便攜式四探針電阻率測試儀 型號:CN61M251813 | |
概述 便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規(guī)定設計。 它主要由電器測量部份(主機)及四探頭組成,需要時可加配測試架。 為減小體積,本儀器用同一塊數字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供,隨時可進行校準,以確保電阻率測量的度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產品檢測。對1~100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不超過±3%,在此范圍內達到國家標準一級機的水平。 測量范圍: 可測量 電阻率:0.01~199.9Ω•cm。 可測方塊電阻:0.1~1999Ω/口 當被測材料電阻率≥200Ω•cm數字表顯示0.00。 (2)恒流源: 輸出電流:DC 0.1mA~10mA分兩檔 10mA量程:0.1~1mA 連續(xù)可調 10mA量程:1mA ~10mA連續(xù)可調 恒流精度:各檔均優(yōu)于±0.1% 適合測量各種厚度的硅片 (3) 直流數字電壓表 測量范圍:0~199.9mv 靈敏度:100μv 度:0.2%(±2個字) (4) 供電電源: AC:220V ±10% 50/60HZ 功率8W (5) 使用環(huán)境: 相對濕度≤80% (6) 重量、體積 重量:2.2 公斤 體積:寬210×高100×深240(mm) (7)KD探針頭 壓痕直徑:30/50μm 間距:1.00mm 探針合力:8±1N 針材:TC |
1.方塊電阻范圍:10-5~2×105Ω/□
2.電阻率范圍:10-6×106cm
3.測試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
4.電流精度:±0.1%讀數
5.電阻精度:≤0.3%
6.顯示讀數:液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W
9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)
10. 最高溫度: 1200℃可調節(jié);沖溫值:≤1-3℃;控溫精度:±1°C
11、升溫速度:9999分鐘以內自由設定,一般10分鐘內即可升到900℃;功率:3kw.
12、爐膛材料:采用復合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征。
13.專用測試PC軟件一套,USB通訊接口,軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數據!
14.選購:電腦和打印機供應高溫四探針電阻率測試系統
采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫試驗箱結合配置專用的高溫測試探針治具,滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求,通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導率數據的變化曲線,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
廣泛用于:生產企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據.
供應高溫四探針電阻率測試系統
三、功能介紹:液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動生成報表;
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
供應高溫四探針電阻率測試系統
一、概述:
采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫試驗箱結合配置專用的高溫測試探針治具,滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求,通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導率數據的變化曲線,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
二、適用行業(yè):
廣泛用于:生產企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據.
三、功能介紹:液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動生成報表;
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
四、技術參數資料
1.方塊電阻范圍:10-4~2×105Ω/□
2.電阻率范圍:10-5×106cm
3.測試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
4.電流精度:±0.1%讀數
5.電阻精度:≤0.3%
6.顯示讀數:液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W
9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)
10. 最高溫度: 1200℃可調節(jié);沖溫值:≤1-3℃;控溫精度:±1°C
11、升溫速度:9999分鐘以內自由設定,一般10分鐘內即可升到900℃;功率:3kw.
12、爐膛材料:采用復合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征。
13.專用測試PC軟件一套,USB通訊接口,軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數據!
14.選購:電腦和打印機
便攜式四探針電阻率測試儀 便攜式四探針電阻率檢測儀
型號:DL04-KDY-1A
概述
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規(guī)定設計。
它主要由電器測量部份(主機)及四探頭組成,需要時可加配測試架。
為減小體積,本儀器用同塊數字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供,隨時可進行校準,以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產品檢測。對1~100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不超過±3%,在此范圍內達到國家標準級機的水平。
測量范圍:
可測量 電阻率:0.01~199.9Ω•cm。
可測方塊電阻:0.1~1999Ω/口
當被測材料電阻率≥200Ω•cm數字表顯示0.00。
(2)恒流源:
輸出電流:DC 0.1mA~10mA分兩檔
10mA量程:0.1~1mA 連續(xù)可調
10mA量程:1mA ~10mA連續(xù)可調
恒流精度:各檔均優(yōu)于±0.1%
適合測量各種厚度的硅片
(3) 直流數字電壓表
測量范圍:0~199.9mv
靈敏度:100μv
準確度:0.2%(±2個字)
(4) 供電電源:
AC:220V ±10% 50/60HZ 功率8W
(5) 使用環(huán)境:
相對濕度≤80%
(6) 重量、體積
重量:2.2 公斤
體積:寬210×高100×深240(mm)
(7)KD探針頭
壓痕直徑:30/50μm
間距:1.00mm
探針合力:8±1N
針材:TC
四探針電阻率測試儀 方塊電阻測定儀
型號:SN/KDY-1
北京SN/KDY-1四探針電阻率測試儀工作原理是我公司嚴格按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設計制造,并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。
整套儀器有如下特點:
1、 北京SN/KDY-1四探針電阻率測試儀工作原理配有雙數字表:一塊數字表在測量顯示硅片電阻率的同時,另一塊數字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全過程中的電流變化,使操作更簡便,測量更精確。 數字電壓表量程:0—199.99mV 靈敏度:10μV 輸入阻抗:1000ΜΩ 0—9.999mV 靈敏度:1μV 輸入阻抗:10ΜΩ 基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)
2、 北京SN/KDY-1四探針電阻率測試儀工作原理可測電阻率范圍:0.001—6000Ω•cm。
3、 設有電壓表自動復零功能,當四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時,電壓表指零,只有1、4探針接觸到硅片,測量電流渡過單晶時,電壓表才指示2、3探針間的電壓(即電阻率)值,避免空間雜散電波對測量的干擾。
4、 流經硅片的測量電流由高度穩(wěn)定(萬分之幾精度)的特制恒流源提供,不受氣候條件的影響。 電流量程分五檔:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、 儀器采用觸點電阻更低(<5mΩ)、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器(>10萬次),在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數,提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、 可加配HQ-710E微處理機及打印機,實現自動換向測量、求平均值,計算并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內容。
7、 四探針頭采用國際上先進的紅寶石軸套導向結構,使探針的游移率減小,測量重復性提高(國家知識產權局已于2005.02.02授予專利權,專利號:ZL03274755.1)。
KDY-1型四探針電阻率測試儀是我公司嚴格按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設計制造,并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。
整套儀器有如下特點:
1、 配有雙數字表:一塊數字表在測量顯示硅片電阻率的同時,另一塊數字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全過程中的電流變化,使操作更簡便,測量更精確。 數字電壓表量程:0—199.99mV 靈敏度:10μV 輸入阻抗:1000ΜΩ 0—9.999mV 靈敏度:1μV 輸入阻抗:10ΜΩ 基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)
2、 可測電阻率范圍:0.001—6000Ω•cm。
3、 設有電壓表自動復零功能,當四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時,電壓表指零,只有1、4探針接觸到硅片,測量電流渡過單晶時,電壓表才指示2、3探針間的電壓(即電阻率)值,避免空間雜散電波對測量的干擾。
4、 流經硅片的測量電流由高度穩(wěn)定(萬分之幾精度)的特制恒流源提供,不受氣候條件的影響。 電流量程分五檔:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、 儀器采用觸點電阻更低(<5mΩ)、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器(>10萬次),在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數,提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、 可加配HQ-710E微處理機及打印機,實現自動換向測量、求平均值,計算并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內容。
7、 四探針頭采用國際上先進的紅寶石軸套導向結構,使探針的游移率減小,測量重復性提高(國家知識產權局已于2005.02.02授予專利權,專利號:ZL03274755.1)。
采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫試驗箱結合配置用的高溫測試探針治具,滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求,通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導率數據的變化曲線,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
應用域
高溫四探針電阻率測試儀廣泛用于:生產企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據.
產品特點高溫四探針電阻率測試儀液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動生成報表;
主要優(yōu)點采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.工作原理
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
參數規(guī)格高溫四探針電阻率測試儀
1.方塊電阻范圍:10-4~2×105Ω/□
2.電阻率范圍:10-5×106cm
3.測試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
4.電流精度:±0.1%讀數
5.電阻精度:≤0.3%
6.顯示讀數:液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W
9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)
10. 高溫度: 1200℃可調節(jié);沖溫值:≤1-3℃;控溫精度:±1°C
11、升溫速度:9999分鐘以內自由設定,一般10分鐘內即可升到900℃;功率:3kw.
12、爐膛材料:采用復合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征。
13.用測試PC軟件一套,USB通訊接口,軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數據!
14.選購:電腦和打印機
測試參數:電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
四探針電阻率測試儀,可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻,適用于半導體和太陽能材料測試的要求,也可對分立電阻進行測量。
測試參數:電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
四探針電阻率測試儀,可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻,適用于半導體和太陽能材料測試的要求,也可對分立電阻進行測量。
專用四端探針測試線!