專業(yè)生產(chǎn)：恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗機(jī)、冷熱沖擊機(jī)、冷熱沖擊箱、高低溫沖擊試驗機(jī)、高恒溫恒濕室、恒溫恒濕箱、恒溫恒濕機(jī)、插拔力試驗機(jī)、跌落試驗機(jī)、手機(jī)跌落試驗機(jī)、模擬運(yùn)輸振動臺、振動試驗機(jī)、萬能材料試驗機(jī)、拉力試驗機(jī)、手機(jī)翻蓋試驗機(jī)、轉(zhuǎn)軸壽命試驗機(jī)、鹽霧試驗機(jī)、紙箱容壓試驗機(jī)、按鍵荷重曲線試驗機(jī)、LCD耐壓試驗機(jī)、耐磨擦試驗機(jī)、操作模擬耐久試驗機(jī)、手機(jī)耐磨擦試驗機(jī)、紙帶耐磨試驗機(jī)等。
TEL:0769-87190208 87191748 87191758www.baoyt.com
本機(jī)器可模擬NOTE-BOOK（手機(jī)PDA）各種動作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用后，各種零件的耐久狀況。由電腦設(shè)定測試動作，可隨時更改或儲存，并可同時執(zhí)行數(shù)個測試動作，一臺電腦可同時控制數(shù)臺機(jī)器！ ⊥庥^尺寸 760×490×650mm
重 量 90Kg
電 源 AC 110V或220VPDA測試規(guī)格：
·CF卡插拔耐久試驗 ·BATTERY 蓋插、拔耐久試驗
·DC插頭耐久試驗 ·連接器插、拔耐久試驗
·筆插拔耐久試驗 ·觸控螢?zāi)荒Σ聊途迷囼?nbsp;
·ON、OFF開關(guān)機(jī)耐久試驗
手機(jī)測試規(guī)格：
·天線上、下抽取試驗 ·天線彎曲試驗
·電池插入、拔出試驗 ·連接器插入、拔出壽命試驗
·ON、OFF開關(guān)壽命試驗 ·上蓋打開、關(guān)閉壽命試驗
·短距離落下壽命試驗 ·SIM卡插入、拔出壽命試驗
NOTEBOOK測試規(guī)格：
·磁碟片播入、退出試驗 ·電池插入、退出試驗
·PCMCIA插入、退出試驗 ·光碟機(jī)插入、退出試驗
·各種接頭插入、退出試驗 （PRINT埠、COM埠、USB、PS2等等）
·桌面放落試驗
本機(jī)器可模擬NOTE-BOOK（手機(jī)PDA）各種動作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用后，各種零件的耐久狀況。由電腦設(shè)定測試動作，可隨時更改或儲存，并可同時執(zhí)行數(shù)個測試動作，一臺電腦可同時控制數(shù)臺機(jī)器！ ⊥庥^尺寸 760×490×650mm
重 量 90Kg
電 源 AC 110V或220VPDA測試規(guī)格：
·CF卡插拔耐久試驗 ·BATTERY 蓋插、拔耐久試驗
·DC插頭耐久試驗 ·連接器插、拔耐久試驗
·筆插拔耐久試驗 ·觸控螢?zāi)荒Σ聊途迷囼?nbsp;
·ON、OFF開關(guān)機(jī)耐久試驗
手機(jī)測試規(guī)格：
·天線上、下抽取試驗 ·天線彎曲試驗
·電池插入、拔出試驗 ·連接器插入、拔出壽命試驗
·ON、OFF開關(guān)壽命試驗 ·上蓋打開、關(guān)閉壽命試驗
·短距離落下壽命試驗 ·SIM卡插入、拔出壽命試驗
NOTEBOOK測試規(guī)格：
·磁碟片播入、退出試驗 ·電池插入、退出試驗
·PCMCIA插入、退出試驗 ·光碟機(jī)插入、退出試驗
·各種接頭插入、退出試驗 （PRINT埠、COM埠、USB、PS2等等）
·桌面放落試驗
產(chǎn)品簡介 本機(jī)器可模擬 Notebook 、手機(jī)、PDA 各種動作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用後，各種零件的耐久狀況。由電腦設(shè)定測試動作，可隨時更改或儲存，並可同時執(zhí)行數(shù)個測試動作，一臺電腦同時控制數(shù)臺機(jī)器。 Notebook 測試規(guī)格: 磁碟片插入、退出試驗。光碟機(jī)插入、退出試驗。PCMCIA插入、退出試驗。 電池插入、退出試驗。 各種接頭插入、退出試驗。 ( PRINT 埠、COM埠、USB、 PS2 等等 ) 桌面放落試驗 。 手機(jī)測試規(guī)格： 天線上、下抽取試驗。天線彎曲試驗。電池插入、拔出試驗。連接器插入、拔出壽命試驗。ON 、OFF 開關(guān)機(jī)壽命試驗。上蓋打開、關(guān)閉壽命試驗。短距離落下壽命試驗。 SIM 卡插入、拔出壽命試驗。PDA 測試規(guī)格： CF卡插拔耐久試驗。 Battery 蓋插、拔耐久試驗。DC插頭耐久試驗。連接器插、拔耐久試驗。筆插拔耐久試驗。觸控螢?zāi)荒Σ聊途迷囼灐?ON 、 OFF 開關(guān)機(jī)耐久試驗。
操作模擬耐久試驗機(jī)產(chǎn)品簡介： 操作模擬耐久試驗機(jī)可模擬Notebook、手機(jī)、PDA各種動作之操作，以了解產(chǎn)品在經(jīng)多次使用后，各種零件的耐久狀況。由計算機(jī)設(shè)定測試動作，可隨時更改或儲存，并可同時執(zhí)行數(shù)個測試動作，一臺計算機(jī)可同時控制數(shù)臺機(jī)器。
產(chǎn)品參數(shù)：Notebook測試規(guī)格: 磁盤片插入、退出試驗。 光驅(qū)插入、退出試驗。 PCMCIA插入、退出試驗。 電池插入、退出試驗。 各種接頭插入、退出試驗（PRINT埠、COM埠、USB、PS2等等）。 桌面放落試驗 。
手機(jī)測試規(guī)格： 天線彎曲試驗。 天線上、下抽取試驗。 電池插入、拔出試驗。連接器插入、拔出壽命試驗。 ON、OFF開關(guān)機(jī)壽命試驗。 上蓋打開、關(guān)閉壽命試驗。短距離落下壽命試驗。 SIM卡插入、拔出壽命試驗。
PDA測試規(guī)格： CF卡插拔耐久試驗。 Battery蓋插、拔耐久試驗。 DC插頭耐久試驗。
連接器插、拔耐久試驗。 筆插拔耐久試驗。 觸控屏幕摩擦耐久試驗。