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比表面及孔徑分布分析儀產(chǎn)品及廠家

活性碳全自動(dòng)比表面積及孔徑測(cè)試儀
貝士德公司從2000年開始生產(chǎn)活性碳全自動(dòng)比表面積及孔徑測(cè)試儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式比表面及孔徑分析儀
3h-2000ps4型多站式比表面及孔徑分析儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
BJH介孔孔徑分析儀
3h-2000ps2型bjh介孔孔徑分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
BJH介孔孔徑測(cè)試儀
3h-2000ps2型bjh介孔孔徑測(cè)試儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
BJH介孔孔徑測(cè)定儀
3h-2000ps2型bjh介孔孔徑測(cè)定儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
BJH介孔孔徑測(cè)量?jī)x
3h-2000ps2型bjh介孔孔徑測(cè)量?jī)x,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
BJH介孔孔徑檢測(cè)儀
3h-2000ps2型bjh介孔孔徑檢測(cè)儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
全自動(dòng)超微孔比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm1高性能全自動(dòng)超微孔比表面及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶
更新時(shí)間:2025-02-13
全自動(dòng)超微孔BET比表面分析儀
3h-2000pm1高性能全自動(dòng)超微孔bet比表面分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式孔徑分析儀
3h-2000ps4型多站式孔徑分析儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式孔徑測(cè)試儀
3h-2000ps4型多站式孔徑測(cè)試儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式孔徑測(cè)量?jī)x
3h-2000ps4型多站式孔徑測(cè)量?jī)x,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式孔徑測(cè)定儀
3h-2000ps4型多站式孔徑測(cè)定儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式孔徑檢測(cè)儀
3h-2000ps4型多站式孔徑檢測(cè)儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式BET及孔徑檢測(cè)儀
3h-2000ps4型多站式bet及孔徑檢測(cè)儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式BET及孔徑測(cè)定儀
3h-2000ps4型多站式bet及孔徑測(cè)定儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式BET及孔徑測(cè)量?jī)x
3h-2000ps4型多站式bet及孔徑測(cè)量?jī)x,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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多站式BET及孔徑測(cè)試儀
3h-2000ps4型多站式bet及孔徑測(cè)試儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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多站式BET及孔徑分析儀
3h-2000ps4型多站式bet及孔徑分析儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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多站式BET比表面及孔徑分析儀
3h-2000ps4型多站式bet比表面及孔徑分析儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式BET比表面及孔徑測(cè)試儀
3h-2000ps4型多站式bet比表面及孔徑測(cè)試儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式BET比表面及孔徑測(cè)量?jī)x
3h-2000ps4型多站式bet比表面及孔徑測(cè)量?jī)x,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式BET比表面及孔徑測(cè)定儀
3h-2000ps4型多站式bet比表面及孔徑測(cè)定儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式BET比表面及孔徑檢測(cè)儀
3h-2000ps4型多站式bet比表面及孔徑檢測(cè)儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式BET比表面積及孔徑檢測(cè)儀
3h-2000ps4型多站式bet比表面積及孔徑檢測(cè)儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式BET比表面積及孔徑測(cè)定儀
3h-2000ps4型多站式bet比表面積及孔徑測(cè)定儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式BET比表面積及孔徑測(cè)量?jī)x
3h-2000ps4型多站式bet比表面積及孔徑測(cè)量?jī)x,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式BET比表面積及孔徑測(cè)試儀
3h-2000ps4型多站式bet比表面積及孔徑測(cè)試儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
多站式BET比表面積及孔徑分析儀
3h-2000ps4型多站式bet比表面積及孔徑分析儀,具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
BET分析儀
3h-2000ps2型bet分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
BET測(cè)試儀
3h-2000ps2型bet測(cè)試儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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BET測(cè)量?jī)x
3h-2000ps2型bet測(cè)量?jī)x,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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BET測(cè)定儀
3h-2000ps2型bet測(cè)定儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
BET檢測(cè)儀
3h-2000ps2型bet檢測(cè)儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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全自動(dòng)BET分析儀
3h-2000ps2型全自動(dòng)bet分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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全自動(dòng)bet測(cè)試儀
3h-2000ps2型全自動(dòng)bet測(cè)試儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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全自動(dòng)BET測(cè)量?jī)x
3h-2000ps2型全自動(dòng)bet測(cè)量?jī)x,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
全自動(dòng)BET測(cè)定儀
3h-2000ps2型全自動(dòng)bet測(cè)定儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
全自動(dòng)BET檢測(cè)儀
3h-2000ps2型全自動(dòng)bet檢測(cè)儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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孔隙度檢測(cè)儀
3h-2000ps2型孔隙度檢測(cè)儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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孔隙度分析儀
3h-2000ps2型孔隙度分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
孔隙度測(cè)試儀
3h-2000ps2型孔隙度測(cè)試儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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孔隙度測(cè)量?jī)x
3h-2000ps2型孔隙度測(cè)量?jī)x,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-02-13
孔隙度測(cè)定儀
3h-2000ps2型孔隙度測(cè)定儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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高壓氣體吸附儀
3h-2000ph高壓氣體吸附儀屬于研究級(jí)儀器,專門針對(duì)測(cè)試煤炭,儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制,可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量,吸附常數(shù),尤其是解吸速度等參數(shù),適用于煤層氣,儲(chǔ)氫材料吸附,瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-02-13
高壓氣體吸附分析儀
3h-2000ph高壓氣體吸附分析儀屬于研究級(jí)儀器,專門針對(duì)測(cè)試煤炭,儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制,可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量,吸附常數(shù),尤其是解吸速度等參數(shù),適用于煤層氣,儲(chǔ)氫材料吸附,瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
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高壓氣體吸附測(cè)試儀
3h-2000ph高壓氣體吸附測(cè)試儀屬于研究級(jí)儀器,專門針對(duì)測(cè)試煤炭,儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制,可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量,吸附常數(shù),尤其是解吸速度等參數(shù),適用于煤層氣,儲(chǔ)氫材料吸附,瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-02-13
高壓氣體吸附測(cè)量?jī)x
3h-2000ph高壓氣體吸附測(cè)量?jī)x屬于研究級(jí)儀器,專門針對(duì)測(cè)試煤炭,儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制,可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量,吸附常數(shù),尤其是解吸速度等參數(shù),適用于煤層氣,儲(chǔ)氫材料吸附,瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
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高壓氣體吸附測(cè)定儀
3h-2000ph高壓氣體吸附測(cè)定儀屬于研究級(jí)儀器,專門針對(duì)測(cè)試煤炭,儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制,可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量,吸附常數(shù),尤其是解吸速度等參數(shù),適用于煤層氣,儲(chǔ)氫材料吸附,瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
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高壓氣體吸附檢測(cè)儀
3h-2000ph高壓氣體吸附檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器,專門針對(duì)測(cè)試煤炭,儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制,可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量,吸附常數(shù),尤其是解吸速度等參數(shù),適用于煤層氣,儲(chǔ)氫材料吸附,瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
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