黄色日韩视频 在线,欧美两性生活免视频,在线观看的AV毛片,欧美一级A片免费观看

Zetatrac新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀

30多年來，Microtrac 公司一直于激光散射技術在顆粒粒度分布中的應用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產(chǎn)生的能譜概念，利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術，結合動態(tài)光散射理論和的數(shù)學處理模型，取代傳統(tǒng)的光子相關光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術的發(fā)展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實，成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。  應用領域：  有機聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無機物，結晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質(zhì)，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

主要特點

﹡ 專利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術，比較傳統(tǒng)的多譜勒頻 移分析方法，獲得顆粒散射信號的強度高出幾個數(shù)量級，提高分析結果的性 ﹡ 專利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method，能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能 譜，確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，避免了多重散射現(xiàn)象，高濃度溶液中納米顆粒測 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統(tǒng)，精確聚焦藍寶石測量窗口，消除雜散光對檢測器的負面影響 ﹡ 專利的快速傅利葉變換算法FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method，迅速處理檢 測系統(tǒng)獲得的光譜，縮短分析時間 ﹡ 引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因素，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學數(shù)據(jù)庫，提 高顆粒粒度分布測試的性 ﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析國際標準－納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標準

技術參數(shù)

粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米 Zeta 電位測量：+/- 5mv 電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm 重復性：誤差小于1%（標準顆粒） 測量原理：動態(tài)光背散射技術及米氏理論 專利技術：HDF，CRM，F(xiàn)FT，“Ｙ”型光纖光路設計，“非球形”顆粒校正選項，微電場設計技術 檢測角度：180º 濃度范圍：0.1ppm – 40wt% 分析時間：30-120 秒 光源：3mW 780nm 半導體光纖 樣品體積：0.2ml 操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國際標準：ISO 13321 環(huán)境溫度：10ºC to 35ºC 相對濕度：小于90%

 

NANOPLUS納米粒度與Zeta電位分析儀

NanoPlus是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術來分析納米粒度和zeta電位，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術，可同時滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0.001%到40%，可檢測粒徑從0.6nm到10μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。

該款儀器具有以下技術特點：

  • 可測定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
  • 可測定固體zeta電位
  • 寬粒徑范圍（0.6nm~10μm），寬濃度范圍（粒徑測試：0.00001%~40%，zeta電位測試：0.001%~40%）
  • 可精確測量稀釋或濃縮的懸浮液
  • 用戶友好的軟件
  • 多種樣品池選擇
  • 可選擇一次性樣品池
  • 結合線性相關器和對數(shù)相關器相結合的技術對各種樣品進行表征
  • 可選擇自動滴定裝置控制懸浮液PH值

 

產(chǎn)品應用：

 

半導體

研究半導體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。

 

醫(yī)藥和食品行業(yè)

乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。

 

陶瓷和顏料工業(yè)

表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無機溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。

 

聚合物和化工領域

乳劑（涂料和粘合劑）的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業(yè)用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。

該公司產(chǎn)品分類： 反應釜、反應器 密度儀、密度計 壓汞儀 物理/化學吸附儀 比表面儀、比表面積、比表面及孔結構分析儀 孔徑/隙度分析儀 蒸氣吸附儀 粒度儀、激光粒度儀、粒度分析儀 沉降粒度儀/顆粒沉降儀 顆粒計數(shù)器 Zeta電位儀/微電泳儀 固體(粉末)表面分析儀

激光粒度儀及Zeta電位分析儀

   90Plus專門用于納米及亞微米顆粒的粒徑測量，操作方便、快捷，并可升級帶Zeta電位測量功能。ZetaPlus的升級產(chǎn)品為ZetaPALS。對于高濃度懸浮體系粒度的測量，BI-FOQELS為選擇。此外，對于需要研究體系聚集過程，或測量分子量的用戶，還可選擇添加BI-200SM以完成研究目的。主要特點   1.高功率的激光器了測量結果的精度。2.開放式樣品池和平板式電極的設計,是具有革新性的專利技術。3.基本避免了電滲運動和交叉污染的影響，從而提高測量的精度和速度。4.采用世界公認功能的相關器BI-9000，儀器具有的性能。5.良好的升級前景，延長了儀器的使用壽命。  技術參數(shù)     1.粒度范圍：2nm-5um2.溫控范圍：6-75℃, ±0.1℃3.濃度范圍：0.01%-0.1%體積 (0.001%-40%選項)4.pH范圍：2-125.激光器功率：30mW  

超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202

超聲粒度及Zeta電位分析儀

提供所有單臺儀器測量粒度分布, zeta電位和流變性質(zhì)(選件)的可能性 在一個樣品池中可以同時測量粒度分布和zeta電位 可以選擇附加各種探頭式測量傳感器, 包括溫度、pH值、電導率、和流變性質(zhì)測量，以及非水系統(tǒng)選項和軟件控制的自動滴定系統(tǒng) 所有探頭均可同時操作 統(tǒng)一的數(shù)據(jù)管理                                                      超聲粒度及Zeta電位分析儀產(chǎn)品簡介：利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時，聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應來測量顆粒粒度及濃度，采用多頻電聲學測量技術測量膠體體系的Zeta電位。對于高達50％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用Zeta Probe 直接進行測量。 傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進行其它的樣品處理，既費時又容易出錯，而多頻電聲技術則可避免這些問題。超聲探頭（Zeta Probe）能直接在樣品的原始條件下測量zeta電位，允許樣品濃度高達50％（體積）。Zeta Probe 結構設計緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到※佳分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制超聲粒度及Zeta電位分析儀參數(shù)規(guī)格： 1. 粒徑由超聲波( Acoustic)方式 , Zeta 電位由電聲波( Electro Acoustic)方式 2. 樣品無需稀釋直接測定,測量固體含量范圍:1% ～ 50% 3. 樣品※大測量攪拌濃度:10,000cps 4. 樣品測量電位范圍:+/- 300mV或以上 5. 聲波范圍: 500～3000m/s 6. 頻率范圍: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動掃描18個gap或以上 7. 粒徑測量: 5nm ～ 1000um 8. 可測量混合物之粒徑及Zeta電位 , 并可分析混合物之個別粒徑 9. 測量Zeta電位只需10ml或以下 10. 操作軟件功能: - 需在Windows XP下操作 - 粒徑分布圖及累計圖 - 粒徑分布數(shù)據(jù)表含D10 , D50 , D90 - 數(shù)據(jù)庫可在 Windows Access中由使用者自由選取 - 使用者可自由選取聲波速度及衰減圖 - 任何兩個參數(shù)的散射圖 - 用戶定義自動選擇多數(shù)據(jù)系列Multiple data series automatically selected from user query 11.可選自動酸堿與濃度滴定裝置 12.可選自動測量粒徑及Zeta電位對pH變化 13.可以及時分析/顯示Zeta電位與等電點 14.可及時測量/顯示樣品pH值,電導率,溫度 15.可選數(shù)據(jù)資料處理與顯示系統(tǒng): Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD , Windows XP及 Office軟件 ( or Lap computer

超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202產(chǎn)品特點：1.能分析多種分散物的混合體 2.無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點 3.可適用于高導電（highly conducting）體系 4.可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾 5.可精確測量無水體系 6.Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量 7.樣品的※高濃度可達50％（體積比）,被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量 8.具有自動電位滴定功能產(chǎn)品相冊： 

 

該公司產(chǎn)品分類： 超聲粒度和Zeta電位分析儀 粒子界面特性評價裝置 介電常數(shù)測定儀 非水電導率測定儀 超聲流變儀 Zeta電位分析儀 超聲粒度分析儀 光學流變系統(tǒng) 混凝土流變儀 混凝土收縮測試儀 水泥/砂漿流變儀 砂漿干燥收縮測試儀 自動混凝土攪拌機 蛋白質(zhì)聚集體分析儀 表面特性分析儀 超聲粒度和Zeta電位分析儀 圖像法Zeta電位 納米粒度及Zeta電位分析儀 微區(qū)掃描電化學顯微鏡 真密度分析儀

DT-300電聲法zeta電位分析儀

12.00

Normal07.8 磅02falsefalsefalseEN-USZH-CNX-NONE

DT系列儀器即是由專業(yè)從事聲學研究的科學家組成的、位于美國新澤西州的dispersion technology Co.研發(fā)生產(chǎn)的系列儀器，可準確測量原濃溶液的粒徑、流變及電動學參數(shù)，如zeta電位、電導率等等。

1、 用于水相、有機相（極性或非極性溶劑）懸浮液和乳液表征

2、 采用多頻電聲測量技術由超聲探頭（Zeta Probe）直接測量

3、 Zeta電位測量范圍：無限制；低表面電荷可低至0.1mV

4、 原濃溶液測試，最小樣品量低至 2ml

5、  同時測量動態(tài)遷移率和雙電層厚度（Debye Length， 德拜長度）

6、 通過Access數(shù)據(jù)庫進行數(shù)據(jù)管理

7、可選自動滴定系統(tǒng)（DT-310）

該公司產(chǎn)品分類： 比表面積和孔徑分析儀 真密度計 真密度分析儀 真密度測試儀 全自動真密度計 開孔、閉孔率分析儀 開孔、閉孔率測定儀 真密度分析儀 壓實密度測試儀 壓實密度分析儀 壓實密度儀 振實密度儀 振實密度測試儀 堆密度測試儀 振實密度計 薄膜孔隙率分析儀 薄膜孔徑測試儀 圖像法zeta電位儀 比表面儀 比表面積測定儀

激光粒度儀及Zeta電位分析儀

   90Plus專門用于納米及亞微米顆粒的粒徑測量，操作方便、快捷，并可升級帶Zeta電位測量功能。ZetaPlus的升級產(chǎn)品為ZetaPALS。對于高濃度懸浮體系粒度的測量，BI-FOQELS為選擇。此外，對于需要研究體系聚集過程，或測量分子量的用戶，還可選擇添加BI-200SM以完成研究目的。主要特點   1.高功率的激光器了測量結果的精度。2.開放式樣品池和平板式電極的設計,是具有革新性的專利技術。3.基本避免了電滲運動和交叉污染的影響，從而提高測量的精度和速度。4.采用世界公認功能的相關器BI-9000，儀器具有的性能。5.良好的升級前景，延長了儀器的使用壽命。  技術參數(shù)     1.粒度范圍：2nm-5um2.溫控范圍：6-75℃, ±0.1℃3.濃度范圍：0.01%-0.1%體積 (0.001%-40%選項)4.pH范圍：2-125.激光器功率：30mW  

Zetatrac新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀

30多年來，Microtrac 公司一直于激光散射技術在顆粒粒度分布中的應用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產(chǎn)生的能譜概念，利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術，結合動態(tài)光散射理論和的數(shù)學處理模型，取代傳統(tǒng)的光子相關光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術的發(fā)展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實，成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。  應用領域：  有機聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無機物，結晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質(zhì)，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

主要特點

﹡ 專利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術，比較傳統(tǒng)的多譜勒頻 移分析方法，獲得顆粒散射信號的強度高出幾個數(shù)量級，提高分析結果的性 ﹡ 專利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method，能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能 譜，確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，避免了多重散射現(xiàn)象，高濃度溶液中納米顆粒測 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統(tǒng)，精確聚焦藍寶石測量窗口，消除雜散光對檢測器的負面影響 ﹡ 專利的快速傅利葉變換算法FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method，迅速處理檢 測系統(tǒng)獲得的光譜，縮短分析時間 ﹡ 引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因素，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學數(shù)據(jù)庫，提 高顆粒粒度分布測試的性 ﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析國際標準－納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標準

技術參數(shù)

粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米 Zeta 電位測量：+/- 5mv 電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm 重復性：誤差小于1%（標準顆粒） 測量原理：動態(tài)光背散射技術及米氏理論 專利技術：HDF，CRM，F(xiàn)FT，“Ｙ”型光纖光路設計，“非球形”顆粒校正選項，微電場設計技術 檢測角度：180º 濃度范圍：0.1ppm – 40wt% 分析時間：30-120 秒 光源：3mW 780nm 半導體光纖 樣品體積：0.2ml 操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國際標準：ISO 13321 環(huán)境溫度：10ºC to 35ºC 相對濕度：小于90%

 

顆粒度及Zeta電位分析儀

我們的粒度和Zeta電位分析儀器, 采用專利技術---多頻電聲學測量技術測量膠體體系的Zeta電位。對于高達50％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用Zeta Probe 直接進行測量。傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進行其它的樣品處理，既費時又容易出錯，而專利的多頻電聲技術則可避免這些問題。Zeta Probe 能直接在樣品的原始條件下測量zeta電位，允許樣品濃度高達50％（體積）。Zeta Probe結構設計緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。

產(chǎn)品特性1.能分析多種分散物的混合體 2.無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點 3.可適用于高導電（highly conducting）體系 4.可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾 5.可精確測量無水體系 6.Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量7.樣品的濃度可達50％（體積比）,被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量 8.具有自動電位滴定功能

產(chǎn)品規(guī)格1.所檢測粒徑范圍款從５nm至 1000um hspace=02.可測量Zeta電位、超聲波頻率、電導率、PH、溫度、聲衰減、聲速、電聲信號，動態(tài)遷移率、等電點（IEP） 3.Zeta電位測量范圍：無限制, low surface charges (可低至0.1mv),高精度（±0.1mv） 4.Zero surface charge條件下也可測量粒徑 5.允許樣品濃度：0.1～50％（體積百分數(shù)） 6.樣品體積：20-110ml（檢測粒徑），2-100ml（檢測Zeta電位）7.PH 范圍：0.5～13.5 8.電導率范圍：0.0001～10 S/m9.溫度范圍：< 50℃10.最大粘度：20，000厘泊11.電位滴定和體積滴定，滴定分辨率0.1μl

DT-1200高濃度膠體顆粒度及Zeta電位分析儀

主要特點

1.能分析多種分散物的混合體 2.無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點 3.可適用于高導電（highly conducting）體系 4.可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾 5.可精確測量無水體系 6.Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量 7.樣品的濃度可達50％（體積比）,被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量 8.具有自動電位滴定功能

儀器介紹

高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀,測試:  粒徑、Zeta電位、滴定、電導等  此儀器容易使用、測量精確。對于高達50％（體積）濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。結構設計緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。  Dispersion Technology，Inc.         產(chǎn)品：       　                      應用于：  DT-1200聲波和電聲波測量儀        實驗室中粒徑和Zeta電位及滴定、pH值測量  DT-100聲波測量儀                 實驗室中粒徑分析儀   DT-300Zeta電位探頭               實驗室中Zeta電位分析  DT-400自動膠體滴定               滴定、pH值、表面活性、鹽度等  分析軟件                         膠體科學領域的理論  典型應用領域：       Aggregative Stability, 水泥漿, 陶瓷, 化學機械研磨, 煤漿, 涂料, 化妝品, 環(huán)境保護浮選法礦物富集, 食品工業(yè), 乳膠, 微乳, 混合分散體系, 納米粉, 無水體系, 油漆成像材料.  測量參數(shù)：       粒子/液體的密度、液體的粘度、粒子的重量百分比、介電常數(shù)等參數(shù)。  優(yōu)于光學方法的技術優(yōu)勢：       1、被測樣品無需稀釋       2、排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾       3、不需定標       4、能分析多種分散物的混合體       5、高精度       6、所檢測粒徑范圍款從５nm至 1000um  優(yōu)于electroactics方法的技術優(yōu)勢：       1、無需定標       2、能測更寬的粒徑范圍       3、無需依賴Double Layer 模式       4、不需依賴（electric surface properties）電表面特性       5、Zero surface charge條件下也可測量粒徑       6、可適用于無水體系       7、可適用于高導電（highly conducting）體系  優(yōu)于微電泳方法的技術優(yōu)勢：       1、無需稀釋，固含量高達50%       2、可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾       3、高精度（±0.1mv）       4、low surface charges (可低至0.1mv)        5、electrosmotic flow 不影響測量       6、對流（convection）不影響測量       7、可精確測量無水體系

Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀

     作為最先將背向光散射技術（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應用全新的光纖技術將背向光散射技術與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術進行了完美結合，突破性地推出了結合15°、90°與173°三個散射角度與硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，實現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中，既可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，最高可達40%wt；硬件PALS技術（與傳統(tǒng)基于頻移技術的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應用，徹底解決了長期以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進行測量）的樣品進行分析的難題。Omni是目前市場上功能最強大的粒度與Zeta電位分析儀。

 

NanoBrook產(chǎn)品系列

 

項目

173

173Plus

Omni

ZetaPALS

功 能

粒度測量功能

●

●

●

○

分子量測量功能

●

●

●

○

Zeta電位測量功能

○

○

●

●

技 術 參 數(shù)

散射角

15°與173°

15°、90°與173°

○

粒度范圍

0.3nm-10μm

○

分子量測定范圍

342～2×107Dalton

○

相關器

4×522個物理通道，4×1011個線性通道

○

Zeta電位適用粒度范圍

○

1nm～100μm

Zeta電位范圍

○

－500mV～500mV

電導率范圍

○

0-30S/m

電泳遷移率范圍

○

10-11～10-7m2/V.s

電極

○

開放式永久型電極

系 統(tǒng) 參 數(shù)

溫控范圍與精度

－5～110℃，±0.1℃

激光源

35mW光泵半導體激光器

檢測器

PMT或APD

分析軟件

Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件

大小及重量

233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg

選 件

BI-ZTU自動滴定儀

可對PH值、電導率和添加劑濃度作圖

BI-870介電常數(shù)儀

直接測量溶劑的介電常數(shù)值

BI-SV10粘度計

用于測量溶劑及溶液的粘度

●代表“有” ○代表“無”

 

 

典型應用

 

☆   蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束

☆   脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體

☆   多糖、藥物制備

☆   納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

☆   油包水、水包油體系

☆   涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑

☆   食品、化妝品配方

☆   陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑

 

ZetaPALS測定電泳遷移率 （單位 10 -8m2 /V·s）

樣品 

PALS 結果 

文獻值 

備注

NIST 1980

2.51 ± 0.11

2.53 ± 0.12

標準樣品電泳遷移率

Blood Cells

-1.081 ± 0.015

-1.08 ± 0.02

分散于生理鹽水

Fe 2O3

0.013 ± 0.0015

N.A.

分散于十二烷

TiO2

0.255 ± 0.010

N.A.

分散于甲苯（非脫水）

TiO2

0.155 ± 0.011

N.A.

分散于甲苯（脫水）

TiO2

-0.503 ± 0.0015

N.A.

分散于乙醇

Casein

-0.025 ± 0.002

N.A.

分散于PEG（粘性）

SiO2

-0.73 ± 0.04

N.A.

分散于 2.0 M KCl（高鹽濃度）

 

應用案例

 不同粒徑對Zeta電位等電點的影響       不同官能團配比對等電點的影響        Zeta電位值與細胞吸收度的關系

    通過調(diào)整顆粒的粒徑或正負電荷官能團的比例，混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點可以在4～7之間明顯的變化，不同比例的官能團和顆粒的靜電荷對動物細胞吸收度有著重大影響。（數(shù)據(jù)摘自JACS）

技術參數(shù)

 

適用粒度范圍：粒度：0.3nm～10μm（與折射率，濃度，散射角有關）；Zeta電位：1nm～100μm

樣品濃度范圍：0.1ppm至40%w/v（與顆粒大小和折射率有關）

典型精度：粒度：1％；Zeta電位：3％

樣品類型：蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品

樣品體積：粒度：1～3ml，50μL微量樣品池，10μL微量樣品池（最新）；Zeta電位：0.18～1.5 ml

分子量測定范圍：342～2×107Dalton

Zeta電位范圍：-500mV～500mV

電導率范圍：0～30S/m

電泳遷移率范圍：10-11 ～ 10-7 m2 /V.s

電場強度：0 ～ 60 kV/m

電極：永久性開放式電極，電極材料純鈀；耐腐蝕電極（選件）；微量電極（選件）

溫控范圍與精度：-5℃～110℃，±0.1℃。

pH測量范圍：1-14

激光源：35mW光泵半導體激光器（可選5mW He-Ne激光器）

檢測器：高靈敏雪崩型二極管（APD）

相關器：4×522個物理通道，4×1011個線性通道，采用動態(tài)采樣時間及動態(tài)延遲時間分配

自動趨勢分析：對時間、溫度及其他參數(shù)

散射角：15°、90°與173°

室溫操作情況：10°C ～ 75°C，濕度 0% ～95%, 無冷凝

大小及重量：233mm （H） x 427 mm （W） x 481 mm （D），15 kg

電源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

計算機（選件）：商用計算機，包括WindowTM軟件

自動滴定儀（選件）：獨立四泵驅(qū)動，可對pH值、電導率和添加劑濃度作圖

該公司產(chǎn)品分類： 光散射系統(tǒng) 粒度及Zeta電位測量 TurboCorr數(shù)字相關器 Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 NanoDLS高靈敏在線粒度分析儀 FOQELS高濃度粒度分析儀 BI-XDC圓盤式離心沉降粒度儀 BioDLS高通量自動化粒度分析儀 BI-DCP圓盤式離心沉降粒度儀 ACOS實時在線粒度檢測系統(tǒng) 173Plus多角度粒度分析儀 90Plus亞微米激光粒度分析儀 BI-ZTU自動滴定儀 BI-870介電常數(shù)測定儀 Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 90Plus Zeta型Zeta電位及粒度分析儀 90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀 BI-2010/2020粘度檢測器 BI-DNDC示差折射儀 BI-MwA多角度激光光散射（絕對分子量測定）儀

最新產(chǎn)品
熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計（PH計） 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑