CMI900系列X射線熒光測厚儀
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關(guān)鍵字:測厚儀,膜厚儀,涂層厚度,CMI 233測厚儀,電鍍測厚,CMI150測厚儀,X射線熒光測厚儀
品牌:OXFORD CMI(英國牛津)
簡介:
□適用范圍:CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等,涉及到其它儀器不能檢測的測試領(lǐng)域。
□服務(wù)優(yōu)勢:具有最多的服務(wù)網(wǎng)點和強大的技術(shù)支持
□測量精度:1%或±0.1μm依照參考標準片,分辨率:0.01mils(0.25μm)
□測量范圍:磁感應(yīng)0-120mils(0-3.05mm);渦流0-60mils(0-1.52mm)
用途:廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍等表層厚度的測量
產(chǎn)品介紹 訂購編號:20709 CMI900 / 20710 CMI950
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制,分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定。可同時測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:
● 標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
● 擴展型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
● 可調(diào)高度型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
● 程控樣品臺:XYZ軸自動控制。
● 超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制。
CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:
● 全程控樣品臺:XYZ三軸程序控制樣品臺,可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。
● Z軸程控樣品臺:XY軸手動控制,Z軸自動控制,可接納的樣品最大高度為270mm。
● 全手動樣品臺:XYZ三軸手動控制,可接納的樣品最大高度為356mm。
可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。 ========================================天友利標準光源有限公司國際網(wǎng)站:http://www.tayole.com在線銷售:http://www.toyok.cn深圳:0755-27195123 手機:13902929627上海:021-64601150 北京:010-69291666蘇州:0512-82155192 杭州:0571-86726516
北京MTE130A/B便攜式手持涂層測厚儀儀器采用磁性、渦流兩種測厚方法,可無損傷地檢測磁性金屬基鐵(如:鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如:鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)本儀器廣泛地應(yīng)用于一切金屬表面涂層。
二、產(chǎn)品特點
便攜設(shè)計,手掌大小 | 采用高速的DSP芯片,具有快速的測量能力 |
人性化設(shè)計,簡單操作 | 在雙用探頭時自動識別鐵基和非鐵基材質(zhì),無需手動轉(zhuǎn)換 |
寬角度LCD液晶顯示 | 兩種校準方式,零點校準和二點校準 |
公制和英制單位轉(zhuǎn)換 | 操作過程有蜂鳴聲提示 |
具有電源欠電壓提示 | 具有自動關(guān)機功能 |
三、參數(shù)規(guī)格
測量范圍:0-1500um | 測量精誤差:±(1.5+3%H) |
工作電源:兩節(jié)五號電池 | 環(huán)境溫度:0-40℃ |
相對濕度:≤85% | 最小曲率凸:5mm;凹5mm |
最小基體:10*10mm | 重量:240克(含電池) |
最薄基體:0.4mm | 尺寸150mm*74mm*32mm |
MTE130A 磁感應(yīng)涂層測厚儀
MTE130B磁感應(yīng)、渦流兩用涂層測厚儀
產(chǎn)品說明: | TT230本儀器是一種超小型的測量儀,它能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小,測頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場測量。主要功能 可進行零點校準及二點校準。 可對測頭進行基本校準! ≡O(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(shù)(NO)、標準偏差(S.DEV)?纱尜A和統(tǒng)計計算15個測量值! 【哂袃煞N測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)! ∽詣雨P(guān)機功能! h除功能:對測量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進行新的測量! 〔僮鬟^程有蜂鳴聲提示。 有欠壓指示功能。 有錯誤提示功能。主要技術(shù)指標 測量原理:渦流法 測量范圍:1~1250μm 測量精度:±(3%H+1.5)μm(零點校準) ±[(1~3)%H+1.5] μm(二點校準) |
技術(shù)參數(shù):
規(guī)格、重量 HC-HD90一體式樓板測厚儀
應(yīng)用領(lǐng)域 HC-HD90一體式樓板測厚儀主要用于混凝土結(jié)構(gòu)(樓板等)或其它非磁體介質(zhì)的厚度測量
符合標準
GB50204-2002《混凝土結(jié)構(gòu)工程施工質(zhì)量驗收規(guī)范》
產(chǎn)品特點
實時定位,實時顯示發(fā)射探頭位置,通過方向指示實現(xiàn)快速定位;
操作簡便;
實時顯示測量數(shù)值,自動鎖定真實厚度;
主機帶有輪胎,減少儀器磨損;
具有存儲、瀏覽、刪除等功能,可存1000個構(gòu)件或者22萬測點;
USB數(shù)據(jù)傳輸,可將存儲數(shù)據(jù)通過USB線上傳到計算機;
PC機專業(yè)數(shù)據(jù)分析軟件,數(shù)據(jù)處理及報告生成輕松完成;
2.8寸高分辨率彩色液晶屏(320x240像素);
主機一體式設(shè)計,體積小巧,重量輕,方便攜帶。
方向指示范圍
X方向 0.2~1.5m
Y方向 0.2~1.2m
測量精度
20-250±1mm
251-400±2mm
401-600±3mm
601-850±6mm
數(shù)據(jù)存儲容量 1000個構(gòu)件和220000測點
主機供電 內(nèi)置大容量鋰電池可工作24小時
探頭供電 內(nèi)置大容量鋰電池可工作64小時
操作界面 HC-HD90一體式樓板測厚儀
分析軟件 HC-HD90一體式樓板測厚儀
產(chǎn)品配置 HC-HD90一體式樓板測厚儀
技術(shù)參數(shù):執(zhí)行標準:GB/T1764-79,GB/T134522-92ISO2808-74測量范圍:0-500μm測量精度:40μm以下+/-2,40μm以上+/-5% |
X-strata960X射線熒光鍍層厚度測量儀
基于25年涂鍍層測量經(jīng)驗,在CMI900系列測厚儀的堅實基礎(chǔ)上,引進的設(shè)計:
•;新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度,同時減少50%測量時間
•;更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器,可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置,同時提供更高精度的Y軸控制。
•;距離獨立測量(DIM) - 更靈活地特殊形狀樣品,可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm(0.5-3.5inch)對樣品表面進行測量,Z軸可控制范圍為230mm(9inch)?赏ㄟ^手動調(diào)整也可以通過自動鐳射聚焦來實現(xiàn)對樣品的精確對準。
•;自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離,改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現(xiàn)性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
•;的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室(580x510x230mm : 23x20x9inch),開槽式設(shè)計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。
•;3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制(250x250mm或10x10英寸)/固定樣品臺;標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。
•;內(nèi)置PC用戶界面
X-Strata 960測厚儀
主要應(yīng)用領(lǐng)域:
用于高精度要求的別測厚儀
電路板/半導(dǎo)體/連接器端子/五金貴金屬電鍍
(如1.0uinch Au,Ag…)
主要特點:
X-Strata 960 X熒光射線測厚儀,可快速測定各種材料構(gòu)成
的多層鍍層厚度和元素組成。長壽命100瓦微焦點X射線管
(其它測厚儀為50瓦)。提高30%分析精度和減少50%的分
析時間三種樣品臺可供選擇:程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm;
手動XY軸:250 x 250mm+230mm程控Z軸;固定位置樣品臺,
最大高度230 mm更小準直器,測量更小區(qū)域:最小直徑15um
圓形準直器,20x/80xCCD圖像放大倍數(shù)自由距離測量DIM:
更靈活地測量不規(guī)則樣品(凹凸),在12.5~102mm自由聚
焦范圍內(nèi)可聚焦樣品表面任意測量點。并有自動雷射
聚焦功能 一體機工作站式設(shè)計,簡化設(shè)備安裝,減少占用
空間。
儀器介紹:
960系列 X射線熒光測厚儀樣品臺采用箱體式設(shè)計‘能
測量多種幾何形體、各種尺寸的樣品’,測定方法滿足
ISO3497、 ASTM B568和DIN 50987
技術(shù)參數(shù):
元素范圍: Ti22 – U92 同時分析層數(shù)和元素定量:5層
(4層+基體);最多同時15種元素定量
X射線激發(fā):100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管
(可選鉬靶X射線管)
X射線檢測: Xe封氣正比計數(shù)器,可最多裝備3種二次
濾光片
準直器: 最多4種,多種規(guī)格備選樣品形態(tài): 電鍍、
涂鍍、薄膜、合金、液體、等等
數(shù)字脈沖處理器:4096通道數(shù)字多道分析器,包含自動
波譜校正和Pulse Pile Rejection功能
CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch
電源: 85-130V或者215-265V、頻率47-63Hz
工作環(huán)境: 10-40℃、相對濕度小于98%,無冷凝水
樣品臺移動量: 程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm; 手
動XY軸:250 x 250mm+230mm程控Z軸
儀器尺寸:H744 x W686 x D813
重量: 160公斤
GALVANOTEST庫侖鍍層測厚儀的介紹:
1. 可測實際應(yīng)用的所有鍍層
2. 利用庫侖電量分析原理,測量鍍層、多層鍍層
3. 符合國際標準:DIN EN ISO 2177
GALVANOTEST 可以測量
70種以上鍍層/基體組合
預(yù)置9種金屬的測量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。
從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。