHz 高壓放大器 集成高壓運(yùn)算放大器,最大電壓范圍+/-150V 頻率范圍 --- 幅度范圍 --- 掃描速率 21Hz 掃描角度 0-360度連續(xù)可調(diào) 掃描偏移 任意 圖像采樣點(diǎn) 256X256或512X512 步進(jìn)馬達(dá)控制 手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退 計(jì)算機(jī)接口 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB
使用AFM工具的選項(xiàng),pA-STM也可以用來進(jìn)行AFM測(cè)試。