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IB-19530CP日本JEOL截面樣品拋光儀

日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。

更新時(shí)間:2025-02-10

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

IB-19530CP日本JEOL截面樣品制備裝置

日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。

更新時(shí)間:2025-02-10

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過(guò)程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀(guān)察的全過(guò)程。

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該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

日本JEOL 軟X射線(xiàn)分析譜儀

日本jeol 軟x射線(xiàn)分析譜儀，通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線(xiàn)ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。和eds一樣可以并行檢測(cè)，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過(guò)了wds的能量分辨率。

更新時(shí)間:2025-02-10

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

JXA-iHP100日本JEOL 電子探針顯微分析儀

日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線(xiàn)探測(cè)器，組合使用wds和eds，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。

更新時(shí)間:2025-02-10

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JIB-4000日本JEOL 聚焦離子束加工觀(guān)察系統(tǒng)

日本jeol 聚焦離子束加工觀(guān)察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對(duì)樣品表面進(jìn)行sim觀(guān)察、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀(guān)察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過(guò)與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評(píng)估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。

更新時(shí)間:2025-02-10

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JIB-4700F日本JEOL 雙束加工觀(guān)察系統(tǒng)

日本jeol 雙束加工觀(guān)察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測(cè)器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒(méi)式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀(guān)察和高速分析。

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JSX-1000S日本JEOL 能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀

日本jeol 能量色散型x射線(xiàn)熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線(xiàn)法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。

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HV-THz-neaSNOM德Neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡

德neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國(guó)neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì)，采用專(zhuān)利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì)，完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測(cè)量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時(shí)，由于采用0.1-3thz波段的時(shí)域太赫茲光源（thz-tds），也可以實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)太赫茲成像和圖譜的同時(shí)測(cè)量。

更新時(shí)間:2025-02-10

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THz-NeaSNOM太赫茲近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡

thz-neasnom太赫茲近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號(hào)空間分辨率

更新時(shí)間:2025-02-10

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JSM-IT800SHL日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

jsm-it800shl 是日本電子株式會(huì)社（jeol） 2020 年新推出的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時(shí)將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀(guān)察都可以同時(shí)完成，而且標(biāo)配 jeol 新開(kāi)發(fā)的 neo

更新時(shí)間:2025-02-10

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

SEM掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡

sem掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來(lái)觀(guān)測(cè)及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽(yáng)能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷。

更新時(shí)間:2025-02-10

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：上海雋思實(shí)驗(yàn)儀器有限公司

TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀(guān)察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀(guān)察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。

更新時(shí)間:2025-02-08

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州佐藤精密儀器有限公司

FlexSEM1000 II供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡

flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器，可以觀(guān)察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀(guān)察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀(guān)察任務(wù)。

更新時(shí)間:2025-02-08

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州佐藤精密儀器有限公司

SU9000供應(yīng)日立SU9000新型超高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。特點(diǎn)： 1. 新型

更新時(shí)間:2025-02-08

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州佐藤精密儀器有限公司

S-3400N供應(yīng)蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡

s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開(kāi)發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，強(qiáng)大的自動(dòng)化功能，操作更簡(jiǎn)易。特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動(dòng)功能，包括自動(dòng)燈絲飽和、4偏壓、自動(dòng)槍對(duì)中、自動(dòng)束流設(shè)定、自動(dòng)合軸自動(dòng)聚焦和消像散、自動(dòng)亮度對(duì)比度等。 2. 在3kv低加速電壓時(shí)

更新時(shí)間:2025-02-08

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州佐藤精密儀器有限公司

S-3700N供應(yīng)蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡

s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀(guān)察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀(guān)察110mm高樣品時(shí)可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺(tái)可以?xún)A

更新時(shí)間:2025-02-08

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州佐藤精密儀器有限公司

TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀(guān)察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀(guān)察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。

更新時(shí)間:2025-02-08

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司吳江銷(xiāo)售中心

陰極發(fā)射體

陰極/發(fā)射器既有標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，也有定制設(shè)計(jì)，應(yīng)用包括電子顯微鏡、光刻、x射線(xiàn)生成、自由電子激光器、電子加速器等。

更新時(shí)間:2025-02-08

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：上海昊量光電設(shè)備有限公司

TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀(guān)察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀(guān)察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。

更新時(shí)間:2025-02-08

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司

FlexSEM1000 II供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡

flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器，可以觀(guān)察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀(guān)察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀(guān)察任務(wù)。

更新時(shí)間:2025-02-08

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司

Phenom G6 pureFEI臺(tái)式掃描電鏡Phenom飛納標(biāo)準(zhǔn)版

第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀(guān)察亞微米樣品的微觀(guān)結(jié)構(gòu)。pure 具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀(guān)看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)，適用于傳統(tǒng)大電鏡待測(cè)樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無(wú)法滿(mǎn)足需求的客戶(hù)。

更新時(shí)間:2025-02-06