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NanoFirst-1000型掃描隧道顯微鏡

特點 為教學(xué)設(shè)計，國內(nèi)小型化結(jié)構(gòu)，攜帶十分方便DSP全數(shù)字化控制，可選線性和對數(shù)反饋模式STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲線測量功能控制主機可以采用筆記本電腦，適合課堂現(xiàn)場演示深度陡度測量，三維顯示納米材料粗糙度測量，顆粒粒徑度量及分布統(tǒng)計實時觀測比照的形貌圖、隧道電流圖實時多通道剖面圖顯示步進馬達自動進行針尖-樣品逼近(STM自動保護針尖)XY二維樣品移動平臺，快速搜索感興趣的樣品區(qū)域標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口，無需任何計算機卡，安裝簡單迅速Windows全中文控制軟件，重在展示工作原理提供實驗標(biāo)準(zhǔn)光柵 和HOPG樣品配有詳盡的實驗教學(xué)指導(dǎo)教程 可選配納米刻蝕功能模塊 技術(shù)指標(biāo) （一）STM探頭：樣品尺寸：≤Φ30mm樣品厚度：≤15mmXY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm，可選3μm×3μm， 10μm×10μm，20μm×20μm，50μm×50μmXY向分辨力：0.1nmZ向分辨力：0.01nm(HOPG定標(biāo))樣品-針尖白光照明XY二維樣品移動平臺范圍：0~5mm步進馬達自動進行針尖-樣品逼近(STM自動保護針尖)全金屬屏蔽防震隔音箱(選配)精密隔震平臺(選配)（二）電子學(xué)控制器：XYZ控制：18-bit D/A數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D Z向反饋：DSP數(shù)字反饋(可選線性和對數(shù)反饋模式)反饋采樣速率：64.0kHz高壓放大器：集成高壓運算放大器，最大電壓范圍±150V最大掃描速率：21Hz掃描角度：0~360° 掃描偏移：任意 圖像采樣點：256×256或512×512步進馬達控制：手動和自動進退計算機接口：標(biāo)準(zhǔn)RS232串行口 （三）計算機軟件： 運行于中文Windows 98/2000/XP操作系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)視窗工作界面STM恒流模式、恒高模式功能單和雙通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖DSP全數(shù)字控制的參數(shù)設(shè)置和采集電流-電壓隧道譜（I-V曲線）測量功能隧道電流-間隙（I-Z曲線）測量功能支持壓電掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動校正樣品傾斜度線平均、偏置實時校正功能實時調(diào)整本底及比例定點實時測試I-V、I-Z曲線鼠標(biāo)控制掃描區(qū)域平移、剪切功能用戶任意定義調(diào)色板功能圖像獲取文件連續(xù)存盤和自定義文件名,當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存功能圖像在線瀏覽功能連續(xù)圖像獲取文件動態(tài)重現(xiàn)，納米電影功能（選配）圖形刻蝕模式、矢量掃描模式、納米操縱和加工模式（選配）完備的在線式智能提示及全程幫助樣品粒度、粗糙度分析標(biāo)準(zhǔn)離線分析和處理功能 增加第二顯示器（選配）

STM-II型MicroNano掃描隧道顯微鏡

簡 介這款機型在2000年世行中標(biāo)儀器的基礎(chǔ)上做了大量的改進工作。功能更強，使用更方便。具有恒流模式/恒高模式形貌檢測功能，隧道電流-針尖偏壓（I-V）曲線測量功能，隧道電流-間隙（I-Z）曲線測量功能和針尖修飾功能。用戶還能根據(jù)對教學(xué)/科研不同的要求，選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器，以及高分辨CCD觀測系統(tǒng)和高精度樣品X-Y移動平臺，使操作更加方便、精確。同我們所有MicroNano 系列產(chǎn)品一樣，這款機型還可以根據(jù)用戶需要，選購相應(yīng)的功能模塊，將功能擴展至原子力顯微鏡模式、磁力顯微鏡模式。技 術(shù) 指 標(biāo) ¨掃描模式：STM恒流/恒高模式掃描；隧道電流-針尖偏壓（I-V）曲線測量；隧道電流-間隙（I-Z）曲線測量；針尖修飾（脈沖）¨樣品尺寸：≤Φ10mm¨樣品厚度：≤5mm¨掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm¨分辨率：X-Y向0.1nm；Z向0.01nm¨XYZ控制：雙12-bit D/A（相當(dāng)于20位精度）¨數(shù)據(jù)采樣：雙12-bit A/D （相當(dāng)于20位精度）¨最大掃描速率：20000 P/S ¨掃描角度：0~360° ¨圖像采樣點：256×256 / 512×512¨馬達控制：線動螺紋+自動馬達，行程〈10mm，精度〈0.1μm ¨計算機接口：標(biāo)準(zhǔn)并行口¨配套功能強大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)可 選 配 件 及功 能 模 塊¨3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm規(guī)格掃描器¨高分辨CCD觀測系統(tǒng)¨高精度樣品X-Y移動平臺¨MicroNano AFM-II型原子力顯微鏡功能模塊¨MicroNano AFM-III型輕敲模式原子力顯微鏡功能模塊¨MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊

STM NanoFirst-1000掃描隧道顯微鏡

儀器特點 ：

計算機全數(shù)字化控制，操作簡捷直觀。 步進馬達自動進行針尖－－樣品逼近，實驗圓滿成功。 深度陡度測量，三維顯示。 納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計。 Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域． 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計算機卡 樣品觀測范圍從0.001um-20000um。 掃描速度達40000點/秒 可選配納米刻蝕功能模塊。  技術(shù)指標(biāo) ：

STM探頭 樣品尺寸：厚度小等于15mm。 XY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米 可選3μm×3μm,10μm×10μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm Ｚ向分辨率：0.01nm(HOPG定標(biāo)) XY二維樣品移動范圍：５mm 樣品-針尖白光照明 步進馬達自動進行針尖-樣品逼近(自動保護針尖) 全金屬屏蔽防震隔音箱（選配） 精密隔震平臺（選配）   電子學(xué)控制器 ：

XTZ控制 18-Bit D/A 數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣 Z向反饋 DSP數(shù)字反饋 反饋采樣速率 64.0KHz 高壓放大器 集成高壓運算放大器，最大電壓范圍+/-150V 頻率范圍 --- 幅度范圍 --- 掃描速率 21Hz 掃描角度 0-360度連續(xù)可調(diào) 掃描偏移 任意 圖像采樣點 256X256或512X512 步進馬達控制 手動和自動進退 計算機接口 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB

pA-STM 掃描隧道顯微鏡

使用AFM工具的選項，pA-STM也可以用來進行AFM測試。

pA-STM的掃描鏡臺
掃描鏡臺具有壓電管
掃描技術(shù)資料：
X-Y壓電管：
高電壓模式的掃描范圍：10*10微米；
低電壓模式下的掃描范圍：650*650納米；
高電壓模式的分辨率：1.5埃米；
低電壓模式下的分辨率：0.1埃米；
Z壓電管：
高電壓模式掃描范圍：1.2微米；
高電壓模式的分辨率：0.2埃米；
轉(zhuǎn)換鏡臺數(shù)據(jù)：
X-Y范圍：5*5毫米；
Z范圍：13毫米（4毫米伺服輔助）
STM 頭部
STM頭部具有末端保持器
該頭部具有低電流的前置放大器，可以實現(xiàn)的1億倍V/A增益，這使得獲得2p
A 到2nA 的圖像成為可能，根據(jù)需要還可以選擇其他的不同增益的前置放大器。
SPM控制單元
SPM控制單元和計算機（配別有多輸入輸出主板）驅(qū)動掃描器，數(shù)據(jù)采集和采樣運動
采樣距離的末端由超低噪聲的模擬反饋控制，該模擬反饋由計算機數(shù)字化驅(qū)動。
掃描發(fā)生器由軟件控制，XYZ軸由符合的DAC驅(qū)動，該DAC的分辨率多于20位。
HVA3-T單元
高電壓放大器
HVA是一個電壓放大模塊用來驅(qū)動A-100頭部
 
計算機和數(shù)據(jù)采集板
WindowsXP、Vista 操作系統(tǒng)；奔騰處理器或酷睿2，1G/2GDDR2 SDRAM內(nèi)存，160G硬盤，DVD光驅(qū)，鍵盤和鼠標(biāo)，19寸液晶顯示器，采集板和接口。
 
采集軟件
軟件運行是基于窗口的，為了儀器控制和數(shù)據(jù)采集，還支持多窗口操作。軟件具有簡易的濾波器可以實時分析并獲取圖像。軟件控制了儀器的所有參數(shù)。
輔助
AFM工具
AFM Head（頭部） 適用于接觸模式，非接觸模式，半接觸模式和側(cè)力模式
AFM Head 具有工業(yè)級的懸臂支架保持器，該保持器可以移動（很容易在懸臂上安裝和拆卸），也很容易固定在懸臂上。Head頭部還具有裝備了激光和光電二極管傳感器的前置放大器。
隔音箱
桌臺
其它可用的輔助配件

E-STM教學(xué)型掃描隧道顯微鏡

1.樣品尺寸：φ≤25mm 2.掃描范圍：ＸＹ方向3μm×3μm、６μm×６μm（其他范圍可選） 3.分辨率：XY方向：0.1nm, 　　　　 Z方向：0.01nm　能夠常規(guī)得到高序石墨（HOPG）表面原子圖像 4.針尖逼近行程及精度：行程≥10nm，精度≤0.1μm,納米級步進馬達自動保護 驅(qū)近 ; 5.掃描模式：恒流模式、恒高模式,I-V曲線、Ｉ-Z曲線; 6.掃描方式：連續(xù)掃描，可任意改變掃描方向;采樣數(shù)：256點/線 7.懸吊式抗震裝置 ; 8.掃描速度：０.1~20Hz ;標(biāo)準(zhǔn)串行接口（可以接手提電腦）; 9.采用DSP數(shù)字控制系統(tǒng)，全部采用16位DAC，高壓±100V輸出。 主要特點：• 定點納米刻蝕功能 • 掃描方式：光柵式掃描 • 恒流、恒高兩種工作模式 • I-Z 曲線， I-V 曲線 • 樣品剖面高度曲線 • 曲線和圖形兩種顯示模式 • 可任意改變顯示中心點、顯示范圍，移動掃描區(qū)域 • 馬達自動進 / 退針功能，保護針尖 • 針尖狀態(tài)顯示及修飾功能 • 懸吊式抗震系統(tǒng)（小于 1Hz ） • 所有控制參數(shù)據(jù)均可實時修正，數(shù)據(jù)變化立即反映到圖像曲線顯示面板 • 圖像掃描具有回掃能力，數(shù)據(jù)能自動連續(xù)存盤 • 基于 Windows 系統(tǒng)的在線操作軟件， 具有標(biāo)準(zhǔn)菜單和工具欄 • 功能強大的離線圖像分析軟件為方便教學(xué)，我們專門設(shè)計了掃描隧道顯微鏡（STM）的教學(xué)方案。實驗教材：《納米科技基礎(chǔ)》 上海緊缺人才培訓(xùn)工程專用教材 《分子手術(shù)與納米診療》《掃描隧道顯微鏡快速操作手冊》《掃描探針顯微鏡實驗手冊》(包括20多個教學(xué)實驗)《改變?nèi)祟惿畹募{米科技》實驗材料：50厘米鉑銥合金絲，樣品基片10個，導(dǎo)電膠和金相砂紙等此外，我們還可提供包括高序石墨和二維光柵在內(nèi)的多種教學(xué)實驗樣品

E-STM教學(xué)型掃描隧道顯微鏡

1.樣品尺寸：φ≤25mm 2.掃描范圍：ＸＹ方向3μm×3μm、６μm×６μm（其他范圍可選） 3.分辨率：XY方向：0.1nm, 　　　　 Z方向：0.01nm　能夠常規(guī)得到高序石墨（HOPG）表面原子圖像 4.針尖逼近行程及精度：行程≥10nm，精度≤0.1μm,納米級步進馬達自動保護 驅(qū)近 ; 5.掃描模式：恒流模式、恒高模式,I-V曲線、Ｉ-Z曲線; 6.掃描方式：連續(xù)掃描，可任意改變掃描方向;采樣數(shù)：256點/線 7.懸吊式抗震裝置 ; 8.掃描速度：０.1~20Hz ;標(biāo)準(zhǔn)串行接口（可以接手提電腦）; 9.采用DSP數(shù)字控制系統(tǒng)，全部采用16位DAC，高壓±100V輸出。 主要特點：• 定點納米刻蝕功能 • 掃描方式：光柵式掃描 • 恒流、恒高兩種工作模式 • I-Z 曲線， I-V 曲線 • 樣品剖面高度曲線 • 曲線和圖形兩種顯示模式 • 可任意改變顯示中心點、顯示范圍，移動掃描區(qū)域 • 馬達自動進 / 退針功能，保護針尖 • 針尖狀態(tài)顯示及修飾功能 • 懸吊式抗震系統(tǒng)（小于 1Hz ） • 所有控制參數(shù)據(jù)均可實時修正，數(shù)據(jù)變化立即反映到圖像曲線顯示面板 • 圖像掃描具有回掃能力，數(shù)據(jù)能自動連續(xù)存盤 • 基于 Windows 系統(tǒng)的在線操作軟件， 具有標(biāo)準(zhǔn)菜單和工具欄 • 功能強大的離線圖像分析軟件為方便教學(xué)，我們專門設(shè)計了掃描隧道顯微鏡（STM）的教學(xué)方案。實驗教材：《納米科技基礎(chǔ)》 上海緊缺人才培訓(xùn)工程專用教材 《分子手術(shù)與納米診療》《掃描隧道顯微鏡快速操作手冊》《掃描探針顯微鏡實驗手冊》(包括20多個教學(xué)實驗)《改變?nèi)祟惿畹募{米科技》實驗材料：50厘米鉑銥合金絲，樣品基片10個，導(dǎo)電膠和金相砂紙等此外，我們還可提供包括高序石墨和二維光柵在內(nèi)的多種教學(xué)實驗樣品

easyScan STM掃描隧道顯微鏡

易于操作的樣品平臺和掃描探針 的性能-價格比 在常規(guī)的實驗室可獲得原子分辨率 測量結(jié)果多樣顯示 低振動敏感性

Nano Visual教學(xué)型掃描隧道顯微鏡

教學(xué)型掃描隧道顯微鏡可對樣品進行恒高模式和恒流模式測試，易于學(xué)生掌握獲得掃描隧道譜的正確方法。數(shù)據(jù)后處理軟件具備在線智能幫助，逐步引導(dǎo)學(xué)生對 掃描隧道顯微鏡獲得的圖像進行除噪、校正、傅立葉變換、表面粗糙度分析和伏安特性分析等基本操作。 教學(xué)型掃描隧道顯微鏡具有一定程度的可擴充性，可以根據(jù)需要增加某些部件，使其具有從事部分科學(xué)研究的能力！ NanoVisual 教學(xué)型系列掃描隧道顯微鏡主要性能介紹 簡約化的掃描隧道顯微鏡探頭，初學(xué)者只需經(jīng)簡單的培訓(xùn)即可掌握掃描隧道顯微鏡操作方法 具有掃描隧道顯微鏡I-V曲線測量演示及分析功能 全數(shù)字控制參數(shù)設(shè)置和采集 系統(tǒng)狀態(tài)及掃描器參數(shù)智能識別，掃描隧道顯微鏡全數(shù)字反饋控制 基于Windows 9X/ME/2000/XP的在線控制軟件和后處理分析軟件 計算機操作接口全程在線式幫助及智能提示 入門級儀器操作向?qū)В鸩浇沂緬呙杷淼里@微鏡的原理 掃描BMP/TIFF全兼容文件格式，掃描隧道顯微鏡當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存 后處理軟件具有強大的結(jié)果分析和圖像處理功能 　 性能指標(biāo) 分辨率（以石墨定標(biāo)）： 橫向 0.13nm 垂直 0.01nm 電流檢測靈敏度：≤10pA 　 NanoVisual 教學(xué)型系列包括如下標(biāo)配或選配件 結(jié)構(gòu)簡約的掃描隧道顯微鏡STM探頭 在線控制/后處理軟件和教學(xué)課件 主流配置微機，預(yù)裝Windows操作系統(tǒng) 1μm ×1μm Scanner 20μm×20μm Scanner（選配）

easyScan STM掃描隧道顯微鏡

易于操作的樣品平臺和掃描探針 的性能-價格比 在常規(guī)的實驗室可獲得原子分辨率 測量結(jié)果多樣顯示 低振動敏感性

STM-II型MicroNano掃描隧道顯微鏡

簡 介這款機型在2000年世行中標(biāo)儀器的基礎(chǔ)上做了大量的改進工作。功能更強，使用更方便。具有恒流模式/恒高模式形貌檢測功能，隧道電流-針尖偏壓（I-V）曲線測量功能，隧道電流-間隙（I-Z）曲線測量功能和針尖修飾功能。用戶還能根據(jù)對教學(xué)/科研不同的要求，選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器，以及高分辨CCD觀測系統(tǒng)和高精度樣品X-Y移動平臺，使操作更加方便、精確。同我們所有MicroNano 系列產(chǎn)品一樣，這款機型還可以根據(jù)用戶需要，選購相應(yīng)的功能模塊，將功能擴展至原子力顯微鏡模式、磁力顯微鏡模式。技 術(shù) 指 標(biāo) ¨掃描模式：STM恒流/恒高模式掃描；隧道電流-針尖偏壓（I-V）曲線測量；隧道電流-間隙（I-Z）曲線測量；針尖修飾（脈沖）¨樣品尺寸：≤Φ10mm¨樣品厚度：≤5mm¨掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm¨分辨率：X-Y向0.1nm；Z向0.01nm¨XYZ控制：雙12-bit D/A（相當(dāng)于20位精度）¨數(shù)據(jù)采樣：雙12-bit A/D （相當(dāng)于20位精度）¨最大掃描速率：20000 P/S ¨掃描角度：0~360° ¨圖像采樣點：256×256 / 512×512¨馬達控制：線動螺紋+自動馬達，行程〈10mm，精度〈0.1μm ¨計算機接口：標(biāo)準(zhǔn)并行口¨配套功能強大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)可 選 配 件 及功 能 模 塊¨3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm規(guī)格掃描器¨高分辨CCD觀測系統(tǒng)¨高精度樣品X-Y移動平臺¨MicroNano AFM-II型原子力顯微鏡功能模塊¨MicroNano AFM-III型輕敲模式原子力顯微鏡功能模塊¨MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊

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