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薄膜測厚儀

紅外薄膜測厚儀的相關(guān)技術(shù)參數(shù)如下所示：一、系統(tǒng)功能：連續(xù)對薄膜斷面掃描，給出厚度尺寸，計算機進行信號采集、數(shù)據(jù)處理、圖形顯示、報警等功能。二、系統(tǒng)配置：工控機、1200毫米寬平面掃描機構(gòu)、探頭、數(shù)據(jù)處理單元。工控機配置：8255卡、AD/DA卡，主板：FSC-1711VN/機箱：IPC810A/CPU：PⅣ2.4/內(nèi)存：DDR256M/硬盤：80G/軟驅(qū)：三星/光驅(qū)：52x/顯示器：PHILIPS 107F5。三、具體指標：1、具有信號采集、計算機數(shù)據(jù)處理、圖形顯示、保存等功能；2、具有定點尺寸繼電器報警輸出；3、測量范圍：0.2毫米以下；4、測量速度：300Hz；5、顯示速度：2次/秒；6、測量分辨率：0.01um；測量精度：±0.1~0.5um；7、用戶提供最大幅寬尺寸：1200毫米；8、質(zhì)保期：發(fā)貨之日起計算機一年，其余一年半。9、付款與供貨：合同簽訂后一周內(nèi)付全款的50%之后2周內(nèi)發(fā)貨，貨到付全款的30%，驗收合格后付全款的20%。西安星悅激光紅外技術(shù)有限公司聯(lián)系人：穆兵權(quán) 13201707632電話：029-85500318 85549436傳真：029-85500318E-mail:mbqking@163.com網(wǎng)站：www.xylaser.com/mbq/index.htm

光干涉薄膜測厚儀

應用領(lǐng)域

理論上講，我們的光干涉膜厚儀可以測量所有透光或半透光薄膜的厚度。以下為我們最熟悉的應用領(lǐng)域(半導體薄膜，光學薄膜涂層，在線原位測量，粗糙或弧度表面測量)：

□ 晶片或玻璃表面的介電絕緣層(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...)；

□ 晶片或玻璃表面超薄金屬層(Ag, Al, Au, Ti, ...)；

□ DLC(Diamond Like Carbon)硬涂層；SOI硅片；

□ MEMs厚層薄膜(100µm up to 250µm)；

□ DVD/CD涂層；

□ 光學鏡頭涂層；

□ SOI硅片；

□ 金屬箔；

□ 晶片與Mask間氣層；

□ 減薄的晶片(< 120µm)；

□ 瓶子或注射器等帶弧度的涂層；

□ 薄膜工業(yè)的在線過程控制；等等…

軟件功能

豐富的材料庫：操作軟件的材料庫帶有大量材料的n和k數(shù)據(jù)，基本上的常用材料都包括在這個材料庫中。用戶也可以在材料庫中輸入沒有的材料。

軟件操作簡單、測速快：膜厚測量儀操作非常簡單，測量速度快：100ms-1s。

軟件針對不同等級用戶設(shè)有一般用戶權(quán)限和管理者權(quán)限。

軟件帶有構(gòu)建材料結(jié)構(gòu)的拓展功能，可對單/多層薄膜數(shù)據(jù)進行擬合分析，可對薄膜材料進行預先模擬設(shè)計。

軟件帶有可升級的掃描功能，進行薄膜二維的測試，并將結(jié)果以2D或3D的形式顯示。軟件其他的升級功能還包括在線分析軟件、遠程控制模塊等。硬件升級 hspace=0

多通道測試，最多支持8個獨立的同時測試 6英寸、12英寸掃描樣品臺

RTL透明樣品專用夾具用于曲面結(jié)構(gòu)的CSH探頭

顯微鏡配適器不同型號及規(guī)格NanoCal-VIS 波長400 -850 nm, 膜厚50 nm.-20 μm (如SiO2 on Si) 分光計，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal-NIR 波長650 -1100 nm, 膜厚70 nm.-70 μm 分光計，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal-VIS/NIR 波長400 -1100 nm, 膜厚50 nm.-100 μm (選配1um-250um) 分光計，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal-UV/VIS 波長250 -850 nm, 膜厚10 nm.-20 μm 分光計，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal-FULL 波長250 -1100 nm, 膜厚10 nm.-70 μm 分光計，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal-NIR-HR 波長700 -978 nm, 膜厚1um-250um(選配400um)，高分辨分光計，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal-512-NIR 波長900 -1700 nm, 膜厚50 nm.-200 μm InGaAs-512陣列分光計，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，高能鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal 軟件單層膜測量、模擬、分析，支持Windows環(huán)境；NanoCal MS 軟件多層膜測量、模擬、分析，支持Windows環(huán)境NanoCal Mapping軟件配合6”或12”掃描臺使用，3D數(shù)據(jù)；NanoCal Online軟件在線原位分析軟件；NanoCal Remote軟件遠程控制軟件模塊

ST8000-MAP薄膜測厚儀（涂層）

技術(shù)參數(shù)

活動范圍：370mm x 470 mm~ 測量范圍：100Å~ 2.5㎛ at Sub-micron size 光斑尺寸：~ 0.2㎛ x 0.2㎛測量速度：14sec./Area 應用領(lǐng)域：半色調(diào)測量并具有ST6000/7000的所有功能

主要特點

1.具有ST6000的所有功能 2.精確圖案測量 3.自動調(diào)焦 4.電荷耦合器件照相機 5.模式識別 6.通訊接口模塊傳達方式

該公司產(chǎn)品分類：超低溫冰箱超凈工作臺(超凈臺) 生物安全柜化學發(fā)光分析儀全自動細菌培養(yǎng)儀洗瓶機/清洗機搖床、振蕩器、混勻器離心機、實驗室離心機培養(yǎng)箱移液器、移液槍細菌鑒定儀定氮儀、凱氏定氮儀、Dumas定氮儀空氣微生物采樣器純水器、超純水器、純水機、超純水機均質(zhì)器、均質(zhì)機、乳化機

膜厚儀，漆膜測厚儀，薄膜測厚儀

QUANIX4200涂鍍層測厚儀型號：QuaNix4200 品牌：德國尼克斯產(chǎn)地:德國QuaNix4200德國尼克斯涂鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù) 零位穩(wěn)定：所有涂層測厚儀測量前都要求校準零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是測量的前提。一臺好的測厚儀校零后，可以長時間保持零位不漂移，確保測量QuaNix4200德國尼克斯涂鍍層測厚儀無需校準：多數(shù)測厚儀除了校零外，還需要用標準片進行調(diào)校。測量某一范圍厚度，要用某一范圍的標準片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會因標準片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。溫度補償：涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術(shù)，以不同溫度下的測量精度。紅寶石探頭：探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會帶來很大的誤差。獨特的直流采樣技術(shù)：使得測量重復性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有無可比擬的和提高。詳細描述：測量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層，如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁、錫等；鋼鐵基材: 用于QUANIX4200涂鍍層測厚儀型測量范圍: 0-3000um測量精度:0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-3000um≤±2/100.最小測量面積: 10x10mm最小曲率: 凸半徑 5mm凹半徑 25mm最小基材厚度:0.2mm 溫度范圍: 0-60度顯示: LCD供電形式: 2個1.5V電池體積: 100X60X27mm重量: 約110克（涂層測厚儀,鍍層測厚儀,漆膜測厚儀,薄膜測厚儀,磁性測厚儀,渦流測厚儀,油漆測厚儀,粉末涂層測厚儀）

該公司產(chǎn)品分類：其它儀器涂裝檢測儀氣體檢測儀涂鍍層測厚儀超聲波測厚儀硬度計

Surfix SX-N1.5涂層測厚儀德國phynix漆膜儀

德國菲尼克斯PHYNIX Surfix SX涂層測厚儀

德國菲尼克斯PHYNIX Surfix SX-N1.5 分體涂層測厚儀

N型渦流原理：測量鋁、銅、鋅、不銹鋼等非磁性金屬基體上的絕緣涂鍍層，如油漆、瓷、塑料、琺瑯氧化層等。

這款德國PHYNIX涂層測厚儀配有彩色顯示屏，更好的內(nèi)容顯示，并包含多種語言。目前的版本含有英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，土耳其語，捷克語以及中文。

相對于Surfix系列，此系列的內(nèi)存也提高了很多，可以存儲多達2.000的測量值。與電腦的鏈接非常簡單，是通過 USB2.0. PHYNIX.connect 實現(xiàn)的。這是一個數(shù)據(jù)傳輸程序，和所有Windows系統(tǒng)兼容, 可以使數(shù)據(jù)方便地輸進Excel。此系列有兩種產(chǎn)品: Surfix® SX 可以連接所有PHYNIX探頭，使得儀器可以滿足很多測量任務(wù)。Surfix® EX 帶有固定標準探頭，適合任務(wù)明確的測量。和Surfix® SX 配有可拔插探頭相比，它易操作，更經(jīng)濟。

我們的Surfix®X測量儀用于以下領(lǐng)域：

電鍍行業(yè)，噴涂行業(yè)，汽車行業(yè)，化學工業(yè)，航空航天工程，造船業(yè)，研究實驗室和大學，車間，顧問和評估員

我們的所有測量探頭均配備碳化鎢硬質(zhì)合金耐磨測芯，提高了探頭耐磨性和使用壽命。

產(chǎn)品特點：

創(chuàng)新且用戶友好的測量技術(shù)

高分辨率彩色圖形顯示

USB接口

自動識別基材

數(shù)據(jù)存儲器，最多2,000個測量值

在線統(tǒng)計

直觀的菜單指導

在高達150°C或300°C的高溫表面上進行測量（選購）

制造商的測試證書

規(guī)格參數(shù)

測量原理	電渦流
功能	測量鋁、銅、鋅、不銹鋼等非磁性金屬基體上的絕緣涂鍍層，如油漆、瓷、塑料、琺瑯氧化層等。
測量范圍	0~1500μm
誤差范圍	±(1μm+1％)
分辨率	0.1μm
探頭	N1.5
探頭尺寸	Ø14mm x 83 mm
探頭重量	70g
校準模式	工作校準，零校準，單箔校準; 零偏移
統(tǒng)計功能	測量值，平均值，標準偏差，最小值，最大值
數(shù)據(jù)接口	USB2.0
數(shù)據(jù)存儲	2000個測量值
滿足標準	DIN，ISO，ASTM，BS
系統(tǒng)語言	英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，土耳其語，捷克語以及中文
顯示屏幕	高分辨率彩色顯示屏
工作溫度	0~50℃
防護等級	IP52
整機尺寸	1376623mm

包裝清單

名稱	型號	清單
涂層測厚儀	Surfix SX-N1.5	主機、N1.5探頭、橡膠防護套、校準膜、零標準片、2 節(jié)AA電池、PHYNIX.connect 傳輸軟件、使用手冊、制造商證書、包裝箱

該公司產(chǎn)品分類：儀器儀表涂裝檢測設(shè)備涂鍍層測厚儀測厚儀

供應蘭泰薄膜測厚儀 TM-8810

產(chǎn)品簡介

應用：石油、造船、電站、機器制造業(yè)及壓力容器、化工設(shè)備鍋爐、儲油罐等厚度測量和腐蝕測量。型號:TM-8810

測量范圍（公/英制）:1.5～200mm 0.06-8inch

可測量的材料：鋼，鑄鋼，鋁，紫銅，黃銅，鋅，石英玻璃，聚乙烯，聚氯乙烯，灰鑄鐵，球墨鑄鐵，陶瓷，塑料等11種材料

傳感器: 超聲波

管材測量下限：由傳感器確定

電池電壓指示：低電壓提示

使用環(huán)境：溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH

校準塊: 包括

分辨率: 0.1mm

度:±（0.5%n+0.2）

電源:4節(jié)5號電池

外形尺寸: 161X69X32mm

重量：208g（不含電池）

標準配置：

主機 1

5MФ8傳感器 1

耦合劑 1

說明書 1

便攜盒 1

可選附件：（點擊鏈接）

曲面?zhèn)鞲衅?nbsp;

該公司產(chǎn)品分類：水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀透光率儀酸堿度控制器超聲測厚儀里氏硬度計照度計轉(zhuǎn)速儀頻閃儀皮帶張力儀邵氏硬度計糧食水分儀測振儀聲級計風速儀水分儀粗糙度儀涂層測厚儀

CX-1000薄膜測厚儀和紙張測厚儀CX-1000 美國Oakland

美國Oakland公司生產(chǎn)的薄膜測厚儀CX-1000基于電容法則，使用被測樣品作為不導電介質(zhì)。當被測樣品被傳送通過傳感器時，儀器能測出細微的厚度變化并記錄下來，兼具良好的精度和重復性。

優(yōu)點一覽：

■的穩(wěn)定性擁有專利技術(shù)的傳感器和電子設(shè)計能降低溫度和濕度波動導致的測量值漂移。 ■良好的精度和重復性的機械和電子設(shè)計確保了儀器的精度。 ■簡單易用直觀的鍵盤和數(shù)字顯示，減少了誤操作的可能。 ■豐富的擴展功能可選配圖表記錄儀，打印機，電腦和專門的軟件以對測量結(jié)果進行打印，統(tǒng)計和圖表分析。

儀器特性：

■可選擇功能擴展 ■直觀的鍵盤式數(shù)據(jù)輸入和數(shù)字顯示 ■校準簡單 ■英制或公制顯示 ■可設(shè)置參數(shù)包括厚度單位，傳送速度，長度單位和目標 ■數(shù)據(jù)存儲和恢復校準/參數(shù)設(shè)置功能 ■可顯示平均厚度，標準方差，高/低測量值和位置，測量范圍和樣品長度 ■客戶定制的測試報告 ■可調(diào)樣品傳送速度 ■可設(shè)置參數(shù)包括防止折皺，上/下限和重要參數(shù)顯示 ■可顯示百分比/偏差/百分比-偏差，用以表示高/低測量值/范圍/平均值與目標值的比較 ■模擬輸出端口，用于連接圖表記錄儀 ■并口輸出，用于連接打印機 ■RS-232端口，用于連接電腦

薄膜測厚儀CX-1000技術(shù)參數(shù)和規(guī)格

詳細參數(shù)
可測樣品	非金屬塑料薄膜
測量范圍	0-300um，其他量程可選
精度	+-0.5%材料厚度
重復性	+-0.5%材料厚度
分辨率	.001mil 或0.1%材料厚度
溫度穩(wěn)定性	0.1%，每攝氏度
電源	230V，50HZ
重量	21Kg
標準配置	主機，SQC軟件
儀器尺寸（寬x長x高）	21cm x 51 x 51cm
可選配件	質(zhì)量控制軟件Quality Control Software 6針串口線纜自動校準配件（含過程控制軟件）Model CX-1025 平行調(diào)整砧臺帶側(cè)翼的砧盤

產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字： CX-1000

該公司產(chǎn)品分類： · 在線式光學測溫儀 · 網(wǎng)絡(luò)測試儀 · 紅外熱像儀 · 噪音計 · 轉(zhuǎn)速表 · 頻閃儀 · 紅外線測溫儀 · 測振儀光澤度儀粗糙度儀涂層測厚儀超聲波測厚儀附著力測試儀推拉力計溫度計汽車專用測厚儀水下測厚儀超聲波聲速儀磁粉探傷儀機械式涂層測厚儀

MC-3000A漆膜測厚儀MC-3000A涂層測厚儀MC-3000A薄膜測厚儀MC-3000A特價專賣

MC-3000A涂層測厚儀可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。

該儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

主要性能:

基本測量模式：常規(guī)模式，最小值模式，統(tǒng)計模式。

監(jiān)控測量模式：可進行差值設(shè)置，上下限報警設(shè)置。

可選擇刪除單個存儲數(shù)據(jù)，或者某一組數(shù)據(jù)或者清除全部數(shù)據(jù)。

可進行零點校準、兩點校準及系統(tǒng)校準。

可設(shè)置關(guān)機方式，背光開或閉，恢復出廠狀態(tài)。

可打印存儲值，也可打印統(tǒng)計值。

分組存儲數(shù)據(jù)共6組，每組存99個測量點。

可分組查看存儲測量值。

技術(shù)參數(shù)

測量范圍：MC-3000A 0~1200um

顯示精度：0.1 um

欠電壓顯示：左上角顯示＂欠＂

顯示方式：3位液晶數(shù)字顯示*

尺寸/重量：146*81*30mm 260克

標準配置：主機、探頭、標準樣片、說明書、保修卡、合格證、五號電池、手提箱。

可選附件：打印機及通訊打印連線、微機通訊軟件、內(nèi)防腐探頭

該公司產(chǎn)品分類：頻閃儀轉(zhuǎn)速表雷達測速儀涂層測厚儀超聲波測厚儀粗糙度儀測振儀硬度計測厚儀濕式氣體流量計流量計

供應F20-XT經(jīng)濟型高級膜厚測試儀、薄膜測厚儀，膜厚儀

F20-XT經(jīng)濟型高級膜厚測試儀主要用于測試各種透明半透明的膜厚.

產(chǎn)品簡介：

1 是在F20-NIR的基礎(chǔ)上專為測試厚膜而設(shè)計的，波長范圍從1200nm到1450nm，在NIR波長分辨率為 0.5nm； 2 薄膜厚度的測量范圍是：0.2～ 450um（低光學參數(shù)薄膜），0.1～160um（Si及其它半導體），精度都好于0.4%。

應用領(lǐng)域 :

1 微機電系統(tǒng)MEMS； 2 絕緣體上硅SOI； 3 倒裝芯片F(xiàn)lip Chips； 4 厚聚合物

目前，我司已與一些著名的生產(chǎn)和研究單位建立了良好的業(yè)務(wù)關(guān)系；同時，也已與歐、美等地區(qū)的半導體生產(chǎn)廠商及有關(guān)機構(gòu)也建立起了良好的合作伙伴關(guān)系。

聯(lián)系人: 馮先生手機:139-1145-7960Email:bf711@befirst-tech.comWebSite:www.befirst-tech.com

如果有任何關(guān)于設(shè)備或者技術(shù)的疑問歡迎電話或Email給我，合作愉快！

該公司產(chǎn)品分類： RKD 酸開封機 RKD 激光開封機 DAGE4000產(chǎn)品配件易消耗品 BFL金屬和陶瓷封裝產(chǎn)品開封機 TPT半自動焊線機和貼片機 FAI 紅外熱像儀 DAGE X光檢查機（Dage X-ray） Dage4000推拉力測試機

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