技術參數
測量方式 | 電磁式 | 渦流式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
探頭名稱 | 磁性探頭 | 渦流探頭 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量對象 | 磁性金屬(鐵、鋼)上非磁性涂鍍層 | 非磁性金屬(非鐵)上的絕緣層 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量范圍 | 0~2500um(99mils) | 0~1200um(47mils) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量精度 | <50um:±1um; 50~1000um:±2%; >1000um:±3% | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
分辨率 | <100um:0.1um; 技術參數
>1000um:±1um | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
存儲數據 | 約3000個 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
預存通道 | 電磁式和渦流式各50個,共計100個 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
顯示方式 | LCD數顯 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
數據輸出 | 連接電腦或打印機 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
電源 | 5#電池×4個 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
消費電量 | 80mW(不使用背光狀態(tài)下) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
電池壽命 | 100小時(不使用背光狀態(tài)下連續(xù)使用的情況下) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
室溫要求 | 0~40℃ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
外形尺寸 | 主機:75(W)×145(D)×31(H), 340g | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
標準配置 | 鐵基體,鋁基體,標準片,V型塊,主機皮套,電池×4個,使用說明書 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
可選附件 | 標準片,專用臺架,軟件,數據線,探頭 |
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掌上型膜厚計(涂鍍層測厚儀) 產品說明:
LZ-900J掌上型膜厚計,小巧、實用,用于無損、快速、精確的測量涂層、鍍層厚度。采用磁性和渦流兩種方式測量膜厚計?蔁o損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 LE-900J掌上型膜厚計,小巧、實用,用于無損、快速、精確的測量涂層、鍍層厚度。采用磁性方式測量膜厚?蔁o損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)。 LH-900J掌上型膜厚計,小巧、實用,用于無損、快速、精確的測量涂層、鍍層厚度。采用渦流方式測量膜厚。可無損的測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
詳細規(guī)格 | |
. | 適用非金屬底材塗層的測量。 |
. | 測量範圍0-2000μm。 |
. | ASTM D3002 / D3359、DIN 50986 / 53151 / 53153、DIN EN ISO 2409 / 2815、NCCAII-13 & X-1、VTLA-003 Item 9 |
. | 方格式試驗 DIN 53153、ASTM D3359 |
. | 鋸齒式硬度試驗 DIN 53153 Buchholz |
. | 旋轉刀頭具安全釋放鈕,可切換範圍測量。 |
. | 50x 高倍放大鏡、內附精密刻度 最小 0.1mm 及照明燈。 |
. | 可作硬度測試配件選配。 |
. | 須破壞塗層方能測膜厚 |
破壞式膜厚計
適用非金屬底材涂層的測量。測量范圍0-2000μm。符合ASTM D3359,DIN 53151。可作硬度測試(配件選配)。須破壞涂層方能測膜厚。
名稱: 螢光X線膜厚計 | ||
型號: EX-3000 | ||
簡介: 1. 采用中文窗口操作系統(tǒng),操作性簡便。2. 厚度測量極限:分辨率0.001um。3. 可測試項目:單層膜厚、雙層 |