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光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家

光伏測(cè)量?jī)x器
mdpinline 光伏測(cè)量?jī)x器,一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動(dòng)掃描硅晶片而設(shè)計(jì)的,它以每片不到一秒的時(shí)間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測(cè)光電導(dǎo)率定量測(cè)量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計(jì),mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時(shí)間:2025-02-14
光伏測(cè)量?jī)x器
mdpinline ingot 光伏測(cè)量?jī)x器,多晶形貌少子壽命測(cè)量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面,以1毫米的分辨率,無(wú)接觸、無(wú)破壞地測(cè)量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測(cè)爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng),以便測(cè)量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-02-14
在線壽命和電阻率逐行掃描儀
mdpinline ingot 光伏測(cè)量?jī)x器,多晶形貌少子壽命測(cè)量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面,以1毫米的分辨率,無(wú)接觸、無(wú)破壞地測(cè)量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測(cè)爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng),以便測(cè)量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-02-14
德國(guó)Sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)
德國(guó)sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測(cè)量?jī)x器的特征在于以1mm分辨率對(duì)500mm的一個(gè)面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測(cè)量完全無(wú)觸摸。利用微波檢測(cè)光電導(dǎo)率(mdp)同時(shí)測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。
更新時(shí)間:2025-02-14
自動(dòng)掃描薄膜測(cè)量?jī)x器
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動(dòng)大面積掃描儀器。自動(dòng)表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol,可以監(jiān)測(cè)大型玻璃基板上的沉積過(guò)程的均勻性,從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開(kāi)始生產(chǎn)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2025-02-14
德國(guó)Sentech光伏測(cè)量?jī)x
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測(cè)量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測(cè)沉積過(guò)程的穩(wěn)定性。由此,可以優(yōu)化維護(hù)時(shí)間間隔。
更新時(shí)間:2025-02-14
德國(guó)Sentech光伏測(cè)量?jī)x器
德國(guó)sentech光伏測(cè)量?jī)x器mdpspot,具有成本效益的臺(tái)式少子壽命測(cè)試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測(cè)量提供了一個(gè)測(cè)量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測(cè)量系統(tǒng),用于手動(dòng)操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品?蛇x的手動(dòng)操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測(cè)量結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-02-14
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測(cè)量是rt inline的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射,作為內(nèi)部參考測(cè)量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過(guò)程的在線監(jiān)測(cè)。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
更新時(shí)間:2025-02-14
ALD實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率,厚度,折射率),在短時(shí)間內(nèi)開(kāi)發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-02-14
光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀
本儀器由于采用窄帶頻率技術(shù),因而對(duì)信號(hào)諧波和直流漂移具有極的抑制能力。
更新時(shí)間:2025-02-14
作物株高測(cè)量?jī)x
稻麥株高測(cè)量?jī)x是托普云農(nóng)新推出的一款可以測(cè)量農(nóng)作物株高的自動(dòng)測(cè)量?jī)x器。該儀器采用拍照自動(dòng)識(shí)別技術(shù),可將稻麥,油菜等作物株高刻度數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)傳輸?shù)绞謾C(jī),通過(guò)電腦網(wǎng)頁(yè)或手機(jī)查看數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-02-14
便攜式玉米株高測(cè)量?jī)x
便攜式玉米株高測(cè)量?jī)x是一種便攜、快捷的玉米株高測(cè)量設(shè)備。該產(chǎn)品基于機(jī)器視覺(jué)技術(shù),利用攝像頭獲取玉米株高測(cè)量尺圖像,通過(guò)算法現(xiàn)場(chǎng)分析,實(shí)時(shí)獲取玉米株高數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-02-14
幾何光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀
驗(yàn)內(nèi)容 透鏡成像公式、自準(zhǔn)直法測(cè)透鏡焦距、共軛法( 貝塞爾法)測(cè)焦距。 透鏡的球差、色差、景深的觀察與測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-02-14
高精度光學(xué)轉(zhuǎn)速儀
光學(xué)測(cè)量情況下,您可使用dt319-74轉(zhuǎn)速測(cè)量?jī)x記錄旋轉(zhuǎn)物體的轉(zhuǎn)速有多少。例如您可檢查電機(jī),轉(zhuǎn)軸和風(fēng)扇是否正常運(yùn)行,是否因貨物超載造成任何的缺陷?對(duì)于轉(zhuǎn)速測(cè)量,將被測(cè)對(duì)象貼上反射貼,紅色光速對(duì)準(zhǔn)反射貼。開(kāi)始進(jìn)行測(cè)量(反射貼與被測(cè)物之間的距離不大于600mm)。轉(zhuǎn)速表可進(jìn)行單手操作。
更新時(shí)間:2025-02-14
德國(guó)Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀
德國(guó)optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀,用于測(cè)量管狀或平面太陽(yáng)能吸收涂層的定向熱發(fā)射度,其基礎(chǔ)是測(cè)量來(lái)自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時(shí)間:2025-02-14
德Optosol太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀
德optosol-k3 太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀,k3型發(fā)射率檢測(cè)儀由一個(gè)被加熱到70℃的發(fā)光體(作為熱輻射源)和三個(gè)對(duì)波長(zhǎng)在8-14μm范圍的光線敏感的探測(cè)器組成。 來(lái)自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測(cè)器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測(cè)量的是由樣品反射回來(lái)的輻射。
更新時(shí)間:2025-02-14
德國(guó)Optosol 太陽(yáng)能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x
optosol absorber control k1 太陽(yáng)能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x,
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó)OAI標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能模擬器
trisol aaa美國(guó)oai標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能模擬器,低成本,標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器提供高度準(zhǔn)直,均勻的光,幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽(yáng)光下長(zhǎng)時(shí)間或短時(shí)間的基本測(cè)試。根據(jù)配置,這些太陽(yáng)能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó)OAI太陽(yáng)能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國(guó)oai太陽(yáng)能模擬器,這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽(yáng)模擬器可以提供一個(gè)范圍的空氣質(zhì)量過(guò)濾器復(fù)制太陽(yáng)能模擬太陽(yáng)的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個(gè)廣泛的接觸區(qū)域。
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó) D&S 發(fā)射率測(cè)量?jī)x
美國(guó) d&s 發(fā)射率測(cè)量?jī)x ae1/rd1,是專門(mén)針對(duì)測(cè)量物體的輻射率設(shè)計(jì)的,ae1測(cè)量樣品最小直徑為2.25英寸(5.7cm)?蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測(cè)頭能使測(cè)量樣品最小直徑為1.0英(2.54cm),可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對(duì)小直徑圓柱形面樣品測(cè)量,可以測(cè)量平行放置的多個(gè)樣品。
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó)SONIX 晶圓檢測(cè)設(shè)備
美國(guó)sonix 晶圓檢測(cè)設(shè)備 autowafe pro.為全自動(dòng)晶圓檢測(cè)設(shè)計(jì)的機(jī)型,主要應(yīng)用在bond wafer,mems 內(nèi)部空洞、離層檢測(cè),tsv量測(cè)方面。
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó)泰克TEK Keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
美國(guó)泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ,加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀,提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-02-14
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ,非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來(lái)實(shí)現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計(jì), coreafm非常合理的實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時(shí)間:2025-02-14
韓國(guó)Ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
韓國(guó)ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)hms3000,hms5000,用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性,可以測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó) MMR 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
美國(guó) mmr 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) h5000,用于研究光電材料的電學(xué)特性,利用范德堡測(cè)量技術(shù)測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場(chǎng)三部分。
更新時(shí)間:2025-02-14
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)kup007,emp100c,emp100b,emp50s
更新時(shí)間:2025-02-14
德國(guó)Mecwins 掃描式激光分析儀
德國(guó)mecwins 掃描式激光分析儀scala,它是用激光入射掃描樣品表面,收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó)NANOVEA三維表面形貌儀
美國(guó)nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國(guó)際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù),可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試,具有測(cè)量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn),該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場(chǎng)使用。
更新時(shí)間:2025-02-14
德國(guó)YXLON 高分辨率X射線檢測(cè)設(shè)備
德國(guó) yxlon 高分辨率x射線檢測(cè)設(shè)備 y.cougar smt 平板探測(cè)器(標(biāo)配) y.cheetah 高速平板探測(cè)器(標(biāo)配)
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó)Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國(guó)royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó)Royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)
美國(guó)royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側(cè)面檢測(cè),可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó)RTI自動(dòng)特性圖示儀
美國(guó)rti自動(dòng)特性圖示儀 mt century curve tracer,是一個(gè)性價(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個(gè)channel,提供4種型號(hào)可供客戶選擇,mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣,mt century系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有與950系列的測(cè)試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時(shí)間:2025-02-14
德國(guó)Klocke Nanotech  3D納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x
德國(guó)klocke nanotech納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x3d nanofinger,是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測(cè)量設(shè)備。由臺(tái)架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測(cè)量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合,進(jìn)行在線檢測(cè)、質(zhì)量控制等。
更新時(shí)間:2025-02-14
日本A&D粒子計(jì)數(shù)器(粒度計(jì))
日本a&d粒子計(jì)數(shù)器(粒度計(jì))sv-1a,是使用點(diǎn)監(jiān)測(cè)的低成本替代設(shè)備,計(jì)數(shù)值高達(dá)2,000,000個(gè)粒子/ft.
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó)Filmetrics 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
美國(guó)filmetrics 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)f20,f30,f40,f50,f60,f3-xxt 系列,臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó) SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國(guó) sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求,更復(fù)雜元器件設(shè)計(jì)的新一代設(shè)備。echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動(dòng)判別缺陷,高產(chǎn)量,無(wú)需人員重復(fù)設(shè)置.
更新時(shí)間:2025-02-14
德國(guó)Bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀
德國(guó)bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進(jìn)而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
更新時(shí)間:2025-02-14
德國(guó)Bruker FT-NIR光譜儀
德國(guó)bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥,食品,農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時(shí)的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實(shí)用的替代方法。ft-nir無(wú)破壞性,不需要樣品制備或危險(xiǎn)化學(xué)品,使其定量和定性分析快速可靠。
更新時(shí)間:2025-02-14
德Bruker光學(xué)輪廓儀
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測(cè)系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時(shí)間:2025-02-14
德國(guó)Sentech 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率,厚度,折射率),在短時(shí)間內(nèi)開(kāi)發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó)OGP光學(xué)式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
美國(guó)ogp光學(xué)式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x zip 250 ,5:1 accucentric 電動(dòng)變焦透鏡,在每次放大變倍時(shí)自動(dòng)校準(zhǔn),可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時(shí)間:2025-02-14
接觸角測(cè)定儀
jy—pha接觸角測(cè)定儀,用于液體對(duì)固體的浸潤(rùn)性,通過(guò)測(cè)量液體對(duì)固體的接觸角、計(jì)算、測(cè)定液體對(duì)固體的附著力,張力及固體表面能等指標(biāo)。
更新時(shí)間:2025-02-14
接觸角測(cè)量?jī)x
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測(cè)量?jī)x,采用高性能日本原裝進(jìn)口工業(yè)機(jī)芯,工業(yè)級(jí)連續(xù)變倍顯微鏡,確保圖像的真實(shí)性,獲取最佳的成像效果。
更新時(shí)間:2025-02-14
美Associated 耐壓測(cè)試儀​
美associated 耐壓測(cè)試儀​hypotmax 7710 ,是一款12 kvdc hipot測(cè)試儀,用于為電纜、電線、線束和電氣元件測(cè)試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用,并為安全有效的測(cè)試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后,該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測(cè)系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2025-02-14
美Montana超精細(xì)多功能無(wú)液氦低溫光學(xué)恒溫器
montana 新型超精細(xì)多功能無(wú)液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動(dòng)和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動(dòng)化的控制軟件,簡(jiǎn)化了用戶的操作流程。
更新時(shí)間:2025-02-14
德國(guó)Attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場(chǎng)磁共振顯微鏡
德國(guó)attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場(chǎng)磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無(wú)磁性材料制備的高數(shù)值孔徑(na)共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來(lái)滿足odmr實(shí)驗(yàn)的需求。
更新時(shí)間:2025-02-14
美國(guó)sinton少子壽命測(cè)試儀
sinton少子壽命測(cè)試儀wct-120,suns-voc,硅片少子壽命測(cè)試系統(tǒng),采用了獨(dú)特的測(cè)量和分析技術(shù),包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測(cè)量方法。可靈敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。
更新時(shí)間:2025-02-14
布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測(cè)量需要
更新時(shí)間:2025-02-14
布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀,靈活的臺(tái)式表面形貌測(cè)量設(shè)備
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布魯克臺(tái)階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)設(shè)計(jì)創(chuàng)新,實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測(cè)量,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
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