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WET-SPM系列可控氣氛掃描探針顯微鏡

→手套孔 2個(gè)（兩軸）→泵 旋轉(zhuǎn)泵 渦輪分子泵（選配）→減振機(jī)構(gòu) 內(nèi)裝空氣彈簧式減振臺(tái)

NanoFirst-3100型掃描探針顯微鏡

特點(diǎn) 激光反射式檢測(cè)工作模式輕敲式軟樣品成像能力，生物大分子及粉體納米材料檢測(cè)，超高分辨率輕敲模式、相位模式AFM接觸式形貌測(cè)量，原子力曲線采集顯示STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲線測(cè)量功能特殊設(shè)計(jì)液體池，具備液體中輕敲式AFM成像能力深度陡度測(cè)量，三維顯示納米材料粗糙度測(cè)量，顆粒粒徑度量及分布統(tǒng)計(jì)實(shí)時(shí)觀測(cè)比照的形貌圖、摩擦力圖、相位圖、靜電力圖、磁力圖實(shí)時(shí)多通道剖面圖顯示專為科研和工業(yè)應(yīng)用設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)小巧美觀可 選配單分子操縱、局域電性能測(cè)量、納米刻蝕和加工功能DSP全數(shù)字化控制，操作簡(jiǎn)潔直觀控制主機(jī)可以采用筆記本電腦，適合課堂現(xiàn)場(chǎng)演示XY二維樣品移動(dòng)平臺(tái)，快速搜索感興趣的樣品區(qū)域步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近(STM自動(dòng)保護(hù)針尖)Windows全中文控制軟件，面 向?qū)ο笤O(shè)計(jì)提供實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)光柵、云母和HOPG樣品組合光學(xué)連續(xù)變倍顯微鏡，獨(dú)特的雙光路照明，樣品觀測(cè)范圍從1nm到20mm 360°彩色CCD成像系統(tǒng)，方便系統(tǒng)調(diào)整，可實(shí)時(shí)樣品錄像 RS232/USB接口，無(wú)需任何計(jì)算機(jī)卡，安裝簡(jiǎn)單迅速 　 技術(shù)指標(biāo) 探頭：樣品尺寸：≤Φ30mm樣品厚度：≤15mmXY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm，可選3μm×3μm， 10μm×10μm，20μm×20μm，50μm×50μm,100μm×100μmXY向分辨力：0.4nm(輕敲式)，0.25nm(AFM)，0.1nm(STM)Z向分辨力：0.05nm(輕敲式,DNA定標(biāo))，0.03nm(AFM,云母定標(biāo))，0.01nm(STM,HOPG定標(biāo))XY二維樣品移動(dòng)平臺(tái)范圍：0~5mm步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近(STM自動(dòng)保護(hù)針尖)僅需更換探針架，即可切換STM、接觸式AFM、輕敲模式電化學(xué)針尖塊，液體池，液體輕敲式AFM成像功能(選配)44～283X連續(xù)變倍彩色CCD觀察顯微系統(tǒng)全金屬屏蔽防震隔音箱(選配)精密隔震平臺(tái)(選配) 電子學(xué)控制器：XYZ控制：18-bit D/A數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D 、雙16-bit A/D多路同步采樣Z向反饋：DSP數(shù)字反饋反饋采樣速率：64.0kHz高壓放大器：集成高壓運(yùn)算放大器，最大電壓范圍±170V正弦波頻率掃描范圍：0~1000000Hz正弦波幅度范圍：0~10.0V最大掃描率：〉40000點(diǎn)/秒掃描角度：0~360° 掃描偏移：任意 圖像采樣點(diǎn)：256×256或512×512步進(jìn)馬達(dá)控制：手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退計(jì)算機(jī)接口：RS232/USB口 計(jì)算機(jī)軟件： 運(yùn)行于中文Windows 98/2000/XP操作系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)視窗工作界面AFM輕敲模式、相位模式AFM接觸模式（Contact Mode AFM）、摩擦力模式（LFM）功能STM恒流模式、恒高模式功能(STM)多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖智能識(shí)別和控制系統(tǒng)狀態(tài)、儀器類型、掃描器和探針架參數(shù)DSP全數(shù)字控制的參數(shù)設(shè)置和采集AFM激光檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能針尖共振峰自動(dòng)搜索功能頻率-RMS（f-RMS）曲線測(cè)量功能RMS-間隙（RMS-Z）曲線測(cè)量功能原子力-間距（F-Z）曲線測(cè)量功能(AFM)電流-電壓隧道譜（I-V曲線）測(cè)量功能(STM)隧道電流-間隙（I-Z曲線）測(cè)量功能(STM)靜電力成像模式功能（選配）磁力成像模式功能（選配）支持步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)驅(qū)進(jìn)到掃描器中心支持壓電掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正樣品傾斜度線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能實(shí)時(shí)調(diào)整本底及比例定點(diǎn)實(shí)時(shí)測(cè)試I-V、I-Z(STM)、F-Z(AFM)、RMS-Z功能鼠標(biāo)控制掃描區(qū)域平移、剪切功能用戶任意定義調(diào)色板功能圖像獲取文件連續(xù)存盤和自定義文件名,當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存功能圖像在線瀏覽，連續(xù)圖像獲取文件動(dòng)態(tài)重現(xiàn)，納米電影功能圖形刻蝕模式、矢量掃描模式、納米操縱和加工模式（選配）完備的在線式智能提示及全程幫助樣品粒度、粗糙度分析標(biāo)準(zhǔn)離線分析和處理功能 增加第二顯示器（選配）

SPM-9600掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡 SPM-9600

 

  • 清晰的觀察圖像 SPM-9600在基本觀察功能的基礎(chǔ)上融入了更強(qiáng)的測(cè)量功能，具備了的信號(hào)處理功能，再加上研發(fā)的VBDF（Variable Bandwidth Digital Filter）功能，數(shù)字處理能力比同類產(chǎn)品提高40%，可得到更高分辨率，更高質(zhì)量的觀察圖像。SPM-9600是一種的換代產(chǎn)品。
  • 豐富的檢測(cè)模式 標(biāo)準(zhǔn)配置模式包括接觸，動(dòng)態(tài)和位相三種模式。 擴(kuò)展模式包括：力調(diào)制、側(cè)向力，磁力（MFM）、電流、表面電勢(shì)（KFM）等檢測(cè)模式，并能和納米壓痕儀與Q調(diào)制系統(tǒng)聯(lián)用，可以輕松地升級(jí)到可控氣氛模式。無(wú)論是初學(xué)者還是專家都可輕松使用。
  • 簡(jiǎn)便快捷的操作 SPM-9600的操作界面簡(jiǎn)明易懂。軟件的自動(dòng)化功能幫助用戶都能輕松操作。并具備防振動(dòng)、噪聲的結(jié)構(gòu)，可不受外界干擾，快速地觀察各種樣品。 
  • 可擴(kuò)展到控制氣氛SPM 通過(guò)追加選配件控制氣氛腔，可升級(jí)到控制氣氛型掃描探針顯微鏡WET-SPM系列。 
    此照片表示一種組合例 >> SPM 2.gif

 

  • 主要技術(shù)規(guī)格
    測(cè)定模式 標(biāo)準(zhǔn)：接觸、動(dòng)態(tài)、相位
      選配模式：力調(diào)制模式、電流模式、磁力（MFM）模式、表面電位模式（KFM）、水平力模式（LFM）
    分辨率 水平0.2nm　垂直0.01nm
    最大掃描范圍（X/Y/Z） 30μm×30μm×5μm（標(biāo)準(zhǔn)）
      125μm×125μm×7μm（選配）
      55μm×55μm×13μm（選配）
    最大樣品形狀 24mm × 8mm
    樣品裝載方式 頭部滑動(dòng)機(jī)構(gòu)
    分束器滑動(dòng)機(jī)構(gòu) 內(nèi)置在AFM頭內(nèi)
  ■ 設(shè)置室的環(huán)境 　   設(shè)置室理想的空調(diào)條件如下。 　   溫度　23°±5℃ 　  濕度　60%以下  ■ 電源  運(yùn)行本裝置需要如下電源。 　   單相 100V-120V　50/60Hz　10A　1路  接地　第3種地線  ■ 裝置的尺寸和重量  SPM單元 W180×D255×H260mm 5.5kg  控制單元 W250×D420×H454mm 18.5kg 

（SPM）- SPI 4000系列掃描探針顯微鏡

SPA-400多功能掃描探針顯微鏡主要特點(diǎn)：    ＊ 實(shí)現(xiàn)了更加小型化的系統(tǒng)，提高了耐用性，可穩(wěn)定地進(jìn)行高分辨測(cè)定；     ＊ 可以實(shí)現(xiàn)更高速度的掃描；     ＊ 精密的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和新技術(shù)的采用了儀器具有原子級(jí)高分辨率和高重復(fù)性；     ＊ 克服了傳統(tǒng)SPM操作中需進(jìn)行的繁鎖調(diào)節(jié)和設(shè)置，即使是對(duì)于初學(xué)者來(lái)說(shuō)儀器的操作都非常簡(jiǎn)便；     ＊ 具有優(yōu)良隔音性能的防音罩，在苛刻的環(huán)境中，也能進(jìn)行高分辨率的測(cè)定；     ＊ 使用光學(xué)顯微鏡從正上方觀察，且光學(xué)顯微鏡圖象被顯示在顯示器上，因此很容易進(jìn)行激光光軸的調(diào)整及使探頭與試樣位置相吻合。     ＊ 可進(jìn)行諸多標(biāo)準(zhǔn)功能和擴(kuò)展功能的測(cè)量（如AFM，MFM，SMM等）SPA-300HV多功能可控環(huán)境掃描探針顯微鏡    SPA-300HV是在高真空或氣體環(huán)境等特殊環(huán)境中，為測(cè)定試樣的微細(xì)形狀和原子,分子的配列而開發(fā)的SPM 單元。它具有下列特點(diǎn)：     ＊ 備有適合真空狀態(tài)下的樣品腔;可在高真空度或不同氣氛環(huán)境中進(jìn)行SPM測(cè)定; 還可以進(jìn)行低溫下和高溫下的SPM測(cè)定等；    ＊ 磁懸浮分子泵與標(biāo)準(zhǔn)的機(jī)械泵一同使用，短時(shí)間內(nèi)就可達(dá)到高真空狀態(tài)，振動(dòng)極小，運(yùn)行中也可能進(jìn)行SPM測(cè)定；     ＊ 進(jìn)的電化學(xué)和液體中成像系統(tǒng)等；    ＊ 具有上述SPA-400所有的標(biāo)準(zhǔn)功能和擴(kuò)展功能。 若需詳細(xì)資料請(qǐng)向我們聯(lián)系

NanoFirst-3100掃描探針顯微鏡

儀器特點(diǎn) ：

計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡(jiǎn)捷直觀。 步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖－－樣品逼近，實(shí)驗(yàn)圓滿成功。 深度陡度測(cè)量，三維顯示。 納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。 Ｘ、Ｙ二維樣品移動(dòng)平臺(tái)，快速搜索樣品區(qū)域． 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無(wú)需任何計(jì)算機(jī)卡 樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。 掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒 可選配納米刻蝕功能模塊。  技術(shù)指標(biāo) ：

SPM探頭 樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。 XY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米 XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式)；0.3nm（AFM模式）；0.1nm(STM模式) Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲模式)；0.03nm（AFM模式）；001nm(STM模式) XY二維樣品移動(dòng)范圍：５mm；精度0.5微米 步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近 44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配) 電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配） 全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)（選購(gòu)）  電子學(xué)控制器 ：

XTZ控制 18-Bit D/A 數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣 Z向反饋 DSP數(shù)字反饋 反饋采樣速率 64.0KHz 高壓放大器 集成高壓運(yùn)算放大器，最大電壓范圍+/-150V 頻率范圍 20K-1000KHz 幅度范圍 0-10.0V 掃描速率 >40000點(diǎn)/秒 掃描角度 0-360度連續(xù)可調(diào) 掃描偏移 任意 圖像采樣點(diǎn) 256X256或512X512 步進(jìn)馬達(dá)控制 手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退 計(jì)算機(jī)接口 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB

SPM-9700SPM-9700掃描探針顯微鏡

     掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過(guò)高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700更是性能高、速度快、操作簡(jiǎn)單的新一代掃描探針顯微鏡。•頭部滑動(dòng)機(jī)構(gòu) 高穩(wěn)定性&高速分析處理•鼠標(biāo)操作即可實(shí)現(xiàn)豐富的3D圖像顯示•從觀察到分析實(shí)現(xiàn)無(wú)拘無(wú)束的可操作性•滿足所有要求的功能和擴(kuò)展性•粒度分析軟件（選配）•超微小硬度計(jì)復(fù)合型SPM系統(tǒng)SPM+TriboScope（TriboScope為美國(guó)Hysitron公司產(chǎn)品） 可以進(jìn)行極薄膜的硬度試驗(yàn)和壓痕試驗(yàn)。•微小部熱分析試驗(yàn)儀器復(fù)合型SPM系統(tǒng) SPM+nano-TA2（nano-TA2為Anasys Instruments公司產(chǎn)品）可以進(jìn)行樣品表面的三維形貌觀察和點(diǎn)的熱分析。 

該公司產(chǎn)品分類： 光譜儀 分析儀 顯微鏡

SPM-9700島津掃描探針顯微鏡SPM-9700

產(chǎn)品信息

探知未來(lái) 掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過(guò)高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700更是性能高、速度快、操作簡(jiǎn)單的新一代掃描探針顯微鏡。
樣品交換時(shí)也可保持激光穩(wěn)定照射懸臂。照射穩(wěn)定性，分析時(shí)間也大幅度縮短。

可從不同角度放大拉伸圖像進(jìn)行確認(rèn)。鼠標(biāo)操作簡(jiǎn)單，更可進(jìn)行3D斷面形狀分析。
   

按照操作指南指導(dǎo)操作順序，使用導(dǎo)航功能直接鎖定觀察位置，實(shí)現(xiàn)了SPM的快速簡(jiǎn)便的觀察

具備豐富的測(cè)定模式和的擴(kuò)展性，可對(duì)不同硬度、不同導(dǎo)電性能等各式樣品進(jìn)行觀察分析。
 控制氣氛掃描探針顯微鏡 WET-SPM 可以控制樣品和周邊環(huán)境，在可控氣氛下進(jìn)行樣品處理，并直接進(jìn)行SPM觀察。 選配系統(tǒng)具有溫度濕度控制單元、樣品加熱冷卻單元、樣品加熱單元、吹起單元。
 粒度分析軟件 從圖像數(shù)據(jù)中選取復(fù)數(shù)顆粒，對(duì)每一顆粒進(jìn)行特征量的計(jì)算，并進(jìn)行分析、顯示，以及及進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。
 

 超微小硬度計(jì)復(fù)合型SPM系統(tǒng)SPM+TriboScope（TriboScope為美國(guó)Hysitron公司產(chǎn)品） 可以進(jìn)行極薄膜的硬度試驗(yàn)和壓痕試驗(yàn)。  微小部熱分析試驗(yàn)儀器復(fù)合型SPM系統(tǒng) SPM+nano-TA2（nano-TA2為Anasys Instruments公司產(chǎn)品）可以進(jìn)行樣品表面的三維形貌觀察和點(diǎn)的熱分析。

觀察模式 標(biāo)準(zhǔn)

接觸模式 動(dòng)態(tài)模式 相位模式 水平力模式（LFM） 力調(diào)制模式 矢量掃描模式
選購(gòu)件 磁力（MFM）模式） 電流模式 表面電位（KFM）模式
分辨率 XY 0.2 nm
Z 0.01 nm
AFM頭部 位移監(jiān)測(cè)系統(tǒng) 光源/光杠桿/檢測(cè)器
光源 激光二極管（On/Off均可） 更換樣品無(wú)需調(diào)整光路
檢測(cè)器 光敏二極管
掃描器 驅(qū)動(dòng)元件 管狀壓電元件
最大掃描范圍 （X*Y*Z） 30μm×30μm×5μm。(biāo)準(zhǔn)） 125μm×125μm×7μm　（選購(gòu)） 55μm×55μm×13μm。ㄟx購(gòu)） 2.5μm×2.5μm×0.3μm　（選購(gòu)）
樣品臺(tái) 最大樣品形狀 φ24mm×8mm
樣品裝載方式 頭部滑動(dòng)機(jī)構(gòu) 懸臂安裝狀態(tài)下可直接裝載樣品
樣品固定方式 磁性固定
Z軸驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu) 驅(qū)近方式 全自動(dòng)驅(qū)近
最大可驅(qū)近范圍 10mm
信號(hào)顯示板 顯示量 檢測(cè)器的總?cè)肷涔饬浚〝?shù)字顯示）
減震機(jī)構(gòu) 減震臺(tái) SPM單元內(nèi)置
光學(xué)顯微鏡觀察 方式 分束器滑動(dòng)機(jī)構(gòu)
專用風(fēng)擋 方式 無(wú)需或者使用氣氛控制腔體
氣氛控制 方式 無(wú)需改造SPM單元可直接導(dǎo)入氣氛腔體

 

該公司產(chǎn)品分類： EO滅菌柜 環(huán)氧乙烷滅菌器 頂空氣相色譜 紫外可見(jiàn)分光光度計(jì) 環(huán)氧乙烷殘留量檢測(cè)儀 環(huán)氧乙烷滅菌柜 環(huán)氧乙烷滅菌器 儀器租賃 泰斯肯掃描電鏡 萊伯泰科 電感銷售 海光儀器 二手儀器回收 二手儀器銷售 二手儀器銷售和回收 儀器維修保養(yǎng) 賽默飛世爾（熱電） 韓國(guó)賽可儀器 瑞士萬(wàn)通儀器 日本精工儀器

WET-SPM系列可控氣氛掃描探針顯微鏡

→手套孔 2個(gè)（兩軸）→泵 旋轉(zhuǎn)泵 渦輪分子泵（選配）→減振機(jī)構(gòu) 內(nèi)裝空氣彈簧式減振臺(tái)

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