名稱:定倍體視顯微鏡(實體顯微鏡) 型號:PXS1030 儀器資料: PXS系列定倍體視顯微鏡又稱實體顯微鏡,它在觀察物體時能產生正立的三維空間影像。立體感強,成像清晰和寬闊,又具有長工作距離,并可根據(jù)觀察物的特點選用不同的反射和透射光照明,是適用范圍非常廣泛的常規(guī)顯微鏡。 本系列體視顯微鏡性能,操作簡單,使用方便,且外形美觀,不僅可作教學示范,生物解剖,作觀察分析,由于本顯微鏡具有較高的分辨率及大視場范圍的清晰度,因此還可作電子工業(yè)和精密機械工業(yè)零件裝配和檢驗,農業(yè)上的種子檢查等。 廣泛應用于紡織制品、化工化學、塑料制品、電子制造、機械制造、醫(yī)藥制造、農林畜牧、食品加工、印刷業(yè)、高等院校、考古研究等眾多領域。技術參數(shù):規(guī)格型號 PXS1020 PXS1030 PXS1040 PXS2040 物鏡 1X/2X 1X/3X 1X/4X 2X/4X 目鏡 10X 10X 10X 10X 工作距離 100mm 100mm 100mm 100mm 總放大倍數(shù) 10X/20X 10X/30X 10X/40X 20X/40X 目鏡(選購) 20X 20X 20X 20X 總放大倍數(shù) 20X/40X 20X/60X 20X/80X 40X/80X
儀器配套件: 1、主機 2、物鏡 3、目鏡(10X) 4、備用燈泡 5、眼罩 儀器選配件:1.移動工件臺 2.環(huán)形光纖 3.雙支光纖 4.單支光纖 5.光纖冷光源(亮度可調) 6.LED環(huán)形燈 、
適用標準:GB/T0685 116988 FZ/T30003 SN/T0756 AATCC 20A
測量范圍: | 2μm~2000.5μm |
測量重復性: | ±0.1μm |
測量速度: | 50μm/min |
BS200/BS200TR生物顯微鏡 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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類型 | 放大倍數(shù) | 視場(mm) |
大視野目鏡 | 10X | φ20 |
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產品介紹
可選購件
測量型金相顯微鏡是一種兼顧影像、目視與納米高度測量多用的高精度、高效率測量儀器。該產品具有電視成像與目視光學兩套瞄準系統(tǒng),可人工觀察金屬表面的金相組織結構,是集光、機、電、算、影像于一體的顯微鏡。該產品以二維測量為主,也可作三維輔助測量,廣泛應用于電子組件、精密模具、塑料、PCB加工方面、鍍膜厚度、手機玻璃等工業(yè)領域。
特點:
1. X、Y、Z三軸0.5μm分辨力
2. 電動Z軸分辨力0.1μm
3. 具有高度自動測量
4. 內建偏光測量光學模塊
5. 高速/無接觸測量
6. 同軸光/底光測量
7. 可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度
技術規(guī)格參數(shù): 型號 | MTM-3020MA | ||||
工作臺 | 金屬臺尺寸(mm) | 500 x 330 | |||
玻璃臺尺寸(mm) | 350 x 250 | ||||
X、Y軸運動行程(mm) | 300 x 200 | ||||
手動Z軸行程(mm) | 120 | ||||
自動Z軸行程(mm) | 2 | ||||
外形尺寸(mm) | 825 x 660 x 910 | ||||
儀器重量(kg) | 130 | ||||
X、Y、Z軸分辨力(μm) | 0.5 | ||||
自動Z軸分辨力(μm) | 0.1 | ||||
示值誤差(μm) | E1XY=( 2.5+ L/100) μm (L為測量長度,單位mm) | ||||
物鏡放大倍數(shù)誤差 | 包括畸變在內的放大率誤差≦0.08% | ||||
落射照明光源 | 可調高亮度鹵素燈 | ||||
底光照明光源 | 可調高亮度LED燈源 | ||||
| 目視系統(tǒng) | 影像系統(tǒng) | |||
物鏡放大倍數(shù) | 5X、10X、20X、50X | 5X、10X、20X、50X;10X Mirau物鏡 | |||
目鏡放大倍數(shù) | 10X雙鏡筒 | 1/2”CCD攝像機 | |||
視頻總倍率 | 50X ~500X | 142.5X ~1425X (19.5”顯示器,分辨率1440 x 900) | |||
單層透明膜厚度測量模組 | |||||
高精度測量模式 | 快速測量模式 | ||||
厚度測量范圍 | 100nm ~300nm | 300nm ~500nm | 500nm ~3μm | 3μm ~20μm | |
分辨力 | 5nm | 5nm | 7.5nm | 0.1μm |
技術參數(shù) | ||
用于印刷電路板,包括精細腳距、表面裝配、TAB及BGA技術。 放大倍數(shù): 7-40X連續(xù)變倍,放大倍數(shù)達120X 變焦比: 6.6:1 工作距離: 根據(jù)放大倍率,25mm-312mm 視野: 根據(jù)放大倍數(shù)的不同,1.75mm-77mm 直接角度檢測/34度角度檢測/360度旋轉檢測 托板面積:310X310檢測面積:300X250 大型托板:460X250檢測面積:450X250 | ||
主要特點 | ||
專利的Dynascope焦外立體變焦鏡頭提供26.4度的視野角,使觀察者舒適自如 直視檢測/斜視檢測/旋轉檢測 防靜電移動平臺,固定雙面PCB托盤,防護擋板 垂直或十字形測量線 可外接視頻輸出,可接數(shù)碼相機、監(jiān)視器、電腦等 提高操作員效率 改善故障檢測 降低廢品率 的分辨率和對比率 高放大倍數(shù) 可切換角度觀測 佩戴眼鏡、隱形眼鏡的同時仍可舒適使用 | ||
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為融合視覺工程的PCB檢測技術及諸多專利的版系統(tǒng) 專業(yè)用于印刷電路板行業(yè),涉及Fine Pitch,SMT,TAB,BGA等技術領域 提高工作產量及檢測效率,增強非合格品的檢測,大大降低次品率 超強的分辨率及對比度和高大倍率提供最真實的顯微影象 適用于直接/角度/旋轉角度檢測及雙面PCB的焊接檢測 的人機工程學設計使配戴眼鏡的操作者舒適的觀察工件 |
Winner99E是國內最新一代靜態(tài)顆粒圖像分析設備,它采用最新的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,將計算機圖像學與顆粒粒度及粒形分析理論完美結合,在獲得清晰的顆粒圖像的同時,將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來,使用戶可以詳細的了解顆粒。此外,該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標志、使其操作更簡便、分析更智能、結果更穩(wěn)定,是顆粒粒度測試及粒形分析的首選搭檔和得力助手。
性能特點
直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計算機屏幕,用戶可以直觀且全面了解顆粒的表面及形狀屬性;
完美拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅,使參與分析的顆粒數(shù)量更多,測試結果更具代表性;
自動分割粘連顆粒 采用更先進的顆粒識別算法,對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割,顯著提高粘連顆粒分割準確率,減少人為參與,有效縮短圖像處理時間;
自適應二值化功能 采用一種自適應二值化功能,使其進行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響,避免了因光線不均勻等因素而導致顆粒信息丟失的情況,為后續(xù)處理的精準度奠定基礎;
自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集,集成了二值化、消除邊界不完整顆粒、消除雜點、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計算顆粒參數(shù)等功能的自動操作,一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結果的生成等全部過程,操作簡便且結果可靠;
自由切換粒徑單位 標尺選取支持多種長度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換,便于用戶對通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實現(xiàn)進一步處理;
快速處理特殊形狀顆粒 對于球形顆粒,采用獨特的處理算法,對原始圖片無需進行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息,即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會影響分析結果,提高球形顆粒的分析效率。
Winner99E顯微顆粒圖像分析儀技術參數(shù):
| 光源 | 底部透射光源,鹵素燈和LED光可選,亮度可調。頂部金相落射式光源(帶起偏振器) |
總放大倍數(shù) | 4倍——1600倍 | |
攝像 系統(tǒng) | 最高分辨率 | 2048×1536 |
像素尺寸 | 3.2μm×3.2μm | |
成像元件 | 1/2英寸CMOS | |
幀率 | 6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 | |
最高清晰度 | > 1000 line | |
信噪比 | 小于42dB | |
敏感度 | 1.0V@550nm/lux/S | |
輸出方式 | USB2.0 | |
實際觀測范圍 | 1-6000μm | |
軟件功能 | 圖像采集 | 采集樣品形貌圖像,保存JPG格式 |
圖像拼接 | 將多幅圖片進行無縫拼接,測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性。同時也可單張處理保存后再進行拼接,進一步提高了結果的準確性。 | |
圖像處理 | 提供灰度化,二值化(動態(tài)、自動、自適應方法),圖像消藍、平滑濾波、光照不均勻校正、邊界檢測、均衡化、圖像平滑、圖像收縮、圖像膨脹、消除飛點、消除空心、消除邊界黑點、消除粘連、手動標注、任意角度旋轉等算法操作 | |
顆粒的自動處理工具集 | 自動自適應二值化、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動填補顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣、自動消除顆粒粘連、自動獲取粒徑粒形參數(shù)等12項自動處理工具。 | |
球狀顆粒處理 | 針對球狀顆粒復雜粘連顆粒采用特有算法,可以直接求出樣品的粒徑參數(shù)和分布。 | |
比例尺標定 | 通過國家標準測微尺標定后,每次測試只須選擇與物鏡相對應的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實際大小數(shù)值。
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單個顆粒數(shù)據(jù) | 可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、、粒徑、長徑比、球形度等10多項參數(shù)的分析顯示。 | |
任務管理機制 | 嚴格的任務管理機制,使用戶能夠將所有測試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。 | |
報告輸出 | 將測試結果輸出為報告,并可以自由修改報告樣式。 |
適用范圍
Winner99E靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。